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[发明专利]一种暗角缺陷消除方法、装置、设备和存储介质-CN201910537782.5在审
发明人：周志涛 -专利权人：浙江宇视科技有限公司
申请日： 2019-06-20 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种暗角缺陷消除方法、装置、设备和存储介质，其中，该方法包括：根据图像采集器采集的图像信息，确定所述图像采集器是否存在暗角缺陷；若所述图像采集器存在暗角缺陷，则移动所述图像采集器的取图中心位置，以消除缺陷。本发明实施例的技术方案，通过移动所述图像采集器的取图中心位置，以消除暗角缺陷，降低了图像采集器由于暗角缺陷存在而拆机重装的概率，节约了生产成本，提高了生产效率。
一种缺陷消除方法装置设备存储介质

[发明专利]一种显示屏脏污缺陷判定的方法和系统-CN202210413304.5有效
发明人：查世华;杨义禄;关玉萍;左右祥;曾磊;阙世林 -专利权人：中导光电设备股份有限公司
申请日： 2022-04-20 - 公布日： 2022-07-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示屏脏污缺陷判定的方法和系统，包括以下步骤：获取缺陷图像的分割阈值；获取所述缺陷图像的均值滤波图像；计算亮暗区的灰度均值差，确定缺陷的亮暗属性；根据所述缺陷的亮暗属性，获取缺陷特征参数；判定缺陷是否属于脏污。采用这样的处理方法结果较为可靠，本发明对类似显示屏脏污缺陷判定均适用。
一种显示屏脏污缺陷判定方法系统

[发明专利]一种表面缺陷检测方法及装置-CN201911075797.0有效
发明人：杨朝兴 -专利权人：合肥御微半导体技术有限公司
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种表面缺陷检测方法及装置，涉及表面检测技术，表面缺陷检测方法包括：采用显示屏作为发光光源，并使得所述显示屏依次显示多幅亮暗相间图案照射待测物体；收集所述待测物体在所述多幅亮暗相间图案照射下产生的发射光及散射光以获取多幅图像；根据所述多幅图像获取待测物体的表面缺陷；其中，所述亮暗相间图案中的亮图案作为表面缺陷检测的光源，且任意两幅亮暗相间图案中亮图案在显示屏中的位置不同。本发明提供一种表面缺陷检测方法及装置，以获取缺陷对比度增强的图像，提高表面缺陷的检出率。
一种表面缺陷检测方法装置

[发明专利]一种通过柔性压料板消除凹形翻边暗坑的方法-CN202210263976.2有效
发明人：冯岩;丛立国;高钰超;陈忠石;程保权;张志杰;吕高巍;陈望;李照;聂中岳 -专利权人：中国第一汽车股份有限公司;一汽模具制造有限公司
申请日： 2022-03-17 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： B23P6/00 文献下载
摘要：本发明涉及冷冲压模具技术领域，具体涉及一种通过柔性压料板消除凹形翻边暗坑的方法；步骤一，检查暗坑；步骤二，着色确认；步骤三，平衡块调整；步骤四，对暗坑区域凹形反补偿；步骤五，补偿后研修；步骤六，压制验证暗坑缺陷；步骤七，扫描研修后凸模；步骤八，按扫描数据优化数模；步骤九，激光熔覆缺陷处凸模；步骤十，按新数模机加熔覆区域；步骤十一，精研修及验证缺陷；目前行业内无使用柔性压料板解决凹形翻边暗坑的工艺方法，此方法基于柔性压料板的物理特性，以解决面品缺陷消除周期长，研配量值不可量化，消除缺陷不彻底，面品质量难以保证的问题，实现了通过柔性压料板消除凹形翻边缺陷的目的。
一种通过柔性压料板消除凹形翻边暗坑方法

[发明专利]铜连接孔刻蚀不足缺陷在线检测方法-CN201310495436.8有效
发明人：范荣伟;袁增艺;龙吟;倪棋梁;陈宏璘 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-10-21 - 公布日： 2014-05-21 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种铜连接孔刻蚀不足缺陷在线检测方法，用于在CMOS器件制备工艺中检测铜连接孔刻蚀不足缺陷，包括如下步骤：以电子束扫描仪扫描多枚CMOS器件表面区域，检测出各暗电压对比度缺陷区域，同时通过失效分析分别识别各暗电压对比度缺陷的类别，建立一暗电压对比度缺陷类别与缺陷区域图像灰度特征的对应关系；以电子束扫描仪扫描待检测CMOS器件一表面区域，确定有无暗电压对比度缺陷区域，若有，则提取该缺陷区域图像灰度特征；根据对应关系进一步识别该缺陷区域是否为铜连接孔刻蚀不足缺陷该方法可快速识别出CMOS器件中可能存在的铜连接孔刻蚀不足缺陷，其识别准确率高、检测速度快。
连接刻蚀不足缺陷在线检测方法

[发明专利]一种灰铸铁件实型铸造积碳缺陷的处理方法-CN202011491829.8在审
发明人：李晓江;韩玉娟 -专利权人：共赢装备制造有限公司
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： B22C9/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种灰铸铁件实型铸造积碳缺陷的处理方法，包括铸件，铸件上设置有直浇口、横浇口和内浇口，铸件上接触有暗冒口；暗冒口为扁片状暗冒口，暗冒口顶端面长为70mm，宽为35mm，暗冒口底端面长为70mm，宽为15mm，暗冒口高度为130mm，暗冒口前端面高度为70mm；每个暗冒口底部与铸件上部的接触面积为10.5平方厘米，在铸件上部每400平方厘米放置一个暗冒口，每个暗冒口重量为21kg。本发明具有通过添加暗冒口解决积碳缺陷，暗冒口排渣溢流效果提高，暗冒口使用贴水量下降的优点。
一种铸铁件实型铸造缺陷处理方法

[发明专利]故障信号生成电路-CN200610162502.X无效
发明人：河野英知;藤盛裕明;若杉纯 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2006-11-24 - 公布日： 2007-05-30 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：本发明的一个实施方式的故障信号生成电路具备：低通滤波电路，依照光盘的暗缺陷、明缺陷，接收信号电平从基准电平一方向高电平变化另一方向低电平变化的输入信号，输出与该输入信号相比时间常数长的低通滤波信号；计算电路，计算上述输入信号的电平和上述低通滤波信号的电平的差，输出第1计算值；缺陷判定电路，根据上述第1计算值的符号判定是暗缺陷还是明缺陷；故障检测判定电路，比较上述第1计算值的绝对值和第1基准值的绝对值，在上述第1计算值的绝对值大时，判定为检测出故障；以及输出电路，当在由上述缺陷判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是暗缺陷的情况下，输出表示检测出暗缺陷的故障的第1故障信号，当在由上述故障检测判定电路判定为检测出故障的同时，由上述缺陷判定电路判定为缺陷是明缺陷的情况下，输出表示检测出明缺陷的故障的第2故障信号。
故障信号生成电路

[发明专利]内窥镜系统以及像素校正方法-CN201480059454.4有效
发明人：申英寿 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2014-10-08 - 公布日： 2017-10-27 - 主分类号： A61B1/04 文献下载
摘要：提供一种能够可靠地对摄像元件内的闪烁缺陷像素进行校正的内窥镜系统、像素校正方法。内窥镜系统(1)具备照明控制部(33)，其使光源部(31)以规定的周期熄灭；差计算部(52)，其计算暗时图像与暗时基准图像之间的差数据，其中，该暗时图像与在照明控制部(33)使光源部(31)熄灭的熄灭时由摄像元件(244)输出的图像数据对应，该暗时基准图像是为了检测电信号不定期地变化的闪烁缺陷像素而预先生成的；闪烁缺陷像素检测部(53)，其基于由差计算部(52)计算出的差数据来检测摄像元件(244)中的闪烁缺陷像素；以及像素校正部(561)，其使用由闪烁缺陷像素检测部(53)检测出的闪烁缺陷像素的周边的其它像素所输出的电信号对该闪烁缺陷像素所输出的电信号进行校正。
内窥镜系统以及像素校正方法

[发明专利]一种磁产品暗裂纹检测方法及应用于该方法的检测装置-CN202110955238.X在审
发明人：吴翔亮;翁凤华;何震宇 -专利权人：横店集团东磁股份有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2023-02-21 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种磁产品暗裂纹检测方法，包括以下步骤：制作压力式磁产品暗裂纹检测装置；挑选若干存在暗裂纹缺陷的磁产品次品，通过对次品的压力验证确定压力式磁产品暗裂纹检测装置的检测压力；向压力式磁产品暗裂纹检测装置输入待检产品本发明还公开了一种应用于所述磁产品暗裂纹检测方法的压力式磁产品暗裂纹检测装置。本发明采用压力式磁产品暗裂纹检测装置替代人工听声检测，存在暗裂纹缺陷的产品对于外部压力具有快速的响应，因此具有更高的检测效率和准确性。
一种产品裂纹检测方法应用于装置

[发明专利]一种暗角校正系统及方法-CN201711351540.4有效
发明人：汪舟;邓标华;欧昌东 -专利权人：武汉精立电子技术有限公司
申请日： 2017-12-15 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： H04N5/243 文献下载
摘要：本发明属于图像处理技术领域，公开了一种暗角校正系统及方法，方法包括：根据多张图像获得暗角校正系数；获得测试图像并解析得到图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据并封装输出系统包括：第一PC端、相机、FPGA平台；相机用于拍摄获得测试图像；FPGA平台用于对测试图像进行解析获得图像像素数据；根据暗角校正系数对图像像素数据进行暗角校正，获得暗角校正图像数据，并封装输出；第一PC端用于根据多张图像获得暗角校正系数，对暗角校正图像数据进行显示和/或检测。本发明解决了现有技术在自动光学检测中将暗角误判为缺陷或为避免误判调整算法造成漏检缺陷的问题。
一种校正系统方法

[发明专利]一种基于图像处理的结构件生产过程缺陷检测方法-CN202110964581.0有效
发明人：姬国华;郑代顺;路秋媛 -专利权人：金成技术有限公司
申请日： 2021-08-23 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及人工智能技术领域，具体涉及一种基于图像处理的结构件生产过程缺陷检测方法。该方法通过X射线获得结构件的射线图像，通过射线图像上的缺陷区域构建缺陷分布图。以缺陷分布图上缺陷连通域内像素值最小的像素点作为暗像素点，通过暗像素点的分散程度和暗像素点与连通域中心的距离关系进行两次筛选，获得缺陷类型为夹渣的缺陷连通域和需要继续检测的第二待检测连通域。通过第二待检测连通域内像素点的第一像素分布和第二像素分布进行两次筛选，完成对所有缺陷连通域的缺陷类型检测。本发明通过充分考虑气孔和夹渣的像素值差异特征，准确高效的完成缺陷检测。
一种基于图像处理结构件生产过程缺陷检测方法

[发明专利]一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正的算法及其系统-CN201410374461.5有效
发明人：谷元保;姚洪涛 -专利权人：吉林省福斯匹克科技有限责任公司
申请日： 2014-07-31 - 公布日： 2017-07-07 - 主分类号： H04N5/361 文献下载
摘要：本发明是一种用于CMOS图像传感器的暗电平校正算法及其系统，该算法包括S1、后台系统设定暗电平上限和输出数据偏移量；S2、输入带有暗电平信息行的图像；S3、用中值滤波算法校正暗电平信息行的缺陷像素；S4、计算滤波校正后暗电平信息行各像素通道的平均暗电平；S5、调整输出数据偏移量；S6、对输入图像数据进行暗电平校正；S7、输出正常图像。该系统包括缺陷像素校正模块、校正信息计算模块和暗电平校正模块，所述校正信息计算模块包括平均暗电平计算模块和数据输出偏移量调整模块。本发明可以更好地进行暗电平校正，误差小，解决了在四个颜色通道的暗电平差异比较大的情况下出现的颜色偏差问题和亮度不饱和问题。
一种用于 cmos 图像传感器电平校正算法及其系统

[发明专利]片状透明体缺陷的检查方法与装置-CN02809482.4无效
发明人：前薗伸二;神吉哲 -专利权人：日本板硝子株式会社
申请日： 2002-07-03 - 公布日： 2004-08-11 - 主分类号： G01N21/896 文献下载
摘要：提供检查输送中的片状透明体存在的伴生有光学畸变缺陷的缺陷检查方法。根据此缺陷检查方法在上述片状透明体的一侧设有照明装置；于此片状透明体的另一侧设有1维摄像装置。此述照明装置具有明部与暗部，将此明部与暗部的边界设定为实质上与1维摄像装置中平行的直线状，而以此摄像装置的视场作为上述边界部。将此摄像装置的1维输出构成2维图像数据，将此图像数据变换为3值化处理的图像数据，在基于此3值化图像数据的显示图像中，通过沿上述片状透明体输送方向顺次出现的明部与暗部组成的缺陷图案，检查缺陷并识别缺陷的种类
片状透明体缺陷检查方法装置

[发明专利]一种基于图像处理的注塑制件虎皮纹缺陷检测方法及系统-CN202210346783.3在审
发明人：卓健鹏;袁华 -专利权人：海门市腾飞橡塑厂
申请日： 2022-03-31 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于图像处理的注塑制件虎皮纹缺陷检测方法及系统，属于虎皮纹缺陷检测技术领域。方法包括一下步骤：根据在与注塑制件浇注方向垂直的方向上各明区域条纹上的明区域的中心点数量和各暗区域条纹上暗区域的中心点数量，得到各异常区域中的明区域条纹的连续性指标和暗区域条纹的连续性指标；根据各明区域条纹上各明区域的宽度值和各暗区域条纹上各暗区域的宽度值，得到各异常区域中的明区域条纹的宽度相似性指标和暗区域条纹的宽度相似性指标；根据连续性指标、相似性指标和周期性指标，判断注塑制件表面图像对应的各异常区域是否为虎皮纹区域。本发明能够提高虎皮纹缺陷检测的准确性。
一种基于图像处理注塑制件虎皮缺陷检测方法系统

[发明专利]用于检查缺陷的方法和装置-CN202010036268.6在审
发明人：李知锡;金种佑 -专利权人：东友精细化工有限公司
申请日： 2020-01-14 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明示例性实施例的用于检查缺陷的方法从包括反射图案层的检查对象获取分别包括暗图像区域和亮图像区域的透射图像和反射图像。从透射图像和反射图像检测异常区域。当异常区域对应于反射图像和透射图像两者中的暗图像区域时，所述异常区域被确定为非缺陷区域。可以减少将非缺陷产品误认为是有缺陷产品的比率。
用于检查缺陷方法装置

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