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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种电表检测装置-CN201710553303.X在审
  • 申娟;余宇红;吴颖;张静月;周菁菁;孟智刚;王新刚;张垠;王卉;应明;沈琦;俞磊;朱铮;沈华 - 国网上海市电力公司
  • 2017-07-07 - 2017-12-12 - G01R35/04
  • 本发明提供了一种电表检测装置，属于检测技术领域。它解决了现有技术中人工进行测试效率低的问题。本电表检测装置，包括传送带，传送带两边设置有用于与电表的接线柱接触电连接的探针，探针与导线连接，探针将导线的测试电流传导给电表或将电表的数据信号传递给测试装置，所述探针以组为单位，每组探针的个数与接线柱的个数相等，探针的间距与接线柱的间距相等，探针设置在固定块上，伸缩机构控制固定块相对于电表伸缩，以便于探针与接线柱的接触或分离。每一组探针可以用于对电表不同性能的检测。本发明利用设置在电表传送带两侧的电表接线柱探针可在电表传送时方便的实现对电表的检测，检测快速方便。
  • 一种电表检测装置
  • [发明专利]终端装置、探针装置设及信号搜索方法、设备和存储介质-CN202010190333.0在审
  • 付磊;陈凌伟;刘玉平 - 广东博智林机器人有限公司
  • 2020-03-18 - 2021-10-12 - H04W48/16
  • 本申请公开一种终端装置、探针装置设及信号搜索方法、设备和存储介质，其中，探针装置包括探针装置包括插口、转换单元、中央控制单元及探针单元。在本申请中，探针装置能够通过插口与终端装置电性连接，进而终端装置能够通过插口为探针装置提供电源并实现与探针装置的数据交互，这样一来，探针装置自身就不需要携带大容量电源，同时能够便于移动和降低功耗、提高数据传输稳定性，因此，与现有技术相比，本申请能够克服现有技术中的由于探针采用自带大容量电源和无线通信而导致的功耗高、体积大、携带不方便、不便于移动等缺点。另一方面，本申请的探针装置具有制造成本低，便于大规模推广等优点。
  • 终端装置探针信号搜索方法设备存储介质
  • [发明专利]晶圆级测试中探针保护装置及方法-CN202210713261.2在审
  • 谢晋春 - 上海华虹宏力半导体制造有限公司
  • 2022-06-22 - 2022-09-06 - G01R31/28
  • 本申请涉及半导体集成电路测试技术领域，具体涉及一种晶圆级测试中探针保护装置及方法。晶圆级测试中探针保护装置包括：探针卡板，所述探针卡板上设有探针，所述探针的第一端用于连接被测芯片引脚；基板，所述基板中形成保护通路，所述保护通路的第一端与所述探针的第二端一一对应连接，所述保护通路的第二端连接检测电路的电源施加端其中晶圆级测试中探针保护方法基于上述装置，可以避免相关技术中未对过流或过压的检测电源及时切断，而发生探针卡探针烧坏或烧毁及测试仪设备板卡器件毁坏的问题。
  • 晶圆级测试探针保护装置方法
  • [发明专利]一种转接探针打击通电模拟方法-CN202310476104.9在审
  • 金永斌;王强;贺涛;丁宁;朱伟;章圣达;陈伟 - 法特迪精密科技（苏州）有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-07-14 - G01R31/28
  • 本发明属于半导体测试技术领域，具体涉及一种转接探针打击通电模拟方法；该方法在上触头和下触头分离，上导电层与转接探针分离的条件下启动电机，首先上导电层与转接探针接触，实现转接探针打击模拟，然后上触头和下触头接触，给转接探针通电，并进行转接探针通电模拟，再然后上触头和下触头分离，完成通电模拟过程，最后上导电层与转接探针分离，实现系统复位；本发明不仅能够模拟探针测试插座中转接探针的真实工作场景，而且同现有技术相比，节省了一部分零部件，使装置成本进一步降低，体积进一步减小，复杂程度进一步降低，为转接探针有效接触待测芯片与测试机提供测试保障。
  • 一种转接探针打击通电模拟方法
  • [发明专利]一种激光清污方法-CN202310486088.1在审
  • 梁丽英 - 山东云泷水务环境科技有限公司
  • 2023-05-04 - 2023-06-02 - B08B7/00
  • 本发明公开一种激光清污方法，应用于激光领域；解决的技术问题是探针清污，采用的技术方案包括（S1）将待清污的探针放在桌面上，启动激光清污设备电源开关；（S2）通过电特性测量单元与图像获取单元采集原始探针信息；（S3）激光清污设备根据原始探针信息调整激光辐照条件并发射满足所选激光照射条件的激光束；（S4）在辐照之后，激光清污设备参照（S2）步骤第二次获取探针信息，并检查探针是否存在污染；若存在污染，则重复（S3）步骤直至探针不存在污染；本发明能够基于探针信息来参考清污条件数据库，并控制激光束的特性，从而去除探针上的污染物，而不会因热而损坏探针。
  • 一种激光方法
  • [发明专利]微纳米结构直写装置-CN200610135261.X有效
  • 孙道恒;王凌云;吴德志;林立伟 - 厦门大学
  • 2006-11-28 - 2007-05-23 - B82B3/00
  • 提供一种基于“近场静电纺丝”技术，实现高分子材料或具有一定粘性材料的快速直写，最小直径/线宽可低于300nm/20μm，突破了喷印技术的线宽限制，应用范围更加广泛的微纳米结构直写装置。设有微探针控制平台、集成高压静电电源、流量控制器、X－Y平台、探针和CCD显微镜；集成高压静电电源用于为探针提供电压，集成直流高压电源的正极接探针，负极接地；流量控制器固定在微探针控制平台上，流量控制器由管道连接探针；探针作为材料直写的喷丝头，探针安装于微探针控制平台上；显微镜用于观察静电纺丝过程及材料写入图形的效果，显微镜设于微探针控制平台上。
  • 纳米结构装置
  • [发明专利]一种导引板MEMS探针结构与转接层的对接装置-CN202010816190.X有效
  • 王艾琳;赵梁玉 - 强一半导体（苏州）有限公司
  • 2020-08-14 - 2020-12-25 - G01R3/00
  • 本发明一种导引板MEMS探针结构与转接层的对接装置属于IC制作业技术领域，具体涉及微机电系统制造、半导体裸芯测试及相关关键技术；该装置包括第三棱镜、成像物镜、第二图像传感器、升降台、支架、气缸、支撑板和二维平移台；本发明不仅公开了一种导引板MEMS探针结构与转接层的对接装置，而且公开了一种MEMS探针卡的全新制作工艺，从MEMS探针卡的结构，到导引板MEMS探针结构模板烧刻设备与方法，面向导引板MEMS探针结构模板烧刻的探针定位方法，再到导引板MEMS探针结构制作方法，最后到导引板MEMS探针结构与转接层的对接装置与方法，最终实现亚微米级MEMS探针卡的制造。
  • 一种导引mems探针结构转接对接装置
  • [实用新型]一种EL探针排结构-CN202220071971.5有效
  • 王文杰;刘长飞;秦楠 - 晶澳（邢台）太阳能有限公司
  • 2022-01-12 - 2022-08-26 - G01R1/067
  • 本实用新型涉及一种EL探针排结构，属于光伏组件技术领域，解决了现有技术中的EL探针会因助焊剂残留出现卡顿，导致电池串挂串的问题。本实用新型的EL探针排结构包括探针头，所述探针头包括相对的第一面和第二面、连接所述第一面和所述第二面的第三面，所述第一面设有向内凹陷的凹槽，所述第二面设有向外凸出的凸起，在相邻两个所述探针头中，一个所述探针头的凹槽与另一个所述探针头的凸起配合连接；以及探针杆，其一端与所述第三面连接。本实用新型的EL探针排结构能够有效避免EL测试时出现电池串挂串危险。
  • 一种el探针结构
  • [发明专利]一种太阳能电池测试机-CN201610644741.2在审
  • 方结彬;秦崇德;石强;黄玉平;何达能;陈刚 - 广东爱康太阳能科技有限公司
  • 2016-08-08 - 2016-10-26 - H02S50/10
  • 本发明公开了一种太阳能电池测试机，包括计算机、底座、置于底座上方的探针架和置于探针架上方的氙灯，所述探针架上设有滑动槽，滑动槽连接有若干排可沿滑动槽移动的探针排，探针排上均布有若干个探针孔，探针孔内设有可拆卸的探针，探针排和计算机电连接，探针孔之间通过导线相互连接。与现有技术相比，本发的太阳能电池测试机具有测试时可以自由设定探针的分布，不需要花时间更换探针排，只需调节探针排数量和间距，调节探针的分布，就可以快速切换进行测试三主栅、四主栅甚至多主栅晶硅电池，以及主栅分段
  • 一种太阳能电池测试
  • [发明专利]探针倒挂式测试机构-CN202010355438.7在审
  • 周申文;梁发年 - 东创智造（浙江）有限公司
  • 2020-04-29 - 2020-07-10 - G01R1/073
  • 本发明涉及电子设备测试技术领域，具体公开一种探针倒挂式测试机构，包括：固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；探针组件，所述探针组件包括针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。本发明提供一种探针倒挂式测试机构，能解决传统探针式测试机构的金属探针容易出现弯折的问题。
  • 探针倒挂测试机构
  • [发明专利]多电极的可更换扫描探针装置-CN202210393662.4在审
  • 董国材;王振中 - 国成仪器（常州）有限公司;江苏江南烯元石墨烯科技有限公司
  • 2022-04-15 - 2022-08-05 - G01Q60/16
  • 本发明涉及扫描探针装置的技术领域，尤其涉及一种多电极的可更换扫描探针装置。这种多电极的可更换扫描探针装置包括扫描管探针固定头、探针架和携带架，探针架可拆卸式连接在携带架上，探针架的下端磁吸式连接扫描管探针固定头。这种多电极的可更换扫描探针装置的探针架中铁磁板可置于探针架携带架上限位装置的两个台阶面上，探针架携带架中通孔可放置磁铁，用来吸附探针架的铁磁板。探针架中的针尖固定位置为空心圆柱形，用来放置针尖，依次与铁磁板、三分电极接触环相连，整个换针装置通过机械手和步进电机的控制实现换针。
  • 电极更换扫描探针装置
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