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[发明专利]光强调制器、光强调制系统及光强调制方法-CN202110555037.0在审
发明人：周柏君;李月;吴艺凡;常文博;肖月磊;曹雪;宋雪超;周毅;韩基挏;曲峰 -专利权人：北京京东方传感技术有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G02F1/133 文献下载
摘要：本发明提供一种光强调制器、光强调制系统及光强调制方法，属于显示技术领域，其可解决现有的光强调制过程复杂问题。本发明的光强调制器包括驱动电路和液晶盒结构，驱动电路与液晶盒结构相连，用于向液晶盒结构内的液晶层提供驱动电压，以形成外加电场，液晶层中掺杂有离子。游离离子产生内建电场，由此导致残压的产生，相应改变用于驱动液晶层内液晶分子偏转的有效电场，从而实现光强调制。本发明实施例对现有的光强调制器改造小，易于实现，且实现光强调制时，驱动电压的驱动程序简单，易于实现。
调制器调制系统方法

[发明专利]基于光强调制器的远场光束质量测量装置-CN201010535514.9有效
发明人：黄林海;饶长辉;姜文汉 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2010-11-04 - 公布日： 2011-05-04 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明是基于光强调制器的远场光束质量测量装置，由成像系统、光强调制器、光强探测器和计算机组成。光束首先通过成像系统，汇聚于光强调制器处，经光强调制器后的光将进入光强探测器，并由光强探测器捕获，最终由光强探测器通过计算机输出用以反映光束质量的数值。利用光强探测器结合光强调制器的形式测量光束质量，具有结构简单、制作容易、速度快，响应灵敏度高、探测精度高等特点；可作为高速自适应光学系统进行实时闭环的性能评判指标。
基于调制器光束质量测量装置

[发明专利]一种基于涡旋波片的偏振检测系统的误差校准方法及装置-CN202111427021.8有效
发明人：雷兵;高超;王富杰;雷雨;文雪可 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-11-28 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：调节起偏器的透光轴方位角θ1与四分之一波片的快轴方位角θ2以确定相机的曝光时间；S2、建立误差校准数据库；S3、采集暗环境下的光强图像，并计算暗环境下的光强调制曲线；S4、采集待测光波的光强调制图像，并计算待测光波的光强调制曲线；S5、将待测光波的光强调制曲线减去暗环境下的光强调制曲线和待测光波的光强调制曲线的误差，得到校准后的光强调制曲线，并对所述校准后的光强调制曲线进行傅里叶分析得到校准后的待测光波斯托克斯参量。
一种基于涡旋偏振检测系统误差校准方法装置

[发明专利]微镜阵列DMD在高动态范围成像中的控制方法-CN201410367024.0有效
发明人：王延杰;孙宏海;李静宇;陈怀章 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2014-07-29 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：DMD在高动态范围成像中的控制方法，涉及高动态辐射场景成像探测领域的DMD光强调制控制方式，解决现有DMD光强调制技术容易导致在一帧光强调制中出现多次微镜翻转的问题，本发明包括光强调制权值的约束；DMD光强调制权值的二进制值中每一位在一帧时间内的持续时间约束；本发明通过重新约束DMD控制方法，能够降低DMD在高动态辐射场景成像探测中的翻转次数、提高DMD调光精度的DMD控制方式。
阵列 dmd 动态范围成像中的控制方法

[发明专利]一种光强调制式光纤陀螺及其随机游走系数降低方法-CN202310311620.6在审
发明人：郑月;秦雪馨;张春熹 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01C19/72 文献下载
摘要：本发明涉及一种光强调制式光纤陀螺及其随机游走系数降低方法，属于光纤陀螺技术领域，解决了现有技术中光纤陀螺检测精度提升有限的问题。本发明的光强调制式光纤陀螺，包括光源、光强调制机构、耦合器、Y波导、光纤环和集成数字电路，光强调制机构设置于光源和耦合器之间。本发明的光纤陀螺检测精度高、结构简单、信号控制准确。
一种强调制式光纤陀螺及其随机游走系数降低方法

[发明专利]一种基于动态散斑场的计算关联成像去噪方法及系统-CN201810730898.6有效
发明人：杨照华;刘雨健;袁珩;曲少凡;孙宇哲 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2018-07-05 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G01J11/00 文献下载
摘要：将固定光强调制信号与数字微镜调制器原光强调制信号序列中的一帧进行置换，然后按照置换后的光强调制信号序列将激光器出射的相干光调制成非相干光，并利用调制后的非相干光照射物体的方式线性估计出噪声的变化从而进一步恢复出真实的物体反射光光强的信号，最后通过将反射光光强的信号与非相干光的光强调制光强信号进行计算关联来重构出被测物体的图像。
一种基于动态散斑场计算关联成像方法系统

[发明专利]一种自适应光学系统波前传感器及其探测方法-CN201110199516.X有效
发明人：杨平;王帅;许冰;刘文劲 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2011-07-18 - 公布日： 2011-12-21 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种自适应光学系统波前传感器及其探测方法，基于二元正交像差模式滤波及探测原理，计算机控制二元光强调制器根据各阶二元光强调制模式调制入射光光强，聚焦透镜和单模光纤组成一个二元正交像差模式滤波装置，聚焦透镜位于二元光强调制器之后，入射光经过调制后被透镜会聚进入其后的单模光纤，单模光纤对光波进行选模滤波，非阵列光电探测器的探测与二元光强调制器的调制同步，当二元光强调制器完成一次调制后，非阵列光电探测器在单模光纤另一端探测从单模光纤出射的光强大小信息并交由计算机处理
一种自适应光学系统传感器及其探测方法

[发明专利]一种基于焦点扫描结构光照明的超分辨成像装置及方法-CN202110114091.1有效
发明人：郜鹏;雷云泽;郑娟娟;刘旻;马英 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于焦点扫描结构光照明的超分辨成像装置和方法，所述装置包括照明及光强调制单元、扫描单元、中继单元、显微成像单元和控制单元，其中，扫描单元用于对照明及光强调制单元产生的激光光束进行扫描；照明及光强调制单元用于控制激光束的光强，并对光强进行配置，产生不同方向和相移量的条纹结构光；显微成像单元用于记录待测样品在条纹结构光照明下的强度图像；控制单元用于同步控制照明及光强调制单元、扫描单元，和显微成像单元，并重建待测样品的超分辨SIM本发明利用焦点扫描和脉冲编码技术，对扫描中每一个像素的光强进行准确配置，能够产生不同方向和相移量的条纹结构光，有效提高了光强调制速度和条纹对比度。
一种基于焦点扫描结构照明分辨成像装置方法

[发明专利]一种双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪及其测量方法-CN202210640130.6在审
发明人：雷兵;高超;王富杰;文雪可 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-06-07 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： G01N21/21 文献下载
摘要：一种双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪及其测量方法，双涡旋波片穆勒矩阵椭偏仪包括:起偏调制单元，起偏调制单元包括：光源、起偏器和第一涡旋四分之一波片，检偏调制单元包括第二涡旋四分之一波片和检偏器；图像传感器，图像传感器适于对检偏器的出射光束进行采样以得到光强调制图像，光强调制图像随光强调制图像的方位角呈明暗交替变化；第一分析单元、第二分析单元和第三分析单元，第一分析单元适于根据光强调制图像得到光强调制函数；第二分析单元适于对光强调制函数进行傅里叶分析以得到傅里叶表达式
一种涡旋穆勒矩阵椭偏仪及其测量方法

[发明专利]半导体激光器光频光强调制器-CN02112080.3无效
发明人：卢洪斌;步扬;王向朝 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2002-06-14 - 公布日： 2003-01-01 - 主分类号： H01S5/06 文献下载
摘要：一种半导体激光器光频光强调制器,能够分别独立地进行对被调制半导体激光器的光频和光强调制。调制光源采用了三电极分布布拉格反射半导体激光器。当进行光频调制时,通过光路中的偏振分束器、分束器和光电转换器,控制驱动电流控制器注入到被调制半导体激光器上的电流大小,达到在光频调制过程中,光强不随着变化的目的。当进行光强调制时,利用三电极分布布拉格反射半导体激光器将输出光束锁定在某一光频上,关闭与驱动电流控制器连接的光电转换器,控制驱动电流控制器输出的电流强度,达到在光强调制过程中,减弱光频啁啾和脉动的问题。本发明的调制器集独立调制光频和光强为一体的装置,扩大了一调制器的使用范围。
半导体激光器光频光强调制器

[发明专利]基于TDLAS技术的氨气检测仿真系统及其仿真分析方法-CN201510007975.1在审
发明人：赵学玒;汪曣;杜康;蒋学慧;孙传强;孙运;郭媛;赵迎 -专利权人：天津大学
申请日： 2015-01-08 - 公布日： 2015-09-09 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：考虑光强调制下的二次谐振信号进行仿真分析，分析了洛伦兹线型和高斯线型两种不同吸收线型下的二次谐波特点，以及随调制度的变化情况，并进行了对比分析。同时，对考虑光强调制情况下，进行了二次谐波建模分析，分析了光强调制的线性部分、非线性部以及调制度对二次谐波的影响。与现有技术相比，本发明对考虑光强情况下的二次谐波的线型进行了仿真建模分析，分别对光强调制的线性部分、非线性部分、调制度对二次谐波的影响进行了分析。
基于 tdlas 技术氨气检测仿真系统及其分析方法

[发明专利]一种基于空间相位调制器和液晶器件的曝光装置-CN202211341017.4在审
发明人：王骁乾;罗锻斌;郑致刚;沈冬 -专利权人：华东理工大学
申请日： 2022-10-30 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于空间相位调制器和液晶器件的曝光装置，包括光源控制模块、光强和偏振控制模块、调焦伺服模块、样品安置模块、电压控制模块和监视模块，光源控制模块包括第一可切换反射镜以及光源切换组件，光强和偏振控制模块包括：光强调制组件，用于接收光源控制模块输出的光束，并调制光束中每个像素点光强；偏振调制组件，用于调制由光强调制组件出射的光束中每个像素点偏振态；第一可切换反射镜用于切换进入或退出光强调制组件和偏振调制组件之间的光路；调焦伺服模块和样品安置模块均切换正对偏振调制组件或第一可切换反射镜。
一种基于空间相位调制器液晶器件曝光装置

[实用新型]一种基于空间相位调制器和液晶器件的曝光装置-CN202222866699.2有效
发明人：王骁乾;罗锻斌;郑致刚;沈冬 -专利权人：华东理工大学
申请日： 2022-10-30 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种基于空间相位调制器和液晶器件的曝光装置，包括光源控制模块、光强和偏振控制模块、调焦伺服模块、样品安置模块、电压控制模块和监视模块，光源控制模块包括第一可切换反射镜以及光源切换组件，光强和偏振控制模块包括：光强调制组件，用于接收光源控制模块输出的光束，并调制光束中每个像素点光强；偏振调制组件，用于调制由光强调制组件出射的光束中每个像素点偏振态；第一可切换反射镜用于切换进入或退出光强调制组件和偏振调制组件间的光路；调焦伺服模块和样品安置模块切换正对偏振调制组件或第一可切换反射镜。
一种基于空间相位调制器液晶器件曝光装置

[实用新型]基于光学相控散斑场的成像装置-CN202023243282.8有效
发明人：袁园;陈辉;王高 -专利权人：苏州光隐科技有限公司;袁园
申请日： 2020-12-29 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G02F1/29 文献下载
摘要：本实用新型涉及光学相控阵成像技术领域，公开了一种基于光学相控散斑场的成像装置，包括：相干光源、分光器、多路相位调制器、相位调制电路、投射器、分束器、投屏器、感光器件、探测器和光强调制电路，所述分光器用于将相干光源发出的相干光分成多束子光束，多路相位调制器接收多束子光束，所述相位调制电路连接所述多路相位调制器，用于对进入多路相位调制器的多束子光束进行相位调制，所述投射器将相位调制后的多束子光束透射到分束器，所述分束器将所述多束子光束分成两路，一路用于照射目标物体，另一路通过所述投屏器照射所述感光器件，所述探测器连接光强调制电路，用于探测目标物体反射回来光强，所述光强调制电路连接所述相干光源，用于根据所述光强调节相干光源的输出。
基于光学相控散斑场成像装置

[实用新型]用于诱骗态量子密钥分配系统的量子态调制装置-CN201320160626.X有效
发明人：郭俊福;蒋金凤;韩正甫;赵义博 -专利权人：安徽问天量子科技股份有限公司
申请日： 2013-04-03 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： H04L9/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于诱骗态量子密钥分配系统的量子态调制装置，包括主控模块FPGA、1550nm激光器驱动模块和系统光学模块；所述系统光学模块包括电压控制普通光强调制器EVOA、F-M光学干涉环和光环形器；主控模块FPGA的一路输出与电压控制普通光强调制器EVOA电连接，电压控制普通光强调制器EVOA的输出与F-M光学干涉环电连接；1550nm激光器驱动电路的输出端与光环形器，光环形器的一路输出与电压控制普通光强调制器EVOA电连接，另一路用于输出被调制的量子信号。本实用新型能稳定可靠得将光子调制为信号态、decoy态和真空态，并且大大地降低了成本。
用于诱骗量子密钥分配系统调制装置

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