专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]图像处理设备-CN201010282786.2有效
  • 吉田敏之 - 日本冲信息株式会社
  • 2010-09-10 - 2011-04-20 - G03G15/00
  • 一种图像处理设备,所述图像处理设备包括多个介质存储部分、从所述介质存储部分中的任何一个给送介质介质给送单元、执行图像形成从而在由介质给送单元给送的介质上形成图像的图像形成单元、存储介质给送单元开始从介质存储部分给送介质之后且在图像形成单元开始图像形成之前的图像形成等待时间的存储单元、以及使图像形成单元在介质给送单元开始给送介质后等待基于图像形成等待时间的时间间隔的控制单元。
  • 图像处理设备
  • [发明专利]一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质-CN201911332540.9在审
  • 伯绍文 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2019-12-22 - 2020-04-21 - G11C29/12
  • 本发明公开了一种存储介质检测方法、装置、设备及可读存储介质,在本方法中,BMC通过向存储介质中的目标寄存器写入检测值,然后再读取目标寄存器中的寄存器值。当读取到的寄存器值与写入的检测值一致,即可表明存储介质的读写功能均正常,若读取到的寄存器值与写入的检测值不一致,则可确定存储介质的读功能和写功能中至少一项功能出现问题,此时可判断存储介质异常,即存储介质检测失败当存储介质具体为EEPROM时,以便用户获知到EEPROM异常,进而更换EEPROM或更换主板,以保障BMC能够与EEPROM正常进行数据交互,EEPROM能够存储重要数据。
  • 一种存储介质检测方法装置设备可读
  • [发明专利]半导体存储介质的寿命获取方法、系统及装置-CN200810068481.4有效
  • 卢赛文 - 深圳市朗科科技股份有限公司
  • 2008-07-10 - 2010-01-13 - G11C29/00
  • 本发明涉及电数字数据处理领域,尤其涉及一种半导体存储介质的寿命获取方法、系统及装置。所述寿命获取方法包括如下步骤:建立半导体存储介质寿命模型,半导体存储介质寿命模型中包括半导体存储介质的寿命信息;获取半导体存储介质的寿命信息。本发明通过将半导体存储介质的寿命信息以表的形式记录起来,形成寿命表,从而建立包含半导体存储介质各种寿命信息的寿命模型,以便于使用。然后从此寿命模型中获取各种寿命信息。通过这种方法获得的半导体存储介质的寿命信息可以经过计算后显示或者进行其他方式的寿命提示,这样可以在存储设备老化前对重要数据及时进行备份,保护了数据的安全性,避免了数据的丢失。
  • 半导体存储介质寿命获取方法系统装置
  • [发明专利]USB存储介质透明加密方法-CN201710156290.2有效
  • 解永亮;付国楷 - 中国电子科技集团公司第三十研究所
  • 2017-03-16 - 2019-12-13 - G06F21/60
  • 本发明公开了一种USB存储介质透明加密方法,通过USB存储介质检测模块完成USB存储介质的识别与配置,同时对USB存储介质的设备标识、事件信息等根据需求自定义上报或延时上报给上位机系统;控制管理模块对USB存储介质进行用户身份及访问权限的认证和鉴定,并根据配置的安全策略实现对USB存储介质的管控;USB数据解析模块解析访问USB存储介质所需的命令块包、状态块包和普通数据,分流控制命令操作和USB数据操作;本发明实现了计算机对USB存储介质读写的透明加密保护功能,保障用户数据存储的安全可靠性和合法性。
  • usb存储介质透明加密方法

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