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[发明专利]平视显示装置以及反射光学系统-CN201680048784.2有效
发明人：横江润也;南原孝启 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2016-08-08 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：平视显示装置具备照明光学系统(22)、成像光学系统(10)以及反射光学系统(34)。照明光学系统(22)投射表示信息的光源光。成像光学系统(10)使由照明光学系统(22)投射的光源光投影于投影面。反射光学系统(34)具有：使红外线区域的电磁波透过并反射可见光区域的电磁波的电介质多层膜。反射光学系统(34)构成为：包含来自照明光学系统(22)的光源光的至少一部分波长的对象波长的相位差成为大于‑π/2[rad]且小于π/2[rad]的范围。反射光学系统(34)配置为：在从照明光学系统(22)至成像光学系统(10)的光源光的路径上，来自照明光学系统(22)的光源光的偏振光轴α相对于入射面成为0度＜α＜90度＜α＜180度。
平视显示装置以及反射光学系统

[发明专利]基于像素级偏振片的消畸变超微纳光学系统-CN202111147482.X在审
发明人：杨秀彬;岳炜;常琳;张德福;周美丽 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-09-29 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：基于像素级偏振片的消畸变超微纳光学系统，涉及空间光学技术领域。解决现有星载海洋遥感中系统实现成本高、结构复杂、无法实时观测等问题，包括地面矫正镜与航天防辐射镜组、双高斯成像镜组、像质矫正镜组、像素级探测器等四部分组成。目标发射的光束经过外遮光罩滤过部分杂散光，经成像镜组与像质校正镜组，最终成像与接收像素级偏振探测器处，所述接收像面所得到的为目标0°、45°、90°、135°的四张海洋目标的偏振图像信息；所述的光学系统设置视场光阑和内外遮光罩本发明光学系统设计成双高斯物镜的形式，严格控制了光学系统总长，用于星载成像时节约星上空间，降低相机质量，节省发射成本。
基于像素偏振畸变超微纳光学系统

[发明专利]同轴的激光雷达系统-CN201910510182.X在审
发明人： S·施皮斯贝格尔;F·安特;M·萨巴尔 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2019-06-13 - 公布日： 2019-12-20 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明涉及一种同轴的激光雷达系统。本发明尤其涉及一种具有减少的校准开销和减小的安装空间的同轴的激光雷达系统。所述激光雷达系统包括：构造用于发射激光雷达辐射的发送器单元；构造用于探测入射的激光雷达辐射的接收器单元；和用于成像激光雷达辐射的光学系统(30)，其中，由所述光学系统(30)共线地传输由所述发送器单元(10)发射的辐射和入射到所述接收器单元上的辐射；其中，所述发送器单元的发射面(12)布置在所述成像光学系统(30)的焦点(32)之外。
激光雷达系统发送器单元辐射接收器单元光学系统激光雷达入射同轴成像光学系统成像激光雷达安装空间发射校准发射面共线减小探测传输焦点

[发明专利]用于测量目标对象的形状的测量装置、系统和制造方法-CN201680040412.5在审
发明人：西川裕也 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2016-06-29 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：测量装置包括投影光学系统；照明单元；成像单元，被配置为对由所述投影光学系统投影了图案光的目标进行成像，从而通过由所述目标反射的图案光捕获所述目标的第一图像；以及处理单元，被配置为获得关于目标的形状的信息照明单元包括相对于光轴对称地布置在投影光学系统的光轴周围的光发射器。处理单元通过使用目标的第二图像来校正第一图像，并且基于校正的图像来获得形状信息，其中，成像单元对由光发射器照明的目标对象进行成像，以通过从光发射器发射并由目标对象反射的光捕获第二图像。
用于测量目标对象形状装置系统制造方法

[发明专利]照相机-CN98125303.2无效
发明人：儿玉晋一;杉田幸彦 -专利权人：奥林巴斯光学工业株式会社
申请日： 1998-12-11 - 公布日： 2004-01-28 - 主分类号： G03B19/02 文献下载
摘要：以一种改进的照相机包括彼此独立存在的照相光学系统和取景器光学系统。为使得取景器观察图象不会被照相机透镜遮蔽，照相机包括用于分别驱动照相光学系统和取景器光学系统的驱动电路，以及用于控制照相光学系统的光学系统控制电路，其控制方式使得取景器光学系统将不会被照相光学系统阻挡。
照相机

[实用新型]长距离漫反射型光电传感器-CN200820056966.7无效
发明人：甘海苗 -专利权人：甘海苗
申请日： 2008-04-03 - 公布日： 2009-01-14 - 主分类号： G01V8/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种长距离漫反射型光电传感器，其包括壳体、底盖、光学系统和检测电路，所述光学系统包括滤光罩、透镜、镜架、发射器、接收器及光源，所述发射器和接收器安装于所述壳体内部；于所述壳体的前端设有光学系统本实用新型通过独特的光学系统使得发射和接收能量增大，大大提高了光学增量，检测距离至少增长4倍；结合双接收电路的使用，实现了对带有较强背景光线的目标物的稳定检测。
长距离漫反射光电传感器

[实用新型]一种可同时探测ICG与亚甲蓝的双示踪检测装置-CN201720948012.6有效
发明人：章一新;许德冰;杨聪 -专利权人：济南显微智能科技有限公司
申请日： 2017-07-31 - 公布日： 2018-12-25 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可同时探测ICG与亚甲蓝的双示踪检测装置，包括主机、光源发射器、光学系统、摄像系统、计算机处理系统和显示系统，所述的主机内设置有控制器，通过控制器可以使所述的光源发射器发出660nm通过控制器可以改变所述光源发射器功率。所述的光学系统采用双波长光学系统，所述的光学系统可以同时通过690nm和815nm的光，而屏蔽掉其他的波长的光谱。
亚甲蓝光学系统光源发射器控制器本实用新型示踪检测波长荧光主机探测计算机处理系统单独显示摄像系统显示系统荧光特性检出率双波长屏蔽光谱示踪检测

[发明专利]投射光学设备-CN200880024654.0有效
发明人：高浦淳;藤田和弘;安部一成;山影明广;永濑修;河野义次 -专利权人：株式会社理光
申请日： 2008-09-02 - 公布日： 2010-06-16 - 主分类号： G03B21/14 文献下载
摘要：一种投射光学设备，能够提供高图像质量以及具有减小的尺寸。投射光学设备包括光阀和投射光学系统，该投射光学系统包括第一光学系统(5)和第二光学系统(3′)，该第一光学系统(5)具有透射折射元件，该第二光学系统(3′)具有反射折射元件。形成在光阀上的图像被投射光学系统投射在投射表面(4)上。第一光学系统(5)中的光轴被纵向和横向折转。第一光学系统的第一组(5A)被容纳一个在空间(无用空间)内，该空间的下限被第二光学系统(3′)的下边缘限定，借此减少设备的深度。
投射光学设备

[实用新型]半导体激光测试装置-CN201420380622.7有效
发明人：胡海;夏虹;赵楚中;刘文斌;李成鹏 -专利权人：深圳清华大学研究院;深圳瑞波光电子有限公司
申请日： 2014-07-10 - 公布日： 2015-01-28 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型提供一种半导体激光测试装置，其包括一个用于承载一个样品的导体载物台、一个电源、一个正对该导体载物台设置的光学系统及与该光学系统光学耦合的一个激光光源、一个成像装置及一个光谱仪。该激光光源用于发射激光，该激光通过该光学系统投射在该样品上以使该样品光致发光(PL)；该成像系统用于通过该光学系统对EL或PL的该样品成像；该光谱仪用于通过该光学系统测量该样品EL或PL的波长。
半导体激光测试装置

[发明专利]成像光学系统、投射型显示装置及摄像装置-CN201910664843.4有效
发明人：天野贤 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2019-07-22 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本发明提供一种小型且广角，并且各像差得到良好的校正的具有高光学性能的成像光学系统、具备该成像光学系统的投射型显示装置及摄像装置。成像光学系统从放大侧起依次包括反射光学系统和折射光学系统，该折射光学系统包括多个透镜，折射光学系统在光路上的折射光学系统与反射光学系统之间且与缩小侧成像面共轭的位置形成第1中间像，反射光学系统使第1中间像再成像于放大侧成像面反射光学系统从放大侧起沿光路依次包括具有正光焦度的第1反射面、具有曲面形状的第2反射面及具有正光焦度的第3反射面。
成像光学系统投射显示装置摄像装置

[实用新型]小型高功率窄脉冲1°×60°大视场激光发射装置-CN201320344002.3有效
发明人：王金花;张晨钟;姚宏宝;周魁;郝淳 -专利权人：中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所
申请日： 2013-06-17 - 公布日： 2014-05-07 - 主分类号： G02B27/09 文献下载
摘要：本实用新型属于激光发射技术领域，具体涉及一种小型高功率窄脉冲1°×60°大视场激光发射装置。本实用新型包括：激光驱动电路、激光器和大视场光学系统；所述激光驱动电路驱动激光器发射激光，大视场光学系统对激光垂直发散角进行扩展、水平发散角进行压缩。本实用新型将激光驱动电路、激光器和光学系统进行一体化、小型化设计，一路故障只需对一路进行维修测试，对其他支路不造成影响，装配、调试和维修方便，测试性和维修性得到显著改善。
小型功率脉冲 60 视场激光发射装置

[发明专利]用于读取存储磷光板的扫描装置-CN200780005311.5有效
发明人： A·伯格;M·B·海姆;S·扎斯拉瓦斯基 -专利权人：卡尔斯特里姆保健公司
申请日： 2007-01-26 - 公布日： 2009-03-11 - 主分类号： G02B26/10 文献下载
摘要：扫描装置包括柱形构件(12)和光学系统(14)。柱形构件围绕转动轴(16)旋转且具有外表面(18)来支承在其上的存储磷光样本(20)。光学系统在平行于转动轴方向(22)上平位移动以便扫描该样本。光学系统包括开口(40)、激励束(42)、集成构件(50)和单检测器(54)。激励束(42)被引导穿过开口(40)以冲击样本(20)并导致光从该样本发射。集成构件(50)利用提供漫反射的内部三维多项式表面反射发射光。单检测器(54)设置为相邻于用于采集反射的发射光的集成构件(50)。
用于读取存储磷光扫描装置

[发明专利]图像投影设备和照明光学系统-CN201410032144.5无效
发明人：森一郎 -专利权人：索尼公司
申请日： 2014-01-23 - 公布日： 2014-08-06 - 主分类号： G03B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及图像投影设备和照明光学系统。一种图像投影设备包括：照明光学系统；与照明光学系统整体组装的投影光学系统；以及仅固定到照明光学系统和投影光学系统中具有较大重量的一个系统的框架。
图像投影设备照明光学系统

[发明专利]摄像装置-CN201680047390.5有效
发明人：小野修司 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2016-05-11 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G03B9/02 文献下载
摘要：一种摄像装置，具备：成像光学系统，其将具有彼此不同的成像特性的第1光学系统及第2光学系统以同心状组合而构成；及图像传感器，其具备由以二维状排列的光电转换元件构成的多个像素，且分别光瞳分割经由第1光学系统及第2光学系统入射的光束而由像素选择性地受光，其中，调整经由各光学系统入射于图像传感器的光的光量，且防止干扰。具备调整通过第1光学系统(120)及第2光学系统(130)的光的光量的光圈(200)。光圈具备内径及外径能够缩放的环状的遮光部，且在第1光学系统及第2光学系统的光瞳区域的边界中使遮光部的内径及外径缩放而调整通过第1光学系统及第2光学系统的光的光量。
摄像装置

[发明专利]一种适用于低温光学系统的单限位螺垫及其使用方法-CN202111014858.X有效
发明人：武俊强;张兆会;孙剑;冯玉涛;韩斌;吴阳;畅晨光;李娟 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2022-05-20 - 主分类号： F16B43/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于低温光学系统的单限位螺垫及其使用方法。该该单限位螺垫用于光学系统安装板和真空密闭箱底板的螺纹连接，具体使用过程为：在光学系统安装板的上表面以及光学系统安装板下表面和真空密闭箱底板的上表面之间均放置单限位螺垫；固定螺钉依次穿过光学系统安装板上方的单限位螺垫、光学系统安装板、光学系统安装板下方单限位螺垫后与真空密闭箱底板上连接，从而实现光学系统安装板与真空密闭箱底板的对接安装，从而根本上解决了低温下由于光学系统安装底板与真空密闭箱温度及材料不同造成光学系统安装底板变形，从而影响光学系统装调精度的问题，大大提升了光学系统的使用可靠性。
一种适用于低温光学系统限位及其使用方法