专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种USB Type-C接口功能测试方法及系统-CN202211360975.6在审
  • 张珈华;林宗兴 - 环鸿电子(昆山)有限公司
  • 2022-11-02 - 2023-01-06 - G06F11/22
  • 本发明公开了一种USBType‑C接口功能测试方法及系统,其中系统包括:移动端、测试端和功能测试电路板,移动端、功能测试电路板和测试端依次连接;功能测试电路板包括:第一交换芯片;和第一交换芯片反向串接连接的第二交换芯片;用于控制Type‑C接口正面或反面与第一交换芯片的导通状态的控制端。与第一交换芯片的导通一面的通讯信号经第一交换芯片、第二交换芯片发送通讯信号至测试端,测试端对通讯信号进行测试。本系统通过功能测试电路板实现无需插拔即可完成Type‑C测试,节约测试员插拔Type‑C的时间,并且减少了测试员因手动操作过多导致的翻转错测试面等误操作,从而提高生产线判断Type‑C是否为良品的准确率。
  • 一种usbtype接口功能测试方法系统
  • [实用新型]测试治具系统-CN202222132697.0有效
  • 张珈华 - 环胜电子(深圳)有限公司
  • 2022-08-12 - 2022-11-29 - G01R31/28
  • 一种测试治具系统,包含治具、治具电路板、处理器以及断电感测组件。治具包含基座、上盖、底部及测试探针。上盖枢接于基座的上端,其中上盖用以盖合于基座上以闭合测试空间。测试探针设置于底部。断电感测组件包含一断电感测元件及一导电元件。其中,待测电路板放置于测试探针上,上盖盖合基座并下压待测电路板,使得待测电路板接触测试探针,当上盖处于一正常盖合状态时,处理器感应通电信号并使处理器供电至治具电路板;当上盖处于一非盖合状态,处理器未感应通电信号而停止供电至治具电路板。
  • 测试系统
  • [发明专利]测试治具系统及其方法-CN202210967337.4在审
  • 张珈华 - 环胜电子(深圳)有限公司
  • 2022-08-12 - 2022-10-18 - G01R31/28
  • 一种测试治具系统,包含治具、治具电路板、处理器以及断电感测组件。治具包含基座、上盖、底部及测试探针。上盖枢接于基座的上端,其中上盖用以盖合于基座上以闭合测试空间。测试探针设置于底部。断电感测组件包含一断电感测元件及一导电元件。其中,待测电路板放置于测试探针上,上盖盖合基座并下压待测电路板,使得待测电路板接触测试探针,当上盖处于一正常盖合状态时,处理器感应通电信号并使处理器供电至治具电路板;当上盖处于一非盖合状态,处理器未感应通电信号而停止供电至治具电路板。本发明还涉及一种测试治具方法。
  • 测试系统及其方法

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