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[实用新型]一种量测治具及量测装置-CN202223094547.1有效
发明人：李赛;蔡永;王立腾 -专利权人：日达智造科技（如皋）有限公司
申请日： 2022-11-22 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本实用新型属于量测技术领域，涉及一种量测治具，特别是一种量测治具及量测装置。它解决了现有产品在不同方位量测时因二次定位所导致的产品量测精准性问题。一种量测治具，具有若干产品定位穴位的治具板，治具板上设有位于每一产品定位穴位外围的至少一个测量避让通孔，测量避让通孔贯穿治具板的厚度方向，在治具板上还设有若干一一对应于产品定位穴位的弹性锁紧组件，以及治具板靠近产品定位穴位的产品放入口一侧的可拆定位挡块本申请优点：不仅解决了二次定位导致产品量测精准性问题，同时，可对多件产品进行定位处理，不仅提高了效率且保证后续产品装载位置的精准性。
一种量测治具装置

[实用新型]一种芯片双模组取放料装置-CN202120473039.0有效
发明人：吕波 -专利权人：珠海市科迪电子科技有限公司
申请日： 2021-03-04 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： B07C5/342 文献下载
摘要：本实用新型提供一种芯片双模组取放料装置，包括左取放料模组、右取放料模组、测试治具、供料单元、收料单元和第一CCD照相单元，供料单元用于提供待测料盘，待测料盘上放置有待测芯片，第一CCD照相单元设于待测料盘上方，第一CCD照相单元用于对待测料盘进行检测定位，左取放料模组根据第一CCD照相单元反馈的定位信息、对待测料盘上的待测芯片进行抓取、并将待测芯片放置在测试治具上，右取放料模组用于将测试治具上的待测芯片抓取并放置在收料单元上，测试治具数量为至少一个。当存在多个测试治具时，在一个测试治具正在测试时，即可利用左取放料模组向另外的测试治具放置芯片，多线程同时运行，芯片移料速率快，提高测试效率。
一种芯片双模组取放料装置

[发明专利]半导体测试治具及半导体产品的测试方法-CN202310188592.3在审
发明人：王坤;胡杰 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2023-02-27 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开提供了一种半导体测试治具及半导体产品的测试方法，半导体测试治具包括治具本体和限位组件，治具本体具有容置空间且能够绕预设轴线转动，限位组件设置于治具本体，限位组件用于在第一方向和第二方向上对待测样品进行限位固定，以使预设轴线贯穿待测样品的中心。本公开中，设置可调节的限位组件对待测样品进行限位，与相关技术中使用热熔胶粘接固定待测样品的方式相比，能够快速固定并调整待测样品的角度和位置；并且，限位组件还能够使得治具本体转动的预设轴线贯穿待测样品的中心，从而在治具本体绕预设主线转动过程中，待测样品能够处于成像位置的中间位置，进而可以使用更高的测试放大倍率，提高了测试精度。
半导体测试产品方法

[发明专利]一种自动电测机匹配的电测治具-CN201911066258.0在审
发明人：赵继伟;黄坚;陈妙芳 -专利权人：厦门弘信电子科技股份有限公司
申请日： 2019-11-04 - 公布日： 2020-01-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种自动电测机匹配的电测治具，包括上治具、下治具及产品载板，下治具的上端设置有下治具顶板，在下治具顶板的电测探针区域内设有多个电测凸模块、且电测探针贯穿外露在电测凸模块上方，多个电测凸模块依FPC拼板单次电测区域内的FPC单元产品所需电测的产品电测区对应位置设置；所述产品载板上开设有多个产品电测窗口，多个产品电测窗口依FPC拼板内所有FPC单元产品所需电测的产品电测区对应位置设置，在产品载板上设置有多个与FPC拼板的产品定位孔匹配的产品定位PIN，在产品载板的左右两侧开设有多个与自动电测机匹配的载板定位孔。本发明结构简单，易于实现，可提升产品电测准确率、提高电测生产效率。
电测治具产品载板凸模块匹配单元产品电测机电测区产品定位孔生产效率左右两侧上端外露定位孔上治具准确率次电载板贯穿

[实用新型]一种雷达自动生产线的气密性测试机-CN202020475758.1有效
发明人：陈浩文;曾乐平;刘百超 -专利权人：长沙莫之比智能科技有限公司
申请日： 2020-04-03 - 公布日： 2020-11-10 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明提供一种雷达自动生产线的气密性测试机，包括测漏模组、四轴取料模组，所述四轴取料模组将治具中产品取出放入测漏模组，所述测漏模组包括一组送料轨道以及一套压合治具，具体包括测漏上料位、送料轨道、测漏治具、测漏位、上模、压合气缸，所述测漏位先由送料轨道送至测漏上料位，所述四轴取料模组将抓取的产品放入测漏治具，所述四轴取料模组配置有CCD视觉系统准确将产品放入，然后测漏位返回，测漏位上方有配套的上模，压合气缸推动上模与测漏位压合，所述测漏治具四周设置密封圈，压合后测漏治具上下空间形成测漏环境，自动组装后的雷达成品送入所述气密性测试机进行防水等级检测。
一种雷达自动生产线气密性测试

[发明专利]一种线圈测试装置及方法-CN201110461275.1无效
发明人：郑益吉 -专利权人：台达电子工业股份有限公司
申请日： 2011-12-26 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G01R29/20 文献下载
摘要：线圈测试装置包含固定单元、金属治具以及参考线圈。固定单元用以固定待测线圈。金属治具配置固定于固定单元上，其中金属治具穿越待测线圈，用以感应待测线圈上的参考信号。参考线圈配置固定于固定单元上，且参考线圈被金属治具穿越，用以将金属治具所感应的待测线圈上的参考信号转换为输出信号。
一种线圈测试装置方法

[发明专利]一种测试产品焊接质量的方法-CN202110925411.1有效
发明人：胡振明;梁铁东 -专利权人：惠州丰采贵金属制造有限公司
申请日： 2021-08-12 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： B23K31/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试产品焊接质量的方法，其包括以下步骤：S1：将待测产品放置于包装盘中；S2：将产品治具倒扣至所述包装盘的上方；将所述包装盘与所述产品治具互换位置；S3：将装有待测产品的产品治具安装至定位载具之上；S4：启动电机；所述电机驱动顶针治具下压至顶针与待测产品抵接，然后，所述电机反转并驱动所述顶针治具上行至所述顶针脱离待测产品；所述电机驱动所述顶针治具下压以及上行的过程重复若干次；S5：将所述产品治具从所述定位载具中取出；挑选出不合格的产品后将所述产品治具放置于工作台之上；将所述包装盘倒扣至所述产品治具的上方；将所述产品治具与所述包装盘互换位置。
一种测试产品焊接质量方法

[实用新型]自动扭力测试机-CN202022251624.4有效
发明人：杨士纬 -专利权人：杨士纬
申请日： 2020-10-12 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G01L3/00 文献下载
摘要：本实用新型是一种自动扭力测试机，其包含有一底座、一扭力计、一第一治具、一旋转座、一第二治具、一延长件及一驱动装置。扭力计的扭力量测轴突出底座，扭力计量测施加于扭力量测轴的扭力。第一治具将待测物的第一区域固定于扭力量测轴；旋转座可转动地连接底座；第二治具固设旋转座，并具有可相对旋转座转动的二抵顶件；延长件固设待测物并穿设二抵顶件之间。驱动装置驱动旋转座而使第二治具环绕扭力量测轴移动，并经由第二治具及延长件而强制待测物扭转。借此，本实用新型可自动强制待测物扭转，使用时较省力，并且量测较准确。
自动扭力测试

[发明专利]一种通用型电测治具-CN202111381944.4在审
发明人：韩少华;戚胜利;杨媚莲;王健 -专利权人：上达电子（深圳）股份有限公司
申请日： 2021-11-22 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明属于印刷线路板电测治具技术领域，具体涉及一种通用型电测治具，主要包括带针治具和金属凸点式转接板，所述金属凸点式转接板的一端是与带针治具的线针电气接触连接的金属焊盘，另一端是与待测产品的测试焊盘电气接触连接金属凸点本发明提高了带针治具的通用性，无需对产品开制专用电测治具，缩短产品生产周期。相比于传统电测治具，金属凸点式转接板价格低廉，可大大降低产品的成本。本发明带针治具的线针可设计相对较大线心距和相对较粗的线针直径，降低带针治具的价格，且线针的加工工艺不再受限，可测量更为精细的线路。
一种通用型电测治具

[实用新型]一种治具可拆卸的线材测试装置-CN202222342216.9有效
发明人：朱靓 -专利权人：东莞市实优特电子有限公司
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G01R31/58 文献下载
摘要：本实用新型涉及线材测试技术领域，具体涉及一种治具可拆卸的线材测试装置，该测试装置包括机架，还包括测试组件、测试升降机构、安装治具以及测试治具，所述测试升降机构及测试治具均设置于机架，所述测试治具可拆卸设置于安装治具，所述测试组件位于测试治具的正上方；所述测试升降机构用于驱动测试组件上下升降以远离或靠近测试治具，所述测试治具用于放置待测线材，所述测试组件用于抵触位于测试治具的待测线材并对待测线材进行通电测试。本实用新型的目的在于提供一种治具可拆卸的线材测试装置，提供可拆卸的测试治具可实现在外放置线材，操作更加便利的同时能增加测试的效率。
一种可拆卸线材测试装置

[实用新型]电测设备-CN202120415017.9有效
发明人：曹诣;陈献纮 -专利权人：德律科技股份有限公司
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本揭露提供一种用以测试待测电路板的电测设备。电测设备包含下治具以及输送装置。输送装置包含承载板、驱动模块以及两轨道。驱动模块设置于承载板上。两轨道可动地支撑于承载板上，并配置以承载与输送待测电路板。驱动模块配置以独立地驱动两轨道移动，致使待测电路板移动于下治具上方。借此，当待测电路板为小板时，可采用小体积的下治具。并且，不论待测电路板是大板或小板，驱动模块可驱动两轨道相对于上治具置中，因此在压床模块驱动上治具下压时，不会造成上治具受力位置偏向其中一轨道而导致机台变形。
设备

[实用新型]一种非接触式光学平坦度量测仪安装治具-CN202120706847.7有效
发明人：王洁 -专利权人：福建华佳彩有限公司
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：本实用新型公开一种非接触式光学平坦度量测仪安装治具，感测头安装治具分为量测仪安装区域和治具安装区域；量测仪安装区域上设置有与量测仪适配的多个第一孔，且第一孔置于量测仪的连接机构上；治具安装区域上设置有多个第二孔；高度调整治具上设置有第四孔和第三孔组，每组第三孔组中包括多个第三孔，多个第三孔以行阵列排布；多组第三孔组对称设置于第四孔两侧；置于第四孔一侧的第三孔组与第二孔对应；机台定位治具与高度调整治具形成“T”子字型结构；机台定位治具侧面设置有第五孔，第四孔与第五孔螺纹连接；机台定位治具上还阵列设置有第六孔。一种非接触式光学平坦度量测仪安装治具的设置可以有效改善玻璃基板在载物台上的形变量。
一种接触光学平坦度量安装

[实用新型]一种测量系统辅助治具-CN201921417995.6有效
发明人：张廷力 -专利权人：捷西迪（广州）光学科技有限公司
申请日： 2019-08-28 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测量系统辅助治具，包括：量测部件、用于竖直支承放置被测物的辅助治具、用于调节所述辅助治具的测量选定位置的调节装置以及用于提供所述被测物的基准面中心与所述量测部件的光轴之间的相对位置信息的测试装置，所述量测部件可拆卸地设置于所述被测物的基准面上，所述辅助治具与所述调节装置相连接，所述测试装置设置于所述辅助治具的上方。相比于传统技术，本实用新型能够实时获取被测物的基准面测量平坦情况并根据实际情况来对应调节辅助治具的位置，可为被测物提供更佳的测量位置，从而减少测量误差，使被测物的加工及改善工序更加优化。
一种测量系统辅助

[发明专利]测试治具系统及其方法-CN202210967337.4在审
发明人：张珈华 -专利权人：环胜电子（深圳）有限公司
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试治具系统，包含治具、治具电路板、处理器以及断电感测组件。治具包含基座、上盖、底部及测试探针。上盖枢接于基座的上端，其中上盖用以盖合于基座上以闭合测试空间。测试探针设置于底部。断电感测组件包含一断电感测元件及一导电元件。其中，待测电路板放置于测试探针上，上盖盖合基座并下压待测电路板，使得待测电路板接触测试探针，当上盖处于一正常盖合状态时，处理器感应通电信号并使处理器供电至治具电路板；当上盖处于一非盖合状态，处理器未感应通电信号而停止供电至治具电路板本发明还涉及一种测试治具方法。
测试系统及其方法

[发明专利]设备测试系统-CN202210203706.2在审
发明人：朱金平 -专利权人：北京百度网讯科技有限公司
申请日： 2022-03-02 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本公开提供了一种设备测试系统，本公开涉及设备测的领域，具体涉及一种设备测试系统，该系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；每个测试治具与对应的待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接；处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号，基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。上述系统可以预先为每个待测模块配置对应的测试治具，以待测设备自身的处理器来自动执行针对各待测模块的测试流程，实现了待测设备的自动化测试过程，显著地提高了测试效率。
设备测试系统