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[发明专利]一种缺陷关联系数的度量方法-CN201610010014.0有效
发明人：包晓安;董萌;张娜;吴彪;郭炜杰 -专利权人：浙江理工大学
申请日： 2016-01-06 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷关联系数的度量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型；步骤二：计算缺陷的数据相似度；步骤三：计算缺陷间的耦合度；步骤四：根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数；步骤五：根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。本发明计算出了两个直接关联缺陷间的缺陷关联系数，准确度高；设计了一种基于缺陷传递的缺陷关联系数的简单路径调整算法，实现对缺陷关联系数矩阵的动态更新。
一种缺陷关联系数度量方法

[发明专利]一种软件缺陷关联规则网络剪枝方法及系统-CN202211512741.9有效
发明人：武文韬;王世海;刘斌;李浩然;杨勋利;房新悦;朱文婧;施腾飞;刘宇;郭书頔 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种软件缺陷关联规则网络剪枝方法及系统，属于软件缺陷预测技术领域，解决了现有关联规则网络未考虑有无缺陷的双目标且关联规则存在冗余的问题。包括读取软件缺陷数据集，基于关联规则算法生成初始关联规则集合；基于初始关联规则集合，构建以有缺陷标签和无缺陷标签作为目标节点的反向超图，以及有缺陷字典和无缺陷字典；获取同时存在于两个字典的节点，在反向超图中去除节点的冗余边，更新字典中节点层级，得到关联规则网络；基于社区发现算法，根据字典中节点层级，对关联规则网络聚类得到多个社区；分别根据社区中的缺陷标签和节点所属字典，从多个社区中提取出用于软件缺陷预测的关联规则。实现了软件缺陷关联规则的准确提取。
一种软件缺陷关联规则网络剪枝方法系统

[发明专利]一种基于关联分析的设备家族性缺陷挖掘方法及相关装置-CN202211100286.1在审
发明人：周银平;李岩军;王志洁;王文焕;刘亚东;高晨光;张红亮;周春霞;沈晓凡 -专利权人：中国电力科学研究院有限公司
申请日： 2022-09-08 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F16/2455 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于关联分析的设备家族性缺陷挖掘方法及相关装置。其中，方法包括：根据设备运行日志，生成设备缺陷信息数据库；根据预先设置的特征规则，从设备缺陷信息数据库中设备缺陷信息进行分类，确定设备缺陷信息数据子集；根据目标信息，从设备缺陷信息数据子集中选取与目标信息相关联的家族性缺陷挖掘关联规则项集；利用关联规则挖掘算法计算家族性缺陷挖掘关联规则项集的支持度以及置信度，确定设备家族性缺陷的强关联规则。
一种基于关联分析设备家族缺陷挖掘方法相关装置

[发明专利]一种基于多目标优化算法NSGA－Ⅱ推荐跨项目关联缺陷报告的方法-CN201710932159.0在审
发明人：陈林;任浩;马皖王莹 -专利权人：南京大学
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种基于多目标优化算法NSGA‑II推荐跨项目关联缺陷报告的方法，主要包含以下步骤：1)获取与查询缺陷报告所在项目关联的其他项目，主要基于缺陷所在项目的信息以及项目参与人的信息；2)计算项目之间的关联度：主题相似度、项目重要程度、项目之间的距离，对项目的关联度排序；3)对于关联度较大的项目，计算其中的缺陷与查询缺陷报告之间的主题相似性以及将要修改的源代码文件之间的距离；4)根据缺陷报告的主题相似性、源文件距离、项目的关联度计算适应值函数；5)利用多目标优化算法NSGA‑II产生相关联程度最大的跨项目缺陷报告。本发明主要解决目前缺乏对查询缺陷报告推荐相关联的跨缺陷报告问题，能够有效定位、修复跨项目缺陷，提高处理跨项目缺陷报告的效率。
缺陷报告多目标优化算法关联度主题相似性关联缺陷关联查询关联度计算源代码文件主题相似度有效定位源文件排序修复

[发明专利]基于与缺陷相关联的计算机辅助设计标识符来分割缺陷-CN202110736631.X在审
发明人： A·B·奥伯莱;K·U·阿加什 -专利权人：美商新思科技有限公司
申请日： 2021-06-30 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：本公开的各实施例涉及基于与缺陷相关联的计算机辅助设计(CAD)标识符来分割缺陷。针对缺陷集合中的每个缺陷，可以将缺陷与从计算机辅助设计(CAD)标识符的集合构造的缺陷属性相关联，CAD标识符与集成电路(IC)设计中的与缺陷的缺陷区域重叠的多边形相关联。接下来，可以基于相关联的缺陷属性将缺陷集合分割成缺陷组。缺陷组可以用于对缺陷集合执行附加处理。
基于缺陷相关计算机辅助设计标识符分割

[发明专利]一种用于对继电保护缺陷点进行定位的方法及系统-CN202211054177.0在审
发明人：张烈;郭鹏;杨国生;李仲青;周泽昕;闫周天;王丽敏;李妍霏;张瀚方;康逸群;药韬;刘亚东;胡海燕;叶馨 -专利权人：中国电力科学研究院有限公司
申请日： 2022-08-31 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G06F16/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于对继电保护缺陷点进行定位的方法及系统，其中方法包括：获取继电保护的缺陷现象；根据所述缺陷现象，基于预先建立的关联规则，确定与所述缺陷现象相关联的缺陷部位；计算任意一项缺陷部位在每一缺陷现象下发生的条件概率；基于所述条件概率，计算任意一个缺陷部位对应的各项缺陷现象发生的综合概率；基于任意一项缺陷部位的综合概率，计算缺陷现象下，每一项关联的缺陷部位的概率；基于每一项关联的缺陷部位的概率，对缺陷部位进行定位。
一种用于保护缺陷进行定位方法系统

[发明专利]一种缺陷报告与邮件列表语义关联挖掘方法-CN201610984538.X有效
发明人：赵俊峰;陈秀招;曹英魁 -专利权人：北京大学(天津滨海)新一代信息技术研究院
申请日： 2016-11-09 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G06F16/31 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷报告与邮件列表语义关联挖掘方法。本方法为：1)对获取的目标项目的缺陷报告与邮件列表进行解析，得到缺陷报告的堆栈信息、代码片段、正文文本和邮件列表的堆栈信息、代码片段、正文文本；2)文档显式语义关联挖掘单元根据解析结果识别缺陷报告和邮件列表之间的显式语义关联，包括引用关联和共同代码元素关联；3)文档隐式语义关联挖掘单元根据解析结果识别缺陷报告和邮件列表之间的隐式语义关联，包括相似关联和潜在语义关联。本发明有利于高效地定位相关的缺陷报告与邮件列表，帮助开发人员更好地复用软件资源。
一种缺陷报告邮件列表语义关联挖掘方法

[发明专利]一种表面缺陷的分析方法-CN201611224399.7有效
发明人：卢小丽;吴腾;杨双峰 -专利权人：武汉延锋时代检测技术股份有限公司
申请日： 2016-12-27 - 公布日： 2019-10-01 - 主分类号： G06F16/2458 文献下载
摘要：本发明涉及表面缺陷的分析方法，第一步，收集在线检测系统的缺陷及其原因数据；第二步，将检测系统中数据收集存入数据库中，一方面直接进入缺陷分类库，另一方面经过专家判定进入缺陷原因库；第三步，运用加权模糊层次关联关系算法找出缺陷与原因之间的关系通过正反馈更新缺陷库以及原因库信息本发明通过数据关联关系挖掘的算法找出原因与原因、原因与缺陷、缺陷与缺陷之间的关联关系，然后将这些关系反馈到缺陷库和原因库中。在缺陷库中将有关联关系的缺陷自动归类，缺陷原因有相关性的也自动归类。本发明通过关联关系匹配的方法把有关联的缺陷与原因进行归类后，加快了查询缺陷发生原因对应的类别。
一种表面缺陷分析方法

[发明专利]基于知识图谱的电力通信系统缺陷故障派单方法及装置-CN202011498276.9在审
发明人：许鸿飞;张翼;齐灿;万莹;张继东;佟昆睿;张姣姣;庞思睿;常海娇 -专利权人：国网冀北电力有限公司信息通信分公司;国家电网有限公司
申请日： 2020-12-17 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G06F40/295 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于知识图谱的电力通信系统缺陷故障派单方法及装置，其中该方法包括：采集电力通信系统的缺陷故障告警信息；从缺陷故障告警信息中提取出一个或多个目标命名实体；将提取出的各个目标命名实体，输入到预先构建的电力通信运维知识图谱中，输出各个目标命名实体的关联命名实体，以及各个目标命名实体与关联命名实体之间的关联关系；根据目标命名实体、关联命名实体，以及目标命名实体与关联命名实体之间的关联关系，确定一个或多个缺陷故障标签，每个缺陷故障标签对应一种缺陷故障；根据确定的缺陷故障标签，生成相应缺陷故障的检修工单信息。本发明能够提高电力通信系统缺陷故障自动派单的效率，以便及时对缺陷故障进行检修。
基于知识图谱电力通信系统缺陷故障方法装置

[发明专利]软件关联缺陷检测方法-CN200410009531.3无效
发明人：蔡开元;景涛;白成刚;胡德斌 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2004-09-09 - 公布日： 2006-03-15 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：软件关联缺陷检测方法，其特征在于按下列步骤进行测试：(1)根据需要初始化缺陷描述数组defects，若要测试全部缺陷，令defects[i][0]＝1(表示缺陷是打开的)，defects[i][1]＝0(表示缺陷未知)，i＝1，2，……，n，n为软件中的缺陷数；(2)以概率0.01重新打开一个已剔除的缺陷j，即if(defects[j][1]＝1)then defects[j][0]＝1；(3)从测试用例库中随机选一个测试用例进行测试；(4)如果发现缺陷，假定该缺陷编号为j，则令defects[j][0]＝0(剔除缺陷)，defects[j][1]＝1(标记缺陷为已知)；(5)如果达到测试停止条件，比如找到所有缺陷或测试时间已满则停止采用本发明的测试方法，不仅可以有效检测和剔除关联缺陷，而且提高了缺陷的检测率。
软件关联缺陷检测方法

[发明专利]一种基于缺陷分析的精准测试分析方法、装置-CN202011174762.5有效
发明人：刘青杰 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2020-10-28 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种基于缺陷分析的精准测试分析方法、装置,该方法包括如下步骤：将缺陷样本进行缺陷预处理，分析出缺陷功能点；使用缺陷分析法计算缺陷功能点的遗留缺陷数；根据遗留缺陷数、满足功能出口条件的缺陷发现率及项目规划的测试时间，确定基础风险值；分析缺陷功能点的关联关系及关联概率，计算缺陷功能点的关联风险值；根据基础风险值、缺陷功能点的关联风险值，计算缺陷功能点的风险值；根据缺陷功能点的风险值选取测试用例。
一种基于缺陷分析精准测试方法装置

[发明专利]基于缺陷因子的电力断路器关联性故障分析方法及装置-CN202310015220.0有效
发明人：姜磊;杨泽;杨钊;左子凯;卢亚楠 -专利权人：佰聆数据股份有限公司
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G06F18/241 文献下载
摘要：本发明涉及人工智能技术，揭露了一种基于缺陷因子的电力断路器关联性故障分析方法及装置，包括：获取电力断路器的全寿命周期数据，对所述全寿命周期数据进行缺陷数据提取，得到所述全寿命周期数据的缺陷因子；对所述缺陷因子进行特征分类，得到所述缺陷因子的分类因子；利用预设的关联度算法确定所述分类因子的关联性，根据所述关联性和所述分类因子生成所述分类因子的因子权重；利用所述因子权重和所述缺陷因子构建电力断路器缺陷检测模型，利用所述电力断路器缺陷检测模型进行目标电力断路器的故障分析本发明还提出一种基于缺陷因子的电力断路器关联性故障分析装置。本发明可以提高电力断路器关联性故障分析的准确性。
基于缺陷因子电力断路器关联性故障分析方法装置

[发明专利]用于识别集成电路缺陷的方法和系统-CN201780085175.9有效
发明人：张兆礼;林杰;俞宗强 -专利权人：东方晶源微电子科技（北京）有限公司
申请日： 2017-12-18 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了用于识别集成电路中缺陷的方法和系统。所述方法包括：接收与集成电路相关联的图形的输入数据；使用所述输入数据确定与图形的特征相关联的特征数据；使用所述输入数据、所述特征数据和缺陷检测技术确定与图形相关联的缺陷检测结果；以及使用所述缺陷检测结果确定缺陷识别结果存储器连接到处理器，并且并且在被配置之后，进行存储指令集：用以接收与集成电路相关联的图形的输入数据；用以使用所述输入数据确定与图形的特征相关联的特征数据；用以使用所述输入数据、所述特征数据和缺陷检测技术确定与图形相关联的缺陷检测结果；以及用以使用所述缺陷检测结果确定缺陷识别结果。
用于识别集成电路缺陷方法系统

[发明专利]一种基于关联网群的项目缺陷复测方法及系统-CN202310341743.4在审
发明人：高蕊;冷炜;付静;翟倩倩;蒋秋萍;李思佳 -专利权人：中信银行股份有限公司
申请日： 2023-03-31 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于关联网群的项目缺陷复测方法及系统，包括建立关联网群和缺陷池，并通过关联网群确定现存缺陷需要进行复测的案例，通过建立基于组件和案例关系的关联网群，智能确定针对缺陷及其影响模块的测试范围并自动分析失败场景所属模块供开发人员参考定位问题，可在项目周期内对缺陷进行智能监控管理，实现了整个项目测试过程的持续性监控，实时缺陷预警。
一种基于联网项目缺陷复测方法系统

[发明专利]晶片缺陷的检测方法及系统-CN201110391378.5有效
发明人：王洲男;龙吟;倪棋梁;陈宏璘;郭明升 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2011-11-30 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种晶片缺陷的检测方法及系统，基于晶片的缺陷类型快速且准确地判断造成缺陷的原因，从而减少问题设备对产品质量的影响，同时提高生产效率。晶片缺陷的检测方法，用于分别在各检测站中检测并确定晶片上的缺陷的生产机台，包括使缺陷类型分别与各生产机台组相关联的关联步骤、扫描步骤、缺陷判断步骤、组别判断步骤、报警步骤、以及缺陷处理步骤。晶片缺陷的检测系统，用于分别在各检测站中检测并确定晶片上的缺陷的机械手，包括使缺陷类型分别与各装置组相关联的关联单元、扫描单元、缺陷判断单元、组别判断单元、报警单元、以及缺陷处理单元。
晶片缺陷检测方法系统

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