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- [发明专利]一种图像复杂度评估方法及装置-CN201610541057.1有效
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康鹏涛
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合肥君正科技有限公司
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2016-07-11
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2020-04-07
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H04N19/105
- 本发明提供一种图像复杂度评估方法及装置，所述方法包括：选择参考帧；计算待编码帧与参考帧的选定部分的宏块所对应的SATD值并转换为整帧SATD值，根据整帧SATD值和折中系数计算图像复杂度；根据图像复杂度计算预测码流；根据图像复杂度获取述待编码帧的实际码流和重建帧数据序列；将折中系数乘以预测码流并除以实际码流得到新的折中系数，并保存预测码流、实际码流、新的折中系数和整帧SATD值；重复上述步骤直到完成每一帧的编码操作，将得到的预测码流、实际码流、折中系数和图像复杂度分别与之前预定次数内保存的值进行对比，当误差在设定阈值范围内时将最后的预定次数内保存的折中系数和整帧SATD值进行矢量合并，得到最终的图像复杂度和折中系数
- 一种图像复杂度评估方法装置
- [发明专利]图象编码方法及装置-CN94118134.0无效
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全钟求
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三星电子株式会社
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1994-11-08
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1995-08-09
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H04N7/24
- 本发明提出的图象编码方法的步骤是根据输入图象的空域复杂性产生各宏块的复杂性规范值，通过对输入图象进行离散余弦变换、对其值在-1至+1范围内的离散余弦变换系数进行计数产生零系数和，按照零系数和产生各宏块的零系数规范值，按照零系数和及预定压缩比产生各宏块的非定常权，以及将复杂性规范值、零系数规范值和非定常权相加得到比例因子。每个宏块的离散余弦变换系数的量化步长由这个宏块的比例因子控制。
- 图象编码方法装置
- [发明专利]缺陷密度计算方法-CN201210277071.7有效
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陈亚威
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无锡华润上华科技有限公司
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2012-08-06
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2014-02-12
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H01L21/66
- 本发明公开了一种缺陷密度计算方法，包括以下步骤：S1、计算晶圆生产线上芯片的产品良率Wafer Yield；S2、计算所述产品单个芯片的面积DieArea；S3、根据器件测试项目系数Device Test Bin、光刻系数Litho Coefficient和工艺技术系数Technology Coefficient计算所述产品的芯片制造过程的复杂度系数N；S4、根据芯片的产品良率Wafer Yield、面积Die Area及复杂度系数N计算缺陷密度D0。本发明通过器件测试项目系数B、光刻系数L和工艺技术系数T计算复杂度系数N，通过修正后的N计算缺陷密度大小，减小了缺陷密度与实际晶圆制程能力的误差，同时该计算方法及工艺流程不会产生额外的成本。
- 缺陷密度计算方法
- [发明专利]图像处理装置及电子设备-CN202211215698.X在审
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辛永欣
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苏州浪潮智能科技有限公司
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2022-09-30
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2023-01-31
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G06T3/40
- 本申请实施例提供了一种图像处理装置及电子设备，其中，该装置包括：图像压缩网络，图像压缩网络包括多层卷积层，每层卷积层包括：复杂度确定模块，用于获取图像特征向量并确定图像特征向量的复杂度系数，根据复杂度系数确定目标网络压缩模块，在复杂度系数大于预设阈值的情况下，目标网络压缩模块为复杂网络的压缩模块，否则，目标网络压缩模块为简单网络的压缩模块；复杂网络的压缩模块或简单网络的压缩模块，用于计算接收图像特征向量，得到压缩后的图像特征向量通过本申请，解决了图像在不损失信息的情况下压缩问题，进而达到了自适应选择使用复杂网络的压缩模块还是简单网络压缩模块对图像进行压缩的效果。
- 图像处理装置电子设备
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