专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果8894262个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种量子点红外探测响应率的表征方法-CN201310593679.5在审
  • 刘红梅;刘桂枝;陈爱军;王萍;石云龙 - 山西大同大学
  • 2013-11-22 - 2014-06-04 - H01L31/101
  • 本发明涉及光电探测的性能评估测定方法,针对现有技术中对纵向结构量子点红外探测响应率表征方法的不足,提供一种量子点红外探测响应率的表征方法。基于量子点红外探测的光电导探测机制中光电流与量子效率、光电导增益之间的关系,推导出光电流模型,确定光电流的大小;通过量子点红外探测响应率与光电流的关系,建立响应率模型,实现对响应率的表征。本发明的探测特性量化方法与探测探测机制更相符。实验结果表明:与以往常用的量化方法相比,本发明的探测特性量化方法对探测光电流、响应率等的预测与实际的实验测试值更加一致,使探测探测性能的预测更加精确。
  • 一种量子红外探测器响应表征方法
  • [发明专利]用于示波器带宽自动调整的灵敏探测设备和方法-CN01133833.4有效
  • B·T·希克曼 - 特克特朗尼克公司
  • 2001-11-22 - 2002-08-28 - G01R1/00
  • 本发明涉及在探测自身存储有关探测频率响应的信息。该信息最好是由一组或者更多的特性频率响应数据点组成。每一个数据点至少包括在给定频率上探测的增益。最好是,每个数据点包括探测的复合转移特性(附图2中的S21)和任意的探测的复合输出反射性(附图2中的S22),以及数据所载处的频率(附图2中的F)。根据需要存储的频率点的数量可以改变来充分地描述探测响应探测最好存储含有所存储数据点的数目的标题。当探测与示波器连接时,示波器读取频率响应信息并且输出电压驻波比(VSWR),示波器负责调整它的频率响应(方法是通过增加或减少高频增益),从而补偿探测的频率响应并且优化整个系统频率响应
  • 用于示波器带宽自动调整灵敏探测器设备方法
  • [发明专利]一种光电探测绝对光谱响应的校准方法及其装置-CN201210395731.1有效
  • 吕毅军;朱丽虹;陈国龙;高玉琳;陈忠 - 厦门大学
  • 2012-10-17 - 2013-02-06 - G01D18/00
  • 一种光电探测绝对光谱响应的校准方法及其装置,涉及光电探测的测试。设有光栅光谱仪、光电采集电路、计算机、待测光电探测、标准光谱辐照度探头、套筒、会聚透镜组、光源、LED温控夹具和LED稳流源。测出待测光电探测相对光谱响应得相对光谱响应曲线;把探头和光源固定在套筒里,点亮LED和开启夹具,测出不同电流下LED的光谱辐照度分布;把探头卸掉,将待测光电探测固定在套筒中,待测光电探测响应电流经光电采集电路采集不同波长光照下的响应电流值,并送给计算机;已知相对光谱响应和待测光电探测在LED光源的照射下的响应电流可计算出待测光电探测的绝对光谱响应度。最终绘出响应度-波长曲线。
  • 一种光电探测器绝对光谱响应校准方法及其装置
  • [发明专利]用于红外焦平面探测像元光谱响应测试的装置及方法-CN202310642777.7在审
  • 郭杰;张超;孙佰成;肖明燕;项永生 - 云南师范大学
  • 2023-06-01 - 2023-08-18 - G01J3/45
  • 本发明公开了一种用于红外焦平面探测像元光谱响应测试的装置及方法,包括红外焦平面探测;傅里叶变换红外光谱仪,提供红外干涉光源;图像采集卡,用于对照射到整个红外焦平面探测阵列表面的干涉光斑进行图像采集并传送至测控计算机;红外焦平面阵列探测驱动板,与红外焦平面探测和图像采集卡相连;测控模块,为不同类型的探测提供适合的工作电压及时钟,将图像采集卡采集的干涉光斑图像数据变换为光谱响应曲线,并将光谱响应曲线直观地显示在三维坐标系内,同时测试分析探测阵列所有像素光谱响应曲线。具有快速获得任意尺寸探测阵列所有像素光谱响应曲线的功能,能直观发现阵列探测空间上各个像素点光谱响应的差异的优点。
  • 用于红外平面探测器光谱响应测试装置方法
  • [发明专利]一种光电探测光谱响应分析系统-CN201410820514.1有效
  • 秦琦;吴南健 - 中国科学院半导体研究所
  • 2014-12-25 - 2018-01-12 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种光电探测光谱响应分析系统。所述光电探测光谱响应分析系统包括可控单色光源,用于在一定波段内以连续可调的方式输出固定频率的单色光波;探测室,用于取得参考光电探测和待测光电探测对所述单色光波的光谱响应信号;以及控制装置,用于控制所述可控单色光源以及探测室,并接收光谱响应信号,以生成待测光电探测的相对光谱响应曲线。本发明的光电探测光谱响应分析系统改进光源设计,实现一定波段内出射光波的连续、窄带输出。从而解决现有技术方案中,因透射光波带宽较宽,造成累积效应从而测试精度低的技术问题。
  • 一种光电探测器光谱响应分析系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top