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[发明专利]一种条形试样打磨的装置-CN201710400732.3在审
发明人：林建平;林紫雄;郑中华;陈毅龙 -专利权人：厦门理工学院
申请日： 2017-05-31 - 公布日： 2017-10-03 - 主分类号： B24B41/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种条形试样打磨的装置包括基座，试样设在所述基座上，所述基座至少包括第一基准面，试样相应所述第一基准面暴露第一加工面；第一基准块，所述第一基准块设在基座上，所述第一基准块包括第一校准面，所述第一基准块可以沿垂直第一校准面的方向移动，试样贴靠在所述第一校准面上；第二基准块；所述第二基准块设在基座上，所述第二基准块包括第二校准面，所述第二基准块可以沿垂直第二校准面的方向移动，试样贴靠在所述第二校准面上；压紧单元，用于固定试样、第一基准块与第二基准块的位置通过第一校准块与第二校准块使得试样的两个面能够被准确定位，保证条形试样加工后的平整度与尺寸，使得条形试样的打磨尺寸能够精准控制。
一种条形试样打磨装置

[实用新型]一种混凝土收缩率测量装置-CN202221778853.4有效
发明人：罗小龙;刘明宣;谢冲;张贝贝;蔡志彪;李冰寒;宋文英 -专利权人：重庆源锦锦兴新材料科技有限公司
申请日： 2022-07-11 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： G01N33/38 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种混凝土收缩率测量装置，包括试样盒、千分表、顶紧装置，所述试样盒内部开有一条用于容纳试样块的试样槽，所述试样槽内还设有用于减少所述试样块与所述试样槽之间摩擦力的滚轮，所述试样槽的两端分别设有上基准板和下基准板；所述顶紧装置包括滑动设置在上基准板和下基准板之间的顶紧板和用于提供顶紧力的弹性装置；所述千分表的表体固定安装在所述试样盒的上基准板上，通过所述千分表能够对所述试样块的长度进行测量。本实用新型提供的这种混凝土收缩率测量装置不仅能使试样块与试样盒的下基准板接触更加紧密，而且能在养护环境中长时间对测量结果进行实时监测，测量精度更高。
一种混凝土收缩测量装置

[发明专利]溴系阻燃化合物的定量装置-CN202210282103.6在审
发明人：工藤恭彦 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2022-03-21 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01N30/06 文献下载
摘要：本发明提供一种在使用多个同种分析装置分析试样时能简便地对溴系阻燃化合物定量的技术。定量装置(100)具备：存储部(41)，保存表示参照化合物的测量强度相对于多个对象化合物中的1个基准化合物的测量强度的关系的相对响应系数(411)；分析装置(10、20)；标准试样测量部(43)，测量标准试样获取基准化合物的强度；分析对象试样测量部(45)，通过测量分析对象试样获取基准化合物及参照化合物的强度；基准化合物定量部(46)，求出分析对象试样包含的基准化合物的定量值；参照化合物定量部(47)，基于标准试样包含的基准化合物的量和基准化合物的强度
阻燃化合物定量装置

[发明专利]QCM传感器-CN201310669620.X有效
发明人：田边幸子;须田正之;村松宏 -专利权人：精工电子有限公司
申请日： 2013-12-10 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： G01N5/02 文献下载
摘要：提供一种QCM传感器，当想要在试样气氛中测定试样的物理量时，也能够高精度地检测测定试样的物理量。本发明的QCM传感器通过使试样与形成在石英振子表面的激励电极接触来检测试样的物理量，其特征在于，该QCM传感器具有：测定用石英振子，其具有作为检测对象的测定试样能够接触的第1电极和表面形成第1电极的第1石英基板；基准用石英振子，其具有作为检测测定试样的物理量时的基准的基准试样能够接触的第2电极和表面形成第2电极的第2石英基板；外壳，其收纳测定用石英振子和基准用石英振子；以及密封部，其在使基准试样与第2
石英振子物理量电极传感器表面形成基准试样石英基板检测收纳电极接触激励电极检测对象试样气氛密封部封闭

[实用新型]铁磁性磨屑分析检测机构-CN202122293736.0有效
发明人：徐荣网;黄建永 -专利权人：昆山书豪仪器科技有限公司
申请日： 2021-09-22 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G01N27/74 文献下载
摘要：本实用新型提供的铁磁性磨屑分析检测机构，属于铁量检测技术领域，包括：基准盒，内部适于容纳基准油样；试样盒，内部适于容纳试样油样；检测装置，具有用于检测铁磁性磨屑的电磁线圈；移动组件，连接所述基准盒和所述试样盒，所述移动组件用于驱动所述基准盒和所述试样盒依次移动至所述检测装置；本实用新型的铁磁性磨屑分析检测机构，通过移动组件用于驱动基准盒和试样盒依次移动至检测装置，在进行现场检测时，只需将试样盒放置在指定位置
铁磁性分析检测机构

[发明专利]光学测定系统、光学测定方法以及记录介质-CN202210288673.6在审
发明人：川口史朗;中岛一八;泷泽勇人;前田吾郎 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2022-03-22 - 公布日： 2022-09-27 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：光学测定系统包括：光源；分光检测器；基准试样，其构成为相对于温度变化维持特性；切换机构，其将光学路径在第一光学路径与第二光学路径之间进行切换，所述第一光学路径用于向试样照射光并将在试样产生的光引导至分光检测器，所述第二光学路径用于向基准试样照射光并将在基准试样产生的光引导至分光检测器；以及计算部，其基于在第一时刻通过向基准试样照射光而输出的第一检测结果与在第二时刻通过向基准试样照射光而输出的第二检测结果的变化来执行校正处理，由此根据在与第二时刻在时间上接近的第三时刻通过向试样照射光而输出的第三检测结果来计算试样的测定值。
光学测定系统方法以及记录介质

[发明专利]铁磁性磨屑分析检测机构及检测方法-CN202111107645.1在审
发明人：徐荣网;黄建永 -专利权人：昆山书豪仪器科技有限公司
申请日： 2021-09-22 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G01N27/74 文献下载
摘要：本发明提供的铁磁性磨屑分析检测机构及检测方法，属于铁量检测技术领域，其中，所述铁磁性磨屑分析检测机构，包括：基准盒，内部适于容纳基准油样；试样盒，内部适于容纳试样油样；检测装置，具有用于检测铁磁性磨屑的电磁线圈；移动组件，连接所述基准盒和所述试样盒，所述移动组件用于驱动所述基准盒和所述试样盒依次移动至所述检测装置；本发明的铁磁性磨屑分析检测机构，通过移动组件用于驱动基准盒和试样盒依次移动至检测装置，在进行现场检测时，只需将试样盒放置在指定位置，便可电控操作进行检测，从而提高检测的便利性，提高检测的效率和精准性。
铁磁性分析检测机构方法

[发明专利]用于热分析的系统和方法-CN201080052350.2无效
发明人： J.布卢姆 -专利权人：耐驰－仪器制造有限公司
申请日： 2010-11-17 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01N25/48 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于热分析的系统，其在一个测量腔中在试样侧带有试样坩埚，且在基准样侧带有基准样坩埚，其中试样坩埚和基准样坩埚均设置有用于温度调节和/或温度检测的珀耳贴系统。
用于分析系统方法

[发明专利]质量流量控制器系统-CN201080047852.6有效
发明人：竹内洋之;米田丰;矶部泰弘 -专利权人：株式会社堀场STEC
申请日： 2010-12-22 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G05D7/06 文献下载
摘要：所述质量流量控制器系统存储表示基准气体的流量值与试样气体CF值的对应关系的关系数据，使用规定的CF值将目标流量换算为基准气体流量，根据换算得到的基准气体流量和与该基准气体流量对应的CF值计算出试样气体流量，并将试样气体流量和目标流量进行比较，基于试样气体流量和目标流量之间的误差，使用对应关系更新在基准气体流量换算或试样气体流量计算中使用的CF值。
质量流量控制器系统

[发明专利]自动分析装置及分析方法-CN201480063430.6有效
发明人：薮谷千枝;牧野彰久;松原茂树 -专利权人：株式会社日立高新技术
申请日： 2014-12-08 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01N33/86 文献下载
摘要：设定信号基准值(SLocal)，使基于信号值(透射光量、散射光量、荧光光量、浊度)与信号基准值(S)的比较结果而测定的血液凝固时间基准试样的血液凝固反应时间(T)相当于与血液凝固时间基准试样对应地预先确定的血液凝固反应时间的期望值(Te)，其中该信号值与根据血液凝固时间基准试样和试剂的混合反应而进行时间变化的血液凝固时间相关。由此，使用血液凝固时间基准试样来掌控试剂状态，并对每个试剂容器设定固有的信号基准值，从而能够提高测定结果的可靠性。
自动分析装置方法

[发明专利]可再定向的试样座-CN03802522.1有效
发明人：戴维·罗伯茨·麦克默特里 -专利权人：瑞尼斯豪公司
申请日： 2003-01-22 - 公布日： 2005-05-25 - 主分类号： G01B5/00 文献下载
摘要：公开了一种装置，包括一个基座(2)以及一个可再定向的试样座(4)，该可再定向的试样座(4)可以在至少第一和第二侧面可重复地(可能是运动地)安装在基座(2)上，其中当安装在基座上时该至少两个表面之间的关系已知，从而当试样(13)安装在试样座上时，试样座的不同表面接纳在基座上时试样的不同方向之间的关系已知。该至少两个表面之间的关系可以由试样座(4)上的基准特征确定，这些基准特征提供了试样座当其接纳在基座上时的位置信息。基准特征可以由连接于试样座的基准块、球或杆提供。还公开了利用本发明的基座和可再定向的试样座至少分两个阶段在试样上操作，例如扫描或机加工的装置和方法。
定向试样

[发明专利]材料本构模型的确定方法、装置、电子设备和介质-CN202110925621.0在审
发明人：袁保国;黄浩 -专利权人：北京车和家信息技术有限公司
申请日： 2021-08-12 - 公布日： 2022-12-06 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：本公开涉及一种材料本构模型的确定方法、装置、电子设备和介质；其中，该方法包括：从已有材料数据库的应力应变曲线中确定材料试样的基准曲线，基准曲线为与材料试样匹配度较高的材料数据库中的一条应力应变曲线；对基准曲线进行缩放变换，得到材料试样对应的应力应变曲线；根据材料试样对应的应力应变曲线，确定材料试样的本构模型。本公开实施例极大的节省了材料试样用于构建本构模型的应力应变曲线的确定时长，省时省力，同时，高效构建出材料试样的本构模型。
材料模型确定方法装置电子设备介质

[发明专利]图形对位方法、图形检查装置及图形检查系统-CN200710167000.0无效
发明人：内木裕 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2007-11-14 - 公布日： 2008-05-21 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种能够在晶片等被检查试样的制造装置和检查装置中，在短时间内容易地实现形成于被检查试样上的各种图形的对位的图形检查装置。本发明的图形检查装置(1)包括试样定位单元(9)和偏差量计测单元，试样定位单元(9)在形成为板状的被检查试样(T)的外周缘(T1、T3)的形状、与具有和该被检查试样(T)相同的外周缘形状的板状基准试样(R)的外周缘(R1、R3)的形状彼此大致一致的位置处配置所述被检查试样(T)。偏差量计测单元在使这些被检查试样(T)和基准试样(R)的外周缘(R1、R3、T1、T3)的形状彼此一致的状态下，计算形成于所述被检查试样(T)上的被检查图形(T5)的位置和形成于所述基准试样(R)上的基准图形
图形对位方法检查装置系统

[实用新型]一种气体红外分析仪-CN201920105439.9有效
发明人：张儒 -专利权人：茂名市民兴气体有限公司
申请日： 2019-01-22 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01N21/3504 文献下载
摘要：本实用新型的气体红外分析仪在光源和基准室和试样室之间设置有分配器，分配器内设置有Y型通道，Y型通道的内壁粘附有反光镜且只具有一开口的一端位于光源的前方，Y型通道另一端的两个分叉道的开口分别对准基准室和试样室的光线入口，两个分叉道的开口处均设有干涉滤光片，如此设置可将光源发出的红外线等量分配给基准室的气体和试样室的气体，并且兼有滤光器的作用，结构简单，减少设备降低成本。同时，基准室和试样室的内部均设置有压力传感器，压力传感器分别连接有压力仪表，通过压力仪表可直观地得知基准室和试样室内的气压是否相同，若不相同则通过调整试样室内的气体量调节，使得基准室和试样室内的气压相等从而减少因气压不同带来的测试误差
基准室试样室光源气压红外分析仪分配器有压力室内分叉开口反光镜本实用新型干涉滤光片气体量调节压力传感器测试误差等量分配分析测试光线入口减少设备压力仪表开口处滤光器传感器红外线内壁相等对准仪表直观

[发明专利]分析方法以及程序-CN201980077352.8在审
发明人：工藤恭彦;杉本真二 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2019-11-20 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01N30/72 文献下载
摘要：本发明涉及分析方法，具备：通过使用色谱仪的分析装置对含有规定量的规定成分的基准试样进行分析，求出基于分析装置的规定量的规定成分的检测值即基准检测值；基于基准检测值，计算测量对象试样中的检测对象成分的浓度为基准浓度以上还是基准浓度以下的判断基准即判断基准值；通过分析装置对测量对象试样进行分析，在与检测对象成分相对应的峰检测时间段中检测到超过了判断基准值的检测值的情况下，判断为检测出检测对象成分。
分析方法以及程序

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