专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体激光发射器-CN202011200779.3在审
  • 雷述宇 - 宁波飞芯电子科技有限公司
  • 2020-11-02 - 2021-02-02 - H01S5/183
  • 本发明提供一种半导体激光器,其特征在于,包括:第一DBR层,第二DBR层,配置于所述第一DBR层与所述第二DBR层之间的量子阱有源区;还包含降低寄生电容特性的出光限制孔,本发明将现有技术的氧化限制孔变换为降低寄生电容特性的出光限制孔,例如采用空气、氮气等等气体作为出光限制孔的填充材料,如此通过与现有技术的氧化限制孔相比,本发明材料的介电常数仅为氧化物的1/4,因此按照寄生电容的计算公式,通过本发明的方案可以从最底层的设计中在相同的限制孔尺寸下将氧化限制孔的寄生电容减小为原来的
  • 一种半导体激光发射器
  • [发明专利]基于多线程随机行走的寄生电容提取方法及装置-CN202210367550.1在审
  • 何裕;焦吾振;胡超;曾宪强;贺青 - 杭州行芯科技有限公司
  • 2022-04-08 - 2022-07-05 - G06F9/50
  • 本申请涉及一种基于多线程随机行走的寄生电容提取方法、装置、电子装置及存储介质,该方法包括:控制与目标导体对应的多个工作线程开始随机行走;在工作线程的随机行走步数达到预设的目标路径数时,将工作线程进行的每次随机行走所对应的采样值存入预设的与工作线程对应的存储空间,确定工作线程完成数据更新,其中,每个工作线程所对应的存储空间彼此独立;在所有工作线程均完成数据更新时,分别从每个工作线程所对应的存储空间中获取采样值,确定目标导体的寄生电容值。通过本申请,解决了利用多线程随机行走方法对导体寄生电容进行提取时的提取效率低的问题,实现了提高对导体进行基于多线程随机行走的寄生电容提取效率的技术效果。
  • 基于多线程随机行走寄生电容提取方法装置
  • [发明专利]液晶显示装置及其阵列基板、阵列基板的制造方法-CN201210487352.5无效
  • 董成才;许哲豪;党娟宁 - 深圳市华星光电技术有限公司
  • 2012-11-27 - 2013-03-20 - G02F1/1362
  • 本发明公开一种液晶显示装置及其阵列基板、阵列基板的制造方法,所述的阵列基板包括玻璃基板,所述玻璃基板上形成有栅极扫描线以及像素电极,所述像素电极的边缘与所述栅极扫描线具有重叠区域,所述像素电极与栅极扫描线在该重叠区域形成寄生电容,所述栅极扫描线与所述像素电极之间在重叠区域设置有至少一层用于减小所述寄生电容的保护材料层。本发明通过在像素电极的边缘与栅极扫描线之间的重叠区域设置有至少一层用于减小寄生电容的保护材料层,可以在像素电极与栅极扫描线之间增加一层保护层,这样能够有效的减小像素电极跟栅极扫描线之间的寄生电容Cst,
  • 液晶显示装置及其阵列制造方法
  • [实用新型]半导体测试结构-CN201922127743.6有效
  • 钱仕兵 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2019-11-29 - 2020-05-19 - H01L21/66
  • 本实用新型涉及一种半导体测试结构,用于在测试MOS器件的栅电容时作为栅电极的引出端与外部测试结构连接。本实用新型的技术方案通过串联连接多个寄生电容的方法,减小了与栅电容并联连接的总寄生电容,从而降低了总寄生电容对栅电容测试结果的影响,获得了准确的栅电容测试结果。
  • 半导体测试结构
  • [发明专利]触摸式输入装置-CN201580030738.5有效
  • 今井贵夫;高井祐治;吉川治 - 株式会社东海理化电机制作所;SMK株式会社
  • 2015-06-17 - 2019-08-30 - G06F3/041
  • 一种触摸式输入装置,具备:触摸面板,其包括多个驱动电极和多个感测电极,多个驱动电极和多个感测电极以网格状的图案配置,并且在多个驱动电极和多个感测电极的交点处形成电容器;以及控制器,其检测对触摸面板的操作面进行的触摸操作控制器根据数据组判定有无触摸操作,该数据组表示每个所述电容器的静电电容相对于针对每个电容器预先设定的基准值的变化量。控制器通过在启动时取得各个电容器的寄生电容来设定基准值,并且在根据多个电容器的寄生电容的偏差范围(A)判定为取得了错误的基准值时,重新取得寄生电容(S23)。
  • 触摸式输入装置
  • [发明专利]排除寄生电容影响的电容感测电路-CN201310284643.9有效
  • 黄宗文 - 安沛科技股份有限公司
  • 2013-07-08 - 2013-12-11 - G06F3/044
  • 本发明提供一种排除寄生电容影响的电容感测电路,其使用在一具有电容式触控板的电子装置中,包括一触控产生电容量变化的待测电容、一积分电容及一数字控制器,数字控制器记录一寄生电容充电至一预设电压值所需的偏移补偿时间,当电容式触控板被触控时,待测电容充电,当待测电容的充电时间到达偏移补偿时间时,积分电容充电,当待测电容上的电压高于预设电压值时,积分电容停止充电,则,在积分电容的充电程序中排除寄生电容量成分,致使积分电容上只会充电产生待测电容电容变化量所对应的电压信号
  • 排除寄生电容影响电路

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