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[发明专利]一种Flash存储器单粒子效应检测方法-CN202110010876.4有效
发明人：黄姣英;王乐群;高成;王自力 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：一种Flash存储器单粒子效应检测方法，它有四个步骤：一、Flash存储器开封；二、在器件静态无偏模式下进行单粒子效应检测试验；三、在器件静态模式下进行单粒子效应检测试验；四、在器件动态模式下进行单粒子效应检测试验该发明提供了一种Flash存储器单粒子效应检测方法，覆盖单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闭锁，同时可以区分存储单元和外围电路造成的翻转，为相关单粒子效应检测试验提供参考。
一种 flash 存储器粒子效应检测方法

[发明专利]一种海量信息处理器单粒子试验实现方法及单粒子试验板-CN201811058513.2有效
发明人：张群 -专利权人：西安微电子技术研究所
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种海量信息处理器单粒子试验实现方法及单粒子试验板，所述方法包括4路4X RapidIO单粒子试验验证、DDR接口兼容DDR2/DDR3单粒子试验验证、调试、复位和过程监控设计以及低速通信接口的单粒子试验验证；所述单粒子试验板包括1601ARH、与1601ARH的4路RapidIO接口连接的4个Samtec接插件、与1601ARH的REFCLK接口连接的2片CDCM6208、与1601ARH上集成在PPC核上的本发明满足1601ARH的4路4X RapidIO设计功能和不同工作模式的单粒子试验验证，完成2个DDR2/DDR3接口兼容的单粒子试验验证，实现监控、复位和低速通信模块自环测试等的单粒子试验验证，完成对
一种海量信息处理器粒子试验实现方法

[发明专利]一种通用型存储器单粒子辐照试验平台及试验方法-CN202010614989.0在审
发明人：闫辉;李磊;马琳丽;张晓敏;魏晓彤 -专利权人：西安微电子技术研究所
申请日： 2020-06-30 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种通用型存储器单粒子辐照试验平台及试验方法，试验平台包括存储器单粒子辐照试验板、控制计算机、供电电源和终端计算机；所述控制计算机通过串口与存储器单粒子辐照试验板相连，用以控制存储器单粒子辐照试验板在试验中的相关操作，并接收实时的试验信息数据；控制计算机与供电电源连接用于控制其开断，并实时监测电流情况；所述存储器单粒子辐照试验板包括母板和存储器子板，存储器子板上承载被测存储器，母板与存储器子板连接。多种类型的存储器单粒子辐照试验可在同一个试验平台上进行，操作简单快捷，与传统试验方式相比，极大的节省了试验成本，提高了试验效率，节约试验机时。
一种通用型存储器粒子辐照试验平台方法

[发明专利]一种FPGA高速串行收发器单粒子效应性能评估系统及方法-CN202210493910.2在审
发明人：刘银萍;陈雷;孙华波;张帆;杨铭谦;刘莹;董亚宁;刘映光;杨安予;杨泽宇 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：一种FPGA高速串行收发器单粒子效应性能评估系统及方法，评估系统包括上位机、主控系统和待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令，控制待测系统完成单粒子效应评估。待测系统中FPGA，用部分暴露在粒子束下的方式，完成高速串行收发器单粒子试验。利用统计学方法定义单粒子翻转、可恢复单粒子功能中断和不可恢复单粒子功能中断，最终完成待测FPGA高速串行收发器的单粒子效应评估。本发明是一种系统级的单粒子效应评估方法，包含单粒子翻转、单粒子功能中断，有效的全面评估器件抗单粒子性能。
一种 fpga 高速串行收发粒子效应性能评估系统方法

[发明专利]一种自动化单粒子辐照测试控制系统及方法-CN201910178186.2有效
发明人：毕潇;郑宏超;李哲;杜守刚;于春青;赵旭;穆里隆;彭惠新;徐雷霈;张栩燊;董方磊;武永俊 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2019-03-11 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本发明涉及一种自动化单粒子辐照测试控制系统及方法，包括实验仪器程控模块、注量率监测模块、错误数统计模块、计时检测模块。本发明通过预设辐照条件阈值，实现了芯片辐照测试自动的开启和关闭，有效的提高了集成电路单粒子辐照试验的自动化程度，减小了单粒子辐照试验机时的浪费和实验人员的工作量；同时生成的数据文件包含了全部的试验数据(粒子注量率、粒子总注量、测试电流、单粒子错误数、测试波形)，提高了单粒子试验准确度，便于后续人员对试验结果的分析。
一种自动化粒子辐照测试控制系统方法

[发明专利]一种用加速器高能质子进行器件质子单粒子试验的方法-CN201310570956.0有效
发明人：于庆奎;罗磊;唐民;孙毅 -专利权人：中国空间技术研究院
申请日： 2013-11-15 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种用加速器产生的高能质子进行器件单粒子翻转试验的方法，包括试验样品加工、单粒子试验板的要求，高能质子能量、注量率、注量的选择要求。随着集成度提高、特征尺寸减少，大规模电路的单粒子翻转趋向敏感，质子通过核反应或直接电离可引起单粒子翻转。在轨卫星发生了疑似质子单粒子翻转引起的电子系统故障。本方法为在地面开展器件质子单粒子翻转试验提供了方法。根据本方法，可以对卫星用关键器件的质子单粒子翻转敏感性进行评估，获得器件质子单粒子翻转敏感参数，为卫星抗辐射加固设计提供依据，对保证新一代卫星的可靠性有重要意义。
一种加速器高能质子进行器件粒子试验方法

[发明专利]一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法及其系统-CN200910085542.2有效
发明人：王群勇;阳辉;陈冬梅;陈宇;刘燕芳;孙旭朋;宋岩;白桦 -专利权人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
申请日： 2009-05-25 - 公布日： 2010-12-01 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种卫星用器件抗辐射能力的评估方法，该方法包括步骤：对待测器件进行重离子单粒子效应试验，获取试验数据；利用Weibull函数拟合试验数据，得出尺度参数以及形状参数，推演质子单粒子翻转截面表达式；根据质子单粒子翻转截面表达式以及质子单粒子翻转率计算公式，计算质子单粒子翻转率；根据质子单粒子翻转率，评估待测器件的抗辐射能力。
一种卫星器件辐射能力评估方法及其系统

[发明专利]一种以太网接口电路单粒子效应检测系统及方法-CN202310315557.3在审
发明人：周金钊;马培元;苏钰;赵康;屈豆;王露;韩潮宇 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种以太网接口电路单粒子效应检测系统及方法，在真实的以太网通信环境下，试验人员通过远程终端与上位机系统的配置，按照设定的试验流程和测试模式，进行多场景多向量多轮次的单粒子效应测试。本发明可以通过误码率、丢包率、时延等测试向量的测试统计评估检测以太网接口电路单粒子翻转、单粒子闩锁、单粒子功能中断等各种单粒子效应，实现单粒子效应下标准电路与被测电路的数据对比分析，并可完成高低温、真空等不同环境条件下的试验测试
一种以太网接口电路粒子效应检测系统方法

[实用新型]一种系统级封装模块单粒子效应检测装置-CN201520397334.7有效
发明人：张毅;余国强;黄慧敏 -专利权人：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
申请日： 2015-06-10 - 公布日： 2015-10-07 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种系统级封装模块单粒子效应检测装置，包括单粒子试验板、单粒子检测板、稳压电源和远程控制终端；系统级封装SiP模块通过串口驱动电路与远程控制终端连接用于上传测试程序、功能测试命令以及功能测试结果，系统级封装SiP模块通过CAN总线与单粒子检测板进行数据交互；SRAM通过系统总线驱动电路与系统级封装SiP模块连接；所述单粒子检测板为单粒子试验板提供电源，对系统级封装SiP模块的功能和电流进行实时检测，并将检测结果通过CAN总线发送给远程控制终端；稳压电源为单粒子检测板提供一次电源输入。为SiP模块进行单粒子试验提供检测手段，实现SiP模块单粒子效应实时检测，解决地面模拟辐射环境中测量SiP模块单粒子效应的问题。
一种系统封装模块粒子效应检测装置

[发明专利]一种系统级单粒子效应影响表征参数的评价方法-CN201610192270.6有效
发明人：林益明;于登云;郑玉展;赵海涛;蔡震波;张庆祥 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2016-03-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法：根据系统功能分析，建立以元器件为底事件的系统功能模型，结合元器件单粒子敏感性分析，建立系统单粒子效应影响功能模型；基于单粒子效应试验数据，计算分析敏感元器件的单粒子事件率，采用故障注入、重离子辐照试验法或系统历史数据分析方法确定系统各层次间单粒子效应影响传递因子；基于单粒子事件的叠加性原理，计算系统单粒子事件率；结合单粒子效应影响中断时间，计算系统单粒子效应危害度和可用性本发明采用定量的方法表征单粒子效应对系统的影响，并评价系统单粒子效应的影响后果，该方法可用于指导系统级单粒子效应风险的量化控制。
一种系统粒子效应影响表征参数评价方法

[发明专利]SRAM型FPGA单粒子功能性中断的监测系统及方法-CN201210236204.6有效
发明人：王群勇;冯颖;阳辉;陈冬梅;陈宇;刘燕芳;白桦 -专利权人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
申请日： 2012-07-06 - 公布日： 2014-01-22 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明公开了一种SRAM型FPGA单粒子功能性中断的监测系统及方法，涉及单粒子领域。所述方法包括：设置初始LET值的重离子束流对试验板进行辐照；B：判断试验板是否出现单粒子功能性中断现象，如果是，记录试验板发生一次单粒子功能性中断；否则，认为试验板未发生单粒子功能性中断；C：判断试验板是否满足以下条件：单粒子功能性中断的次数达到预定次数，或者入射粒子总注量达到预定注量；如果是，执行步骤D；否则，执行步骤B；D：判断是否可以拟合得到σ~LET曲线，如果是，拟合得到σ~LET曲线；否则，调整重离子束流的
sram fpga 粒子功能中断监测系统方法

[发明专利]一种卫星用器件单粒子效应指标的评估方法和系统-CN200910161730.9有效
发明人：王群勇;阳辉;陈冬梅;陈宇;白桦;钟征宇;郭明银;刘燕芳;宋岩;吴文章 -专利权人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
申请日： 2009-08-04 - 公布日： 2010-11-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种卫星用器件单粒子效应指标的评估方法，所述评估方法包括以下步骤：试验或仿真获得待评估器件单粒子翻转试验值；计算任务要求的待评估器件单粒子翻转指标要求预估值；根据所述器件单粒子翻转指标的试验预期值和单粒子翻转指标要求预估值本发明的技术方案通过对器件单粒子翻转率指标的计算，可有效指导卫星用器件的选型，为卫星胜利完成任务提供质量保障。
一种卫星器件粒子效应指标评估方法系统

[发明专利]一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法-CN202010982709.1在审
发明人：李衍存;汪路元;蔡震波;张庆祥;向宏文;秦珊珊;郑玉展;张志平 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2020-09-17 - 公布日： 2021-01-22 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法，属于空间辐射技术领域。本发明通过获取器件重离子单粒子翻转截面试验数据及拟合结果；建立器件单粒子翻转率分析模型；计算器件所处轨道的重离子LET谱；分析器件在轨单粒子翻转率。本发明的方法仅采用器件重离子单粒子翻转试验数据，就可以构建确定的单粒子翻转率分析模型，并进行单粒子翻转率分析，解决了以往单粒子模型参数依赖器件工艺参数、难以确定、无法形成统一标准的问题。
一种不依赖器件工艺参数离子粒子翻转分析方法

[发明专利]1‑Wire总线测温电路DS18B20单粒子效应评估系统及方法-CN201510096899.6有效
发明人：王贺;傅丹膺;宁永成;袁春柱;张松;王沫;匡潜玮;陈罗婧;丛山 -专利权人：中国空间技术研究院
申请日： 2015-03-05 - 公布日： 2017-06-23 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：一种1‑Wire总线测温电路DS18B20单粒子效应检测系统，由计算机、程控电源、控制板、试验板及相关线缆组成，其中所述程控电源、控制板与试验板置于单粒子试验环境内，所述试验板安装在所述束流源近端；所述计算机置于所述单粒子试验环境外
wire 总线测温电路 ds18b20 粒子效应评估系统方法

[发明专利]一种数字电路单粒子软错误演化过程测试方法-CN201910707632.4有效
发明人：郭晓强;陈伟;王勋;张凤祁;齐超;丁李利;罗尹虹;赵雯;曹良志 -专利权人：西北核技术研究院
申请日： 2019-08-01 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：为了获得单粒子软错误在数字电路中的传播演化规律，本发明提出了一种数字电路单粒子软错误演化过程测试方法，本发明通过测试系统功能设计、辐射效应试验流程控制和试验数据分析方法三个方面，获得单粒子软错误在电路中的传播演化规律，适用于中小规模数字电路或关键数字电路模块的单粒子效应试验分析与验证。
一种数字电路粒子错误演化过程测试方法

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