专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种白层组织的扫描电镜样品制备方法-CN201510795748.X在审
  • 潘睿;陈春焕;任瑞铭 - 大连交通大学
  • 2015-11-18 - 2016-01-13 - G01Q30/20
  • 本发明涉及一种白层组织的扫描电镜样品制备方法,所述制备方法包括粗磨细磨步骤、机械抛光步骤、振动抛光步骤;所述机械抛光步骤为将经过粗磨细磨后的试样置于湿润的抛光盘上加入抛光剂抛光;所述抛光剂包括碱性硅溶胶和碱液,所述碱性硅溶胶与碱液的体积比为7~20:1~3;所述振动抛光步骤为将机械抛光步骤所得产品在水中振动抛光,本发明有益效果为抛光过程不仅将试样抛光,同时也将白层内组织形貌浸蚀出来,在扫描电镜下即可观察到现有硝酸酒精腐蚀剂浸蚀后观察不到的清晰组织结构
  • 一种组织扫描电镜样品制备方法
  • [发明专利]一种薄膜检测装置-CN202310404432.8在审
  • 郭浩东;靳佳 - 北京中科科仪股份有限公司
  • 2023-04-17 - 2023-05-19 - G01N23/2204
  • 本发明提供的一种薄膜检测装置,属于光学检测技术领域,包括:样品室结构和支撑结构、透镜结构、真空系统,其中样品室结构内部形成有容纳腔,样品室结构上端设置有扫描电镜;样品室结构开设适于光束通过的第一开孔;支撑结构与所述样品室结构连接,并适于支撑样品室结构;透镜结构设置于样品室结构的下方,适于接收扫描电镜的光束;真空系统设置于样品室结构的侧方。本装置将真空系统放置在样品室结构的侧方,并将透镜结构放置在样品室结构的下方,保证样品室结构上端的扫描电镜发射的光束能够通过第一开孔被透镜结构接收到,在对薄膜材料进行检测时无需扫描电镜和透射电镜分别对薄膜材料进行检测
  • 一种薄膜检测装置
  • [发明专利]扫描电镜二次电子探测器-CN202210746321.0在审
  • 吴天成;潘结春;张俊 - 国仪量子(合肥)技术有限公司
  • 2022-06-28 - 2022-09-02 - H01J37/244
  • 本发明公开了一种扫描电镜二次电子探测器,所述扫描电镜二次电子探测器包括:筒体组件、栅网组件、高压筒体、导光柱、闪烁体、外壳、光电倍增镜和电源,高压筒体包括在筒体组件的轴向方向上连接的上高压筒段和下高压筒段根据本发明的扫描电镜二次电子探测器,通过设置下高压筒段的外周壁的径向尺寸在上高压筒段至下高压筒段的方向上逐渐减小,使得高压筒体在传输高压时,最大程度避免高压放电现象的发生,从而最大程度避免高压放电现象对扫描电镜二次电子探测器的探测效率和成像效果的影响
  • 扫描电镜二次电子探测器
  • [实用新型]扫描电镜二次电子探测器-CN202221652575.8有效
  • 吴天成;潘结春;张俊 - 国仪量子(合肥)技术有限公司
  • 2022-06-28 - 2022-10-28 - H01J37/244
  • 本实用新型公开了一种扫描电镜二次电子探测器,所述扫描电镜二次电子探测器包括:筒体组件、栅网组件、高压筒体、导光柱、闪烁体、外壳、光电倍增镜和电源,高压筒体包括在筒体组件的轴向方向上连接的上高压筒段和下高压筒段根据本实用新型的扫描电镜二次电子探测器,通过设置下高压筒段的外周壁的径向尺寸在上高压筒段至下高压筒段的方向上逐渐减小,使得高压筒体在传输高压时,最大程度避免高压放电现象的发生,从而最大程度避免高压放电现象对扫描电镜二次电子探测器的探测效率和成像效果的影响
  • 扫描电镜二次电子探测器

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