“反射光检测”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果3725004个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]表面检测装置和表面检测方法-CN202210401892.0在审
发明人：张华林;毛增涛;曲亚楠 -专利权人：杭州海康机器人技术有限公司
申请日： 2022-04-18 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请公开了一种表面检测装置和表面检测方法。基于本申请，检测光可以包括偏振方向不同的第一检测光和第二检测光，其中，第一检测光产生的第一反射光、以及由第二检测光产生的第二反射光中从物体表面直接反射成像的漫反射光的光线特性基本相同，并且，由于多级反射光具有趋近于镜面反射光的特性，因而第一反射光和第二反射光中的多级反射光分别保留了第一检测光和第二检测光的不同偏振特性，从而，第一反射光和第二反射光中的漫反射光可以在第一检测图像和第二检测图像中形成共性图像特征、多级反射光通过偏振过滤而被差异化成像，进而，通过寻求第一检测图像和第二检测图像中的共性图像特征、排除差异化图像特征，可以提高检测的准确度。
表面检测装置方法

[发明专利]摩擦系数估计设备和摩擦系数估计方法-CN201110143913.5有效
发明人：冈野茂治;山崎信久 -专利权人：株式会社PFU
申请日： 2011-05-31 - 公布日： 2011-12-28 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：一种摩擦系数估计设备被配置为通过向所述表面照射光并检测反射光的镜面反射光成分和漫反射光强度来估计片形介质表面的摩擦系数。所述摩擦系数估计设备包括照射单元，包括第一照射单元和第二照射单元；镜面反射光接收单元包括第一镜面反射光接收单元，接收反射光的第一镜面反射光成分并检测第一镜面反射光强度，第二镜面反射光接收单元，接收反射光的第二镜面反射光成分并检测第二镜面反射光强度；以及漫反射光接收单元，接收反射光的漫反射光成分并检测漫反射光强度；以及控制单元，根据第一反射光强度系数和第二反射光强度系数，估计所述表面的摩擦系数。
摩擦系数估计设备方法

[发明专利]道路标线逆反射光检测系统和道路标线逆反光检测仪-CN201910987162.1有效
发明人：洪宇;王进祖;李丙杰;曹曦;汪芳 -专利权人：安徽岩芯光电技术有限公司
申请日： 2019-10-17 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本申请属于道路标示线检测技术领域，具体而言，涉及一种道路标示线逆反射光系数检测系统和道路标线逆反射光检测仪。光源用于发射道路标示线的检测光；光阑用于对检测光进行限形；光源准直镜用于对发射光进行准直整形；反射镜用于将检测光反射至道路标线的光源照射角度区域并将道路标线的逆反射光反射至逆反射光接收传感器；逆反射光接收传感器用于接收逆反射光，以及将逆反射光转换为光电信号；反射光处理模块用于接收光电信号，以及对光电信号进行处理，得到道路标线的逆反射光系数。本申请实施例通过获取道路标线的逆反射光系数，可以提高道路标示线逆反射光检测系统工作的稳定可靠性。
道路标线逆反检测系统

[实用新型]一种光学传感器-CN202221540067.0有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：深圳数马电子技术有限公司
申请日： 2022-06-20 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01D5/26 文献下载
摘要：本申请提供了一种光学传感器，涉及光电技术领域，包括：光发射组件，包括发射检测光束的光发射端，以及与光发射端同轴设置的准直单元；反射器，设置在检测光束的光路上，反射检测光束得到的第一反射光，第一反射光与检测光束的光轴平行；偏振分光镜，设置在检测光束和第一反射光的光路上，检测光束和第一反射光进入偏振分光镜的入射角均等于偏振分光镜的布儒斯特角，偏振分光镜的法线与检测光束的偏振方向在同一平面内；偏振分光镜反射第一反射光得到第二反射光；聚光单元，设置在第二反射光的光路上，将第二反射光聚焦至光电探测器的感光区域。本申请能够减少检测光路中能量的损失，从而提高检测距离和检测灵敏度。
一种光学传感器

[发明专利]位置检测系统以及投射型显示系统-CN201210064097.3有效
发明人：清濑摄内;远藤甲午 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2012-03-12 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G06F3/042 文献下载
摘要：本发明涉及位置检测系统以及投射型显示系统。光学式的位置检测系统具有朝向第1检测对象物与第2检测对象物射出光的光射出部、接收来自第1检测对象物的第1反射光的第1受光部、接收来自第2检测对象物的第2反射光的第2受光部，上述第1反射光与上述第2反射光的波长不同，上述第1检测对象物具有反射上述第1反射光的第1反射滤波器，上述第2检测对象物具有反射上述第2反射光的第2反射滤波器。
位置检测系统以及投射显示

[发明专利]光学测量装置和光学测量方法-CN201110391018.5无效
发明人：濱田基明 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2011-11-30 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测量装置和光学测量方法，不仅可以测量(计算)试样的全反射光，还可以单独测量(计算)散射反射光和反射雾度等反射特性，并利用该特征计算出试样的膜厚。上述光学测量装置包括：第一反射光测量光学系统(3)，利用积分球(2)对全反射光进行聚光；第二反射光测量光学系统(3)，利用所述积分球(2)对散射反射光进行聚光；以及检测光学系统(7)，对利用积分球(2)聚光后的光进行检测；基于通过第一反射光测量光学系统(3)和检测光学系统(7)得到的全反射光、以及通过第二反射光测量光学系统(3)和检测光学系统(7)得到的散射反射光，计算出反射雾度，并且根据全反射光计算出试样的膜厚
光学测量装置测量方法

[发明专利]激光辐照下运动物体反射光、透射光的检测装置及方法-CN202211138649.0在审
发明人：张博;吕宣德;王晓白 -专利权人：中国航空制造技术研究院
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光辐照下运动物体反射光、透射光的检测装置及方法，包括运动装置，用以放置样品，并使所述样品基于一定方向运动；激光辐照光路模块，用以产生激光辐照线束射向处于运动状态的所述样品；反射光检测器，用以检测反射光数据；反射光收集罩，用以引导照射在处于运动状态下所述样品表面产生的反射光，将所述反射光引导至所述反射光检测器。其目的是实现实时对高速运动物体在激光照射下发出的反射光或透射光进行检测。
激光辐照运动物体反射光透射检测装置方法

[发明专利]缺陷检测方法及缺陷检测系统-CN201811349970.7在审
发明人：王通;许继仁;林庆儒 -专利权人：芯恩（青岛）集成电路有限公司
申请日： 2018-11-14 - 公布日： 2020-05-22 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明提供一种缺陷检测方法及缺陷检测系统，缺陷检测方法包括步骤：1)使用短波光及长波光分别对待检测晶圆各区域进行交替脉冲式扫描；2)接收待检测晶圆对短波光进行反射的短波反射光信号及对长波光进行反射的长波反射光信号；3)去除位于预设强度范围之外的短波反射光信号及长波反射光信号，并去除待检测晶圆同一区域反射的、且位于预设强度范围之内的短波反射光信号及长波反射光信号二者中的强度较小者；4)依据保留的短波反射光信号及保留的长波反射光信号形成缺陷图形以进行缺陷检测
缺陷检测方法系统

[实用新型]一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪-CN202223554819.1有效
发明人：陈章维;刘希凡 -专利权人：中元汇吉生物技术股份有限公司
申请日： 2022-12-29 - 公布日： 2023-06-16 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪，属于体外诊断设备技术领域，包括第一反射光耦及第二反射光耦，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦之间设置有待检测区，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦均朝向所述待检测区进行照射；所述第一反射光耦包括第一发光器及第一受光器，所述第二反射光耦包括第二发光器及第二受光器，所述第一受光器设置在所述第二发光器的照射范围外，所述第二受光器设置在所述第一发光器的照射范围外。通过对第一反射光耦和第二反射光耦的照射范围与受光器之间互相避让，避免两个光耦光信号相互干涉情况的出现，提高了位置检测系统检测的精准度，提升位置检测系统工作流程的顺畅性。
一种位置检测系统样本输送分析

[发明专利]激光加工装置及激光加工方法-CN201780077289.9有效
发明人：牟礼胜仁;嶋田诚;福冈大岳;土本秀和 -专利权人：日商斯米特克股份有限公司;住友大阪水泥股份有限公司;浜松光子学株式会社
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： H01L21/268 文献下载
摘要：激光加工装置具备：测定用光源；聚光用透镜；根据在激光入射面被反射的测定用光的反射光，检测激光入射面的位移的位移检测部；及将测定用光及测定用光的反射光的至少任一者的成像状态进行移动的成像状态调整部。位移检测部具有：将测定用光的反射光分支成多个分支反射光的分支部；对多个分支反射光各个附加互相不同的大小的像散量的多个像散附加部；检测附加有像散的多个分支反射光各自的光束形状的多个光束形状检测部；及从多个分支反射光的光路之中，选择对应于由成像状态调整部进行调整的成像状态的一个，根据所选择的分支反射光的光路中的光束形状检测部的检测结果，取得关于位移的信号的信号取得部。
激光加工装置方法

[发明专利]原位单端反射式激光分析仪-CN202310235658.X在审
发明人：蒲友强 -专利权人：昶艾科技（成都）有限公司
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本发明涉及环保测量技术领域，公开了原位单端反射式激光分析仪，包括收发单元和测量单元；收发单元包括收发单元前端；收发单元前端包括光发射端、发射光通道、第一反射光通道、第二反射光通道、第三反射光通道、第一光电检测器、第二光电检测器和第三光电检测器；发射光通道内设置有棱镜，棱镜用于将光发射端发射的光束分成第一反射光、第二反射光和主光束，第一反射光、第二反射光分别进入第一反射光通道、第二反射光通道由第一光电检测器、第二光电检测器检测；主光束进入测量单元经角反射镜反射后形成第三反射光，进入第三反射光通道后由第三光电检测器检测。
原位反射激光分析

[发明专利]光盘装置-CN200810215528.5无效
发明人：吉本忠文 -专利权人：船井电机株式会社
申请日： 2008-09-04 - 公布日： 2009-03-11 - 主分类号： G11B19/12 文献下载
摘要：光盘装置包括光拾取器、聚焦驱动部分、检测部分、时间测量部分和光盘识别部分。检测部分在聚焦驱动部分移动光拾取器的聚焦位置时检测从光盘反射的反射光。时间测量部分测量从检测到从光盘的盘表面反射的反射光开始、到检测到从光盘的信息记录层反射的反射光为止的聚焦搜索时间。时间测量部分测量从检测到从光盘盘表面反射的反射光开始、到检测到假反射光为止的假反射搜索时间。光盘识别部分计算聚焦搜索时间与假反射搜索时间的比值，并且基于该比值来识别光盘的类型。
光盘装置

[发明专利]一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法-CN201811521895.8在审
发明人：杜娟;赵欢;胡跃明 -专利权人：华南理工大学
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2019-04-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于反射光的高光物体表面缺陷检测系统及方法，包括控制器、反射光接收板、线性光源及摄像头，将待测工件运送至检测位，使线性光源的出射光直射待测工件的表面，此时反射光接收板接收待测工件表面的反射光线，反射光接收板在摄像头的采集视野内，调整待测工件，使线性光能够遍历整个待检测区域，摄像头采集包含反射光线的图像序列输入控制器。本发明利用反射光线对高光物体表面的检测，能够通过增加反射点到反射接收平面的距离实现对物体表面缺陷的放大，检测结果更为精确。
待测工件物体表面反射光接收板反射光线高光缺陷检测系统摄像头线性光源反射光待检测区域摄像头采集输入控制器检测结果接收平面图像序列控制器直射出射光反射点线性光检测遍历反射放大采集运送视野

[发明专利]光学拾取头装置,以及播放光存储介质的方法和设备-CN200710084486.1无效
发明人：广野方敏 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2007-02-27 - 公布日： 2007-09-05 - 主分类号： G11B7/09 文献下载
摘要：光检测单元检测从光存储介质反射的反射光束。限制元件输入第一反射光束，该第一反射光束从第一信息记录层反射至光检测单元，并且限制或遮挡第二反射光束的输入，该第二反射光束从第二信息记录层反射至光检测单元。
光学拾取装置以及放光存储介质方法设备

[发明专利]光分配网络的反射异常检测方法、系统及装置-CN201110025756.8无效
发明人：不公告发明人 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2011-01-24 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： H04B10/08 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种ODN的反射异常检测方法、系统及装置。其中，所述ODN的反射异常检测装置包括：反射光分离模块，用于从ODN线路上分离出被ODN线路反射的光信号；反射光采样模块，用于对所述反射光信号进行采样；故障判断模块，用于根据所述反射光信号的采样结果，获得所述反射光信号的强度值，将所述反射光信号的强度值和预置标准值进行比较，确定所述ODN线路上是否出现反射异常。通过本发明实施例，能够在不中断业务的情况下进行光纤反射异常检测，有效提高光分配网络的反射异常检测的效率，降低光分配网络的反射异常检测的难度，提高用户的满意度。
分配网络反射异常检测方法系统装置

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条