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[发明专利]光敏型光电器件驱动控制电路及显示装置-CN202010653859.8有效
发明人：李贵君;罗溪;江乐 -专利权人：深圳大学
申请日： 2020-07-08 - 公布日： 2021-12-07 - 主分类号： G09G3/3208 文献下载
摘要：本发明公开一种光敏型光电器件驱动控制电路及显示装置，该电路包括：开关切换电路，其公共端与光敏型光电器件的阳极连接；开关切换电路具有第一工作状态和第二工作状态；光敏型光电器件驱动电路，其输出端与开关切换电路的第一连接端连接；光敏检测电路，其检测端与开关切换电路的第二连接端连接；在第一工作状态下，开关切换电路控制光敏型光电器件驱动电路与光敏型光电器件电连接，以驱动光敏型光电器件发光工作；在第二工作状态下，开关切换电路控制光敏检测电路与光敏型光电器件电连接，以接收光敏型光电器件获取到的光信号。
光敏光电器件驱动控制电路显示装置

[发明专利]一种半导体缺陷分布成像检测装置及检测方法-CN202111237891.9有效
发明人：王岩;徐鹏飞;罗帅;季海铭 -专利权人：江苏华兴激光科技有限公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明涉及一种半导体缺陷分布成像检测装置及检测方法，其不同之处在于：检测装置包括电流电压源、三维平移台、连续激光光源、凸透镜、分束镜、滤光片和CCD相机；电流电压源用于给半导体光电器件样品施加正向电压或正向电流，以使半导体光电器件样品表面发出光信号；连续激光光源依次经过透镜和分束镜后聚焦至半导体光电器件样品表面，用于使半导体光电器件样品内的缺陷电子态饱和；三维平移台用于调节半导体光电器件样品的位置，使连续激光光源在半导体光电器件样品表面进行完整扫描；半导体光电器件样品的光信号依次经过分束镜和滤光片后投射到CCD相机上。本发明能有效检测半导体光电器件深能级缺陷的位置分布信息。
一种半导体缺陷分布成像检测装置方法

[实用新型]一种光电器件的测试装置-CN202023080132.X有效
发明人：陈元荣 -专利权人：厦门市光飞扬通信技术有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电器件的测试装置，包括底架，所述底架内侧固定连接有安装平台，所述安装平台和另一安装平台上端活动连接有PCB板，所述底架上端后侧固定连接有安装架，所述安装架前端固定连接有延伸块，所述延伸块前端开设有开口槽该光电器件的测试装置，方便光电器件与对接头的插接，有效防止测试时光电器件的位置发生偏移，适用于不同规格的光电器件，确保光电器件位置的牢固性，防止光电器件松动，从而方便取出光电器件。
一种光电器件测试装置

[发明专利]有机光电器件及有机光电器件的制作方法-CN201811269616.3在审
发明人：李民;张伟;张琪;刘文聪;徐苗;邹建华 -专利权人：广州新视界光电科技有限公司
申请日： 2018-10-29 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： H01L51/42 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种有机光电器件及有机光电器件的制作方法，该有机光电器件包括：衬底基板；形成在衬底基板上的多个第一电极；形成在衬底基板上的像素定义层；形成在像素定义层上的辅助电极；形成在第一电极上的光电功能层，光电功能层包括多个镂空区，镂空区在衬底基板上的垂直投影位于辅助电极在衬底基板上的垂直投影内，且镂空区露出辅助电极，相邻两个开口区对应的光电功能层被镂空区隔断；形成在光电功能层上的第二电极，第二电极覆盖光电功能层本发明提供的有机光电器件可以充分降低有机光电器件中电极阻抗，提高有机光电器件的光电性能。
有机光电器件衬底基板光电功能镂空区第二电极辅助电极像素定义层垂直投影第一电极原子层沉积电极阻抗光电性能电连接开口区隔断制作覆盖

[发明专利]大面积柔性光电器件的制造方法-CN201010288863.5无效
发明人：李沅民;施成营;林朝晖 -专利权人：福建钧石能源有限公司
申请日： 2010-09-21 - 公布日： 2011-02-23 - 主分类号： H01L51/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种大面积柔性光电器件的制造方法，包括下列步骤：提供硬性载板；在所述硬性载板表面形成剥离层；在所述剥离层表面形成光电器件各层系；在所述光电器件各层系表面形成柔性承载层；将所述柔性承载层和器件层系整体与所述硬性载板分离本发明的大面积柔性光电器件的制造方法能够直接在硬性载板例如玻璃表面制造柔性光电器件，而不需要依赖传统的物理化学特性要求很高且很昂贵的柔性衬底，也不需要在硬性载板表面先贴敷柔性衬底再继续沉积薄膜的复杂的制造柔性器件的过程，是一种革命性的在硬性载板上直接制造柔性光电器件的方法，所述的柔性光电器件包括柔性太阳能电池、柔性显示器件、柔性发光器件等。
大面积柔性光电器件制造方法

[发明专利]一种提高光电器件封装可靠性的方法-CN202211440276.2在审
发明人：张文臣;时伟;徐泽驰;洪振海 -专利权人：大连藏龙光电子科技有限公司
申请日： 2022-11-17 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： B22F7/06 文献下载
摘要：本发明涉及光电器件封装技术领域，公开了一种基板（钨铜或可伐）与管壳组装的方法。具体内容为将钨铜或可伐原料，通过粉末冶金的方法，将光电器件中原本独立的两个零部件：基板与管壳底板，加工成为一个一体的部件。本发明方法可以完全杜绝传统的胶粘或共晶焊工艺导致的基板与管壳之间脱落的可靠性问题，并可以提高产品一致性，提升产品直通率，减少光电器件制造工艺，降低光电器件成本。
一种提高光电器件封装可靠性方法

[实用新型]一种光电器件的光电性能检测仪-CN202122940762.8有效
发明人：宋玉敏;党嫒嫒;和俊聪;郭婷婷;聂陟枫 -专利权人：昆明学院
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01M3/26 文献下载
摘要：本实用新型涉及检测装置技术领域，且公开了一种光电器件的光电性能检测仪，包括推车，推车的顶部固定连接有绝缘装置外壳，绝缘装置外壳的内部固定连接有导电玻璃纤维板，导电玻璃纤维板的内部固定连接有热固性酚醛树脂板本实用新型中，通过把需要检测的光电器件插入到热固性酚醛树脂板上的孔洞内，让光电器件底部与金属板接触，达到导电的目的，再通过电源接线柱和电源线给板上的光电器件提供电源，导电玻璃纤维板起到固定热固性酚醛树脂板的作用，即可通过电路连接板顶部的光性能检测仪和光纤光谱仪分别检测出光电器件的光性能和电性能。
一种光电器件性能检测

[实用新型]光电器件-CN201721892050.0有效
发明人：张文剑;张清军;邹湘;何会绍 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-28 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： H01L31/028 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电器件衬底和光电器件。光电器件衬底包括衬底基部和通过外延形成在衬底基部上的硅单晶层。使用外延的光单晶层作为光电器件的衬底可以显著降低成本和工艺难度，并且可以实现大尺寸衬底，降低批量生产的成本。
光电器件

[实用新型]一种电子轰击成像型光电器件及高速相机-CN202021133228.5有效
发明人：刘玲玲;李刚 -专利权人：西安中科英威特光电技术有限公司
申请日： 2020-06-17 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： H01J31/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及光电成像器件技术领域，公开了一种电子轰击成像型光电器件及高速相机，电子轰击成像型光电器件包括：真空容器，真空容器上设有光学输入窗，真空容器内设有：光电阴极，加速系统，调制系统，扫描系统，电势等位区这种电子轰击成像型光电器件，能够实现一定倍率的光学图像增强功能，还能够进一步提升光电成像器件的分辨率以及信噪比等关键参数，同时能够进一步减小以此光电成像器件为核心的高速相机的体积以及重量。
一种电子轰击成像光电器件高速相机

[发明专利]一种新型光电器件参数检测设备-CN201911392868.X在审
发明人：杨扬 -专利权人：西安灵图电磁技术有限责任公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。
一种新型光电器件参数检测设备

[实用新型]一种光电器件参数检测设备-CN201922431550.X有效
发明人：杨扬 -专利权人：西安灵图电磁技术有限责任公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电器件参数检测设备，包括基座，基座上转动安装有转盘，转盘上设有若干用于放置待测光电器件的放置槽，转盘的一侧设有检测箱，检测箱朝向转盘的一侧设有开口，检测箱中安装有对光电器件进行参数采集和检测的参数检测组件，待检测的光电器件依次放置在转盘上的放置槽上，随转盘的转动作用将待测光电器件输送至检测箱中，将检测箱中的参数检测组件进行各项数据采集和检测后，转动离开检测箱，稳定连续的进行光电器件的参数检测工作，极大的提升相关参数检测工作的效率；通过光电器件转动组件使放置在放置槽中的光电组件进行转动，便于在检测箱中接受参数检测组件的参数采集和检测，提高检测精准性。
一种光电器件参数检测设备

[实用新型]一种光电器件发射模块的测试工装-CN201922155027.9有效
发明人：陈元荣 -专利权人：厦门市光飞扬通信技术有限公司
申请日： 2019-12-05 - 公布日： 2020-04-17 - 主分类号： H04B10/50 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电器件发射模块的测试工装，涉及光电测试技术领域，其技术方案要点是：包括PCB板以及设置于PCB板上且相互独立的多组信号传输线路组，各组所述信号传输线路组的一端均连接有连接头，所述连接头上连接有用于与测试仪连接的插接公端，所述信号传输线路组上设置有用于供光电器件发射模块连接的对接部，各个所述对接部分别对应于多种规格的光电器件发射模块设置。本实用新型能够对不同规格的光电器件发射模块进行测试，且便于各个器件进行转换测试，具有提高测试效率的效果。
一种光电器件发射模块测试工装

[发明专利]单根硒微米管光电探测器及其制备方法和响应度增强方法-CN201610361275.7在审
发明人：胡凯;方晓生 -专利权人：复旦大学
申请日： 2016-05-28 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明属于材料及光电器件技术领域，具体为一种单根硒微米管光电探测器及其制方法和响应度增强方法。本发明采用蒸发‑转移‑生长的方法，合成长度在0.1~5 mm、宽度在1~30μm之间的t‑硒六角微米管结构；将制备的微米管分离后得到单根的硒微米管转移到固体基片上，并构筑光电器件。硒单根微米管光电器件具有优良的紫外‑可见范围内的光电探测性能和毫秒量级的快速响应时间。在上述硒微米管光电探测器表面用小型离子溅射仪溅射Au纳米粒子，利用表面等离子体共振，实现从300~700 nm的响应度的提高。本发明器件克服了传统光电器件复杂的工艺，可以实现光电器件的快速构筑。
单根硒微米光电探测器及其制备方法响应增强

[发明专利]一种薄膜及其制备方法、光电器件及显示装置-CN202111288717.7在审
发明人：吴劲衡 -专利权人： TCL科技集团股份有限公司
申请日： 2021-11-02 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： H10K50/165 文献下载
摘要：本申请公开一种薄膜及其制备方法、光电器件及显示装置。本申请的薄膜为包括纳米金属氧化物及纳米金属单质的混合物，其中，纳米金属单质的电阻率随温度升高而增长。对于此薄膜作为电子传输层的光电器件，也能够避免光电器件在温度升高时因高电子迁移量而被破坏，使光电器件在高温下，仍然能具有与常温更为接近的载流子平衡，提高光电器件的器件稳定性。并且也能避免过高电子通量快速侵蚀光电器件的其他层级，加速老化，从而提高光电器件的寿命。
一种薄膜及其制备方法光电器件显示装置

[发明专利]一种基于纳米筛掩模的纳米光电器件制备方法-CN201710471122.2有效
发明人：徐智谋;李泽平;江睿;屈小鹏 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2017-06-20 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： H01L33/00 文献下载
摘要：本发明主要属于纳米光电器件制备领域，具体涉及一种基于纳米筛掩模的纳米光电器件制备方法。通过人工生成的纳米孔阵列膜(支撑层)制备获得纳米筛掩模；将制备好的纳米筛掩模转移到光电器件上得到样片；采用沉积或刻蚀技术对样片进行沉积或刻蚀；利用物理或者化学方法去除纳米筛掩模，在光电器件上得到纳米阵列结构本发明通过人工低成本获得的纳米筛做掩模，采用纳米加工技术，制备大面积的均匀纳米孔、纳米点、纳米柱和纳米圆台阵列，从而获得纳米结构光电器件。该技术的发现与突破，将使得大面积、低成本制备半导体表面有序纳米结构阵列成为可能，对推动纳米结构半导体器件的应用意义重大。
一种基于纳米筛掩模光电器件制备方法