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[发明专利]一种测试向量生成方法-CN202110576360.6有效
发明人：刘鹏;张晓峰;赵月明;季晓燕;孙宇凯;岳红维;王君从;田爱国;戴强;崔海龙;沈贵元;胡美玲 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十四研究所
申请日： 2021-05-26 - 公布日： 2022-06-21 - 主分类号： G01R31/3183 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试向量生成方法，属于电路测试技术领域。本发明基于电路仿真数据和测试仪器硬件，采用对数据逐周期提取再合并的方式生成测试向量。该方法主要由待测电路仿真、确定向量周期、逐点提取数据、合并向量数据和生成时序文件步骤组成，最终由向量数据和时序文件组成测试向量。本方法既可以实现任意数量通道上信号任意速率的向量转换，又可以省却VCD文件生成和VCD文件转换成测试向量这两个过程，提高了向量生成效率、数据测试能力和测试灵活性。
一种测试向量生成方法

[发明专利]实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法-CN202010757710.4在审
发明人：李亚菲;华纯;华晶;刘欣洁 -专利权人：华润微集成电路（无锡）有限公司
申请日： 2020-07-31 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种实现可快速测试的存储器内建自测试系统，包括测试控制电路模块，接收外部的测试使能信号bist_en，用于控制测试电路的运转；测试向量选择电路模块用于根据测试向量选择信号pattern_sel选择一个或多个测试向量进行测试；测试向量产生电路模块用于产生测试向量；响应分析电路模块用于比较存储器中读取的数值与测试向量。本发明还涉及一种实现可快速测试的存储器内建自测试方法。采用了本发明的实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法，对于其它存储器及算法同样适用，根据特定的存储器故障选择一个或多个不同的测试向量，不同的存储器故障可以选择不同的测试向量，适用于不同的存储器及算法
实现快速测试存储器系统及其方法

[发明专利]实现冗余功能存储器芯片测试的方法-CN201610086766.5有效
发明人：朱渊源 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2016-02-16 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种实现冗余功能存储器芯片测试的方法，其把存储器芯片主区域测试向量按最小冗余单元进行分割，做成子测试向量组；针对每个测试项目分别运行子测试向量组，读出子测试向量组的每个向量的测试结果；把失效向量的序号换算成失效单元地址存放在内存变量中，不同测试项目的子测试向量组测试出的失效单元地址存放在不同的内存变量中，并累积计算每个测试项目的失效单元个数及地址；根据每个测试项目的失效单元个数及地址，统计得出存储器芯片主区域失效单元数的总和以及失效地址本发明的实现冗余功能存储器芯片测试的方法，可以利用自带数字向量发生器的数字测试机实现和存储器测试机相同的冗余功能存储器芯片测试，降低测试成本。
实现冗余功能存储器芯片测试方法

[发明专利]一种基于特征自降维标记的整车云测试数据在线封装方法-CN202110430709.5有效
发明人：王跃飞;王志;王超;王凯琳;王天翔;杜家胜 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： H04L67/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于特征自降维标记的整车云测试数据在线封装方法，是在整车云测试服务端实时截取多源测试数据流，建立广义高阶瞬态数据矩阵；通过构建特征自降维网络进行数据空间维度变换，获得低阶数据特征矩阵；在此基础上利用余弦相似性辨识与归一化处理自动标记低阶数据特征矩阵中每个特征向量；最终将标记符号与对应的特征向量进行封装，构建具有标记特征的结构化数据包输出。本发明能够高效实现整车云测试多源数据的自我降维压缩以及异常数据的标识，降低数据传输带宽和存储空间的占用，为整车测试的云端化、智能化提供了重要手段。
一种基于特征标记整车测试数据在线封装方法

[发明专利]移动目标图像压缩采样及重构方法-CN201810092969.4有效
发明人：查长军;桂金瑶;李瑶;张倩;段慧敏;郑娟;顾涓涓;汪圣杰 -专利权人：合肥学院
申请日： 2018-01-31 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： H04N7/18 文献下载
摘要：一种移动目标图像压缩采样及重构方法，移动目标图像压缩采样包括：利用线性阵列传感器获取移动目标的信息；利用测量矩阵对所获取的移动目标的图像进行压缩采样得到压缩测量向量，其特征在于，对压缩测量向量进行预处理去除重复的测量向量得到有效向量并进行存储，其特征在于，在线性阵列传感器获得压缩测量向量后，先对测量向量进行预处理去除重复的测量向量得到有效向量，然后利用有效向量重构移动目标图像。
移动目标图像压缩采样方法

[发明专利]基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质-CN201910902225.9有效
发明人：刘超;孙阳;余景亮 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2019-09-23 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质。所述基于测试对象的测试向量生成方法包括：根据测试对象获取一个或多个测试文件；对所述测试文件进行处理得到待输出数据；利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量基于本发明的技术方案，提高了测试向量的生成效率，并且生成的测试向量的可读性高，便于测试向量的在线调试。
基于测试对象向量生成方法存储介质

[发明专利]一种文本数据分析方法、装置、服务器和存储介质-CN201711346218.2有效
发明人：谢永恒;刘忠松;火一莽;万月亮 -专利权人：北京锐安科技有限公司
申请日： 2017-12-15 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： G06F16/35 文献下载
摘要：本发明公开了一种文本数据分析方法、装置、服务器和存储介质，该方法包括：对预先确定的主题词进行扩展，确定主题词向量；根据所述主题词向量确定训练文本特征向量；根据所述主题词向量将待测试文本转换为测试文本特征向量；根据所述训练文本特征向量和测试文本特征向量对所述待测试文本进行分类。本发明实现了通过构建完备的主题词向量对训练文本特征向量和测试文本特征向量进行确定，并根据完备的主题词向量确定的特征向量对待测试文本进行分类，提高文本分类的准确度。
一种文本数据分析方法装置服务器存储介质

[发明专利]芯片测试方法、计算芯片和数据处理设备-CN202110307448.8在审
发明人：刘建波;陈默;范志军;郭海丰;杨作兴 -专利权人：深圳比特微电子科技有限公司
申请日： 2021-03-23 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开涉及一种芯片测试方法、计算芯片和数据处理设备。芯片测试方法包括：预先根据测试向量和测试随机值设置多个测试期望值，其中，测试向量包括传输到核中的第一测试向量以及在核中根据第一测试向量生成的第二测试向量，和/或测试随机值包括在核中生成的多个测试随机值；对测试向量和测试随机值进行测试运算，以生成多个测试结果值；和分别比较多个测试结果值与多个测试期望值中的相应的测试期望值，以生成核测试结果，其中，测试结果值与相应的测试期望值是根据相同的测试向量和相同的测试随机值生成的；以及根据多个核中的每个核的核测试结果，生成计算芯片的芯片测试结果。
芯片测试方法计算数据处理设备

[发明专利]基于CS和SVM决策级融合的SAR图像目标识别方法-CN201410328277.7有效
发明人：谷雨;张琴;彭冬亮;陈华杰 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2014-07-10 - 公布日： 2017-06-06 - 主分类号： G06K9/66 文献下载
摘要：本发明结合了压缩感知和支持向量机各自的优势，利用压缩感知的优化求解数据校正方位角，并对压缩感知和支持向量机的识别结果进行决策级融合。首先将SAR图像目标识别问题转化为稀疏信号恢复问题，基于恢复的稀疏系数分别获得目标分类结果和目标方位角估计，然后对测试图像进行姿态校正，利用支持向量机获取目标分类结果，最后将三者分类结果根据投票法进行决策级融合实验结果表明，在不进行姿态校正的情况下，基于压缩感知的目标识别算法与其它算法相比，显著提高了SAR图像变形目标识别的准确率；当样本数较少情况下，本发明显著提高了SAR变形目标的识别率。
基于 cs svm 决策融合 sar 图像目标识别方法

[发明专利]芯片测试中存储测试向量的方法-CN201110025304.X无效
发明人：黄新 -专利权人：苏州瀚瑞微电子有限公司
申请日： 2011-01-24 - 公布日： 2011-06-22 - 主分类号： G06F17/40 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片测试中存储测试向量的方法，其利用FPGA存储测试向量，通过将测试向量下载到存储器中并用寄存器记录各测试向量在存储器中的位置到达输出测试向量的目的。由于本发明利用了FPGA，而其本身通过编程就可实现存储器的功能和寄存器的功能以及地址控制器功能，所以为存储测试向量提供了空间。
芯片测试存储向量方法

[发明专利]用于生成测试向量的方法、电子设备和存储介质-CN202210217081.5在审
发明人：王乃行;王泽中;余航;黄宇 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-03-07 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本公开涉及一种用于生成测试向量的方法、电子设备和存储介质。用于生成测试向量的方法包括在测试向量生成的过程中，特别是在测试向量紧缩操作阶段中，检测经紧缩的中间测试包的测试功耗，并且对测试功耗高于阈值的测试包进行调整，可以使其满足功耗要求。这样，原本将在仿真阶段被丢弃的测试向量会因为在测试向量生成的过程中被调整而符合功耗要求，这可以显著提高测试包的利用率。因此在更多的测试向量被使用而不是被舍弃的情形下，可以针对更多的故障对测试电路进行检测，从而提高针对各种故障的测试覆盖率。
用于生成测试向量方法电子设备存储介质

[发明专利]一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法-CN202111407550.1在审
发明人：陈龙;解维坤;李荣杰;张凯虹;章慧彬;虞勇坚 -专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01R31/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种微系统芯片内部互联线故障快速测试方法，包括故障定位算法、微系统芯片测试板、ATE、测试机台程序，测试方法通过调用故障定位算法生成相应的配置向量和测试向量，同时基于ATE平台设计的测试机台程序调用配置向量对微系统芯片进行配置，包括如下步骤：按照待测微系统芯片需求焊接微系统芯片测试板；连接微系统芯片、微系统芯片测试板和测试机；依据微系统芯片互联测试算法生成配置向量和测试向量；测试机将配置向量通过JTAG接口烧写入内部芯片；测试机对管脚输入相应的信号；对比测试向量和响应向量是否一致进而判断芯片是否故障。本发明测试方法在不增加成本的基础上，将微系统芯片内部互联线故障精准定位并且能够快速实现。
一种系统芯片内部互联线故障快速测试方法

[发明专利]基于多源压缩感知的故障诊断方法-CN202010832363.7在审
发明人：袁航;宋乃龙;杨军营;游肖文;陈沛颍;翟龙曼 -专利权人：河南工业大学
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明实施例涉及故障诊断技术领域，具体涉及一种基于多源压缩感知的故障诊断方法，其包括步骤：S1、数据同步化、数据插值和数据归一化；S2、数据压缩与融合以构建出原始参考矩阵；S3、原始参考矩阵压缩；S4、测试样本压缩；S5、对所述参考矩阵使用批量匹配追踪算法进行稀疏向量计算；S6、测试样本重构与质量评价。本发明实施例的有益效果为：由于参考矩阵和多源感知数据都经过了压缩，大大降低了计算成本，同时，新提出的批量匹配跟踪算法比正交匹配跟踪(OMP)算法效率更高。
基于压缩感知故障诊断方法

[发明专利]基于多源压缩感知的故障诊断方法-CN202110927749.0在审
发明人：袁航;游祥龙;宋乃龙;杨军营;游肖文;陈沛颍;翟龙曼 -专利权人：河南工业大学
申请日： 2021-08-13 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明实施例涉及故障诊断技术领域，具体涉及一种基于多源压缩感知的故障诊断方法，其包括步骤：S1、数据同步化、数据插值和数据归一化；S2、数据压缩与融合以构建出原始参考矩阵；S3、原始参考矩阵压缩；S4、测试样本压缩；S5、对所述参考矩阵使用批量匹配追踪算法进行稀疏向量计算；S6、测试样本重构与质量评价。本发明实施例的有益效果为：由于参考矩阵和多源感知数据都经过了压缩，大大降低了计算成本，同时，新提出的批量匹配跟踪算法比正交匹配跟踪(OMP)算法效率更高。
基于压缩感知故障诊断方法

[发明专利]一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置-CN202110772402.3在审
发明人：菅陆田;李峰;曹伟;朱巍;宁永波 -专利权人：无锡江南计算技术研究所
申请日： 2021-07-08 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向异构众核处理器的芯片测试方法及装置，该方法包括识别待测异构众核处理器中的各控制核心和各运算核组；在各控制核心中装载相同的控制核心测试向量，并在各运算核心中装载相同的运算核心测试向量；获取待测异构众核处理器的设计频率，在测试环境中分别对所述控制核心测试向量与运算核心测试向量进行并行测试；基于两两比较运算核心测试向量的第一运算结果得到运算核心测试向量的第一测试结果，并基于控制核心测试向量的第二运算结果得到控制核心测试向量的第二测试结果后，合并第一测试结果与第二测试结果，得到最终测试结果。本发明实现了有效减少单片测试，降低测试成本，简化了异构众核处理器芯片的分类标准。
一种面向异构众核处理器芯片测试方法装置