“失效点位置”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果4680876个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]基于负载容量非线性模型的物流网络级联失效时变负载重分配方法-CN201811450522.6在审
发明人：杨悦;孙宝凤;王少华;杨雪;亢军媄;任欣欣;王帅 -专利权人：吉林大学
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： H04L12/24 文献下载
摘要：本发明公开了基于负载容量非线性模型的物流网络级联失效时变负载重分配方法，包括：步骤一、建立所述物流网络拓扑结构模型，确定所述物流网络节点的初始负载和节点容量；步骤二、选择所述物流网络拓扑结构模型中的任一节点，令所述任一节点失效；步骤三、当所述任一节点失效后，对所述物流网络级联失效后的节点按照考虑时变的负载重分配策略进行负载重分配；步骤四、当重新分配后的邻居节点达到失效条件后则再次进行所述步骤三，进行级联失效重分配策略进行重分配，直到所有分配节点均不再发生失效，当重新分配后的邻居节点达到有效条件后，级联失效结束。
物流网络级联负载重分配时变拓扑结构模型非线性模型负载容量节点失效邻居节点重新分配分配策略分配节点节点容量失效条件有效条件分配

[发明专利]一种半导体功率器件失效分析的失效点定位方法-CN201110178375.3无效
发明人：张涛 -专利权人：上海华碧检测技术有限公司
申请日： 2011-06-28 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体功率器件失效分析的失效点定位方法，包括以下步骤：利用化学腐蚀剥层技术对覆盖在功率器件表面的金属铝层进行化学腐蚀，将铝层完全腐蚀去除，同时完整保留金属铝下层的阻挡层；利用微光显微镜和光束诱导电阻变化技术对功率器件进行正面定位，模拟失效情况下的电性条件，以及使用点针的方法进行加电，模拟电性条件，找出可能的失效点；利用电子封装组装失效分析工具对之前步骤的定位结果进行电子封装组装失效分析的物理验证，找出最终的物理失效点。本发明有以下优点：有效地对金属铝层进行剥离，同时保持了阻挡层的完整性；极大地加快了半导体功率器件失效点定位工作的速度和效率，同时保持了很高的精度。
一种半导体功率器件失效分析定位方法

[发明专利]一种失效分析故障点预测方法及系统-CN202211235439.3在审
发明人：刘丁枭;胡浩江;肖东宝;吴浩;马晋辰;柳孟阳;张鹏;王绍兰;王笑尘 -专利权人：北京智谱华章科技有限公司
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G06F16/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种失效分析故障点预测方法及系统，属于失效分析技术领域，解决了现有失效分析效率低的问题。包括构建各检测流程的诊断样本集，训练得到各自的基础分类模型；基于历史维修记录获取故障点的良率，通过聚类分析故障点的良率，得到故障点中的正常点，统计正常点的故障发生概率；根据正常点的故障发生概率，调整各检测流程下各检测步骤的顺序；根据待检测组装件的最新诊断数据，获取对应的检测流程的基础分类模型，如果当前基础分类模型的准确率高于阈值，则输入最新诊断数据至当前基础分类模型中，预测出故障点；否则，基于对应的检测流程下调整顺序后的各检测步骤及获取的实际检测值，得到故障点。实现了失效分析效率的提升。
一种失效分析故障预测方法系统

[发明专利]页岩气压裂地面系统共因失效层级化分析方法-CN201610105135.3在审
发明人：王海涛;胡瑾秋;张来斌;李奎为;张旭东;王倩琳;李洪春;李双明 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油工程技术研究院
申请日： 2016-02-25 - 公布日： 2017-09-01 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种页岩气压裂地面系统共因失效层级化分析方法，属于共因失效分析技术领域，解决了对含有共因失效的系统的可靠性分析较为繁琐的技术问题。该方法包括确定系统中的共因单元，并建立系统的层级失效模型；根据系统的层级失效模型，逐级计算单元独立故障的系统可靠性；利用系统的层级失效模型中的共有信号，修正系统可靠性；计算系统的层级失效模型中的各个单元在各个时间点的成功概率；在考虑共因失效的情况下，计算系统的层级失效模型在不同时间点的成功概率。
页岩气压地面系统失效层级化分方法

[发明专利]管道环焊缝可靠性灵敏度分析方法及装置-CN201811291453.9有效
发明人：石磊;王晓霖;王勇;李明;孙宝翔;吕高峰 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司大连石油化工研究院
申请日： 2018-10-31 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种管道环焊缝可靠性灵敏度分析方法及装置，包括：采集目标管道上预设数目的环焊缝的采样数据，根据采样数据获得各个管道变量的数值，并根据各个管道变量的数值确定对应的具体统计分布模型；从预设数值范围内获取多个分析点的数值，根据分析点的数值和具体统计分布模型获得各个分析点对应的各管道变量的数值；根据各个分析点对应的各管道变量的数值和预设的失效概率模型获得目标管道的失效概率，并根据失效概率模型划分失效域，获得失效域中的各个分析点对应的各管道变量的数值；根据各个分析点对应的各管道变量的数值和可靠性灵敏度分析模型获得可靠性灵敏度，能够准确评估管道变量对管道环焊缝可靠性影响的重要程度。
管道焊缝可靠性灵敏度分析方法装置

[发明专利]LED芯片的维修方法及维修装置-CN201910758061.7在审
发明人：李漫铁;谢玲;屠孟龙;余亮;俞苗 -专利权人：惠州雷曼光电科技有限公司;深圳雷曼光电科技股份有限公司
申请日： 2019-08-16 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： H01L33/62 文献下载
摘要：本发明涉及一种LED芯片的维修方法，包括如下步骤：S1，提供具有失效LED芯片的芯片基板；S2，确定失效LED芯片于芯片基板的位置；S3，将第一吸嘴加热至预设温度，熔融用于固定失效LED芯片的第一焊料；S4，吸取失效LED芯片；S5，吸取第一焊料；S6，固晶。上述的LED芯片的维修方法及维修装置，在LED芯片出现失效时，将第一吸嘴加热熔融连接失效LED芯片和芯片基板的第一焊料，在第一焊料熔融后，将失效的芯片吸取，并将第一焊料吸取去除，因此使得芯片基板的失效点的剔除简单、快速、高效，而且无需使用专业设备，成本低，此外能够将失效的芯片和第一焊料剔除干净，保证了后续固晶的质量，尤其适合在COB倒装芯片等小间距LED产品的维修使用。
焊料芯片基板维修维修装置固晶熔融吸嘴剔除倒装芯片加热熔融连接失效芯片吸取专业设备失效点加热去除预设芯片保证

[发明专利]一种智能型电动执行机构失效分析方法-CN201910319017.6有效
发明人：尹卫平;罗兆荣;褚俊;李鸣;乔磊 -专利权人：扬州电力设备修造厂有限公司
申请日： 2019-04-19 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种智能型电动执行机构失效分析方法。涉及自动控制领域，特别是一种智能型电动执行机构失效分析方法。提供了一种智能型电动执行机构失效分析的方法，对电动执行机构失效原因前进行分析，判断出电动执行机构失效点，改善电动执行机构的设计和工艺，减少失效的产生。通过对智能型电动执行机构功能划分，统计元器件的工作失效率和危险失效率，然后为了对各个元器件的失效率进行综合对比分析，对失效率进行数据归一化处理，另外，增加现场使用经验数据，可以丰富失效统计数据库，使本方法更加贴合实用，该算法一方面可以给失效风险的降低提供参考的依据，另外给失效故障点的定位提供了预测方法。
一种智能型电动执行机构失效分析方法

[发明专利]一种网络连接的接管方法-CN200610103893.8有效
发明人：西瓦·库马·K;阿若纳卡勒姆·帕什萨拉什·A -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2006-08-08 - 公布日： 2007-02-28 - 主分类号： H04L1/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种网络连接的接管方法，包括：第一节点向备份节点发送所述第一节点与第二节点的当前的连接状态信息；所述备份节点接收所述连接状态信息并存储；若所述第一节点失效，所述备份节点根据存储的所述连接状态信息恢复与所述第二节点的网络连接采用本发明方法，可实现集群内与第二节点连接的第一节点失效时，由备份节点从失效点处恢复与第二节点的网络连接，保证节点间的正常通信。
一种网络连接接管方法

[发明专利]基于扩展卡尔曼滤波的多温度传感器融合方法-CN201710123793.X有效
发明人：常涛;王鹏;张飞铁;花睿;闫洪黎;周慧 -专利权人：镇江海姆霍兹传热传动系统有限公司
申请日： 2017-03-03 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于扩展卡尔曼滤波的多温度传感器融合方法，加热器在温度测量计算时，融合模型计算、各温度点的测量值，提高温度测量的精度，并在温度传感器失效时保证系统安全运行。本发明不仅能反映各温度点以及系统输入在理论上的相互关系，充分利用已有温度采集传感器信息，且控制装置计算量不大，能实时完成数据更新。在温度传感器不能直接放置在被测位置时，也能利用系统模型和测量值的数据融合来估计被测位置的温度。本发明降低了硬件设计难度和硬件电路成本，还能正确估计被测点的温度。在温度传感器单点失效时，能根据其他温度传感器的数据和系统模型，估计每个温度点的温度，保证加热系统安全有效运行，提升系统安全等级。
基于扩展卡尔滤波温度传感器融合方法

[发明专利]HDFS中NameNode单点失效的解决方法-CN201310082608.9在审
发明人：徐安 -专利权人：汉柏科技有限公司
申请日： 2013-03-15 - 公布日： 2013-06-19 - 主分类号： H04L29/08 文献下载
摘要：本发明涉及分布式文件系统技术领域，具体公开了一种HDFS中NameNode单点失效的解决方法。GlusterFS服务，并在节点A上挂载GlusterFS文件系统；S2、在节点A上启动HDFS NameNode服务，并将HDFS NameNode的元数据保存在所述GlusterFS文件系统中；S3、当节点A失效时，在另一节点B上挂载所述GlusterFS文件系统，并启动HDFS NameNode服务。采用本发明提出的技术方案，能够在HDFS NameNode单点失效时实现NameNode位置的平滑迁移，从而避免因NameNode单点失效给HDFS集群带来的风险和损失。
hdfs namenode 单点失效解决方法

[发明专利]测试结构和测试方法-CN202111079609.9在审
发明人：王磊;肖慧;方文啸;邵伟恒;黄权;李键坷;刘加豪;来萍;路国光;黄云 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2021-09-15 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：对测试结构中的各射频链路进行阻抗测试，以得到各射频链路的阻抗‑时间曲线，根据阻抗‑时间曲线和各射频链路的结构可以识别出长度不同的传输线，从而识别出各射频链路中的焊点和传输线，如果此时有射频链路中存在失效点，由于焊点和传输线已经识别出来，就可以实现对失效点的精确定位，准确分析器件失效位置，满足新型射频器件研制以及应用可靠性研究需求。
测试结构方法

[实用新型]电迁移的测试结构-CN201120331128.8有效
发明人：范曾轶;廖炳隆;马翔;符海丽 -专利权人：上海华虹NEC电子有限公司
申请日： 2011-09-05 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本实用新型电迁移的测试结构可以不通过光学显微镜而迅速地确认电迁移失效点位置，精确到某一个金属线分段。从而为后续的FIB分析缩小了“断面精细切割”寻找失效点的范围和时间，提高了失效分析的效率和成功率。
迁移测试结构

[发明专利]集群节点失效检测方法和系统-CN201410187243.0有效
发明人：李发明 -专利权人：深圳市中博科创信息技术有限公司
申请日： 2014-05-05 - 公布日： 2017-10-27 - 主分类号： H04L12/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种集群节点失效检测方法和系统，控制集群中的节点之间相互发送检测数据包；依次将集群中任一节点作为第二节点，其它节点作为第一节点以确定第二节点的有效性；确定在预设的第一时间间隔之内，未接收到第二节点基于所述第一节点发送的检测数据包反馈的响应数据包的第一节点的数量；在未接收到响应数据包的第一节点的数量大于预设的第一阀值时，记录所述第二节点为失效节点。在大于预设阀值数量的第一节点未接收到第二节点反馈的响应信息时，才认定第二节点为失效节点，保证失效节点定位的准确性。
集群节点失效检测方法系统

[发明专利]功率MOS失效位置的判定方法-CN201610329281.4在审
发明人：马香柏 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2016-05-18 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01R31/265 文献下载
摘要：本发明公开了一种功率MOS失效位置的判定方法，包含：步骤1，去除样品芯片表面钝化层，暴露出金属；步骤2，采用亮点定位工具定位出亮点；步骤3，采用激光成像技术，记录下亮点及其周围的晶粒的形貌；步骤4，在亮点附近做出标记位置；步骤5，在聚焦离子束机台下找到标记位置，并找到亮点对应的晶粒交界，进行切片分析，从而找到失效位置。
功率 mos 失效位置判定方法

[发明专利]失效位置的修补方法和装置-CN202110407955.9在审
发明人：仰蕾;陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种失效位置的修补方法和装置，在对晶圆的失效位置进行修补时，可以先确定待处理晶圆中的失效位元；并基于挖掘规则库中包括的潜在挖掘规则，确定与失效位元存在关联的目标潜在失效位元；这样基于挖掘规则库中的潜在挖掘规则，确定与失效位元存在关联的目标潜在失效位元，可以挖掘出更多的与失效位元存在关联的目标潜在失效位元，使得后续在对失效位元对应的失效位置，和目标潜在失效位元对应的目标潜在失效位置进行修补时，可以在一定程度上避免失效位元位置被遗漏
失效位置修补方法装置

首页
«上一页
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条