专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学校正装置及方法-CN201910253313.0有效
  • 李豪 - 昆山国显光电有限公司
  • 2019-03-29 - 2022-03-01 - G01N21/88
  • 本申请公开了一种光学校正装置及方法,属于自动光学检测技术领域。所述光学校正装置包括:用于向目标检测物照射检测光的检测光源,用于根据检测光照射到目标检测物后的反射光生成控制信号的控制模块,设置在检测光源与目标检测物之间,用于根据控制信号控制检测光的进光量的控光装置。本申请通过在自动光学检测设备AOI中设置光学校正装置,该光学校正装置可通过控制模块向控光装置发送回控制信号,该控制信号可使控光装置控制检测光的进光量,因此能够通过控制信号使反射光的光强处于预设范围内,从而解决了相关技术中AOI的光学校正容易造成漏检的问题,提高了AOI的检测准确度。
  • 光学校正装置方法
  • [发明专利]指纹检测装置、方法和电子设备-CN201910942519.4有效
  • 丘芳芳;黄力 - 深圳市汇顶科技股份有限公司
  • 2018-10-08 - 2020-08-25 - G06K9/00
  • 本申请实施例提供了一种指纹检测装置、方法和电子设备,该指纹检测装置,用于设置在电子设备的显示屏的下方,该指纹检测装置的指纹检测区域位于显示屏的显示区域,且包括中心检测区域和边缘检测区域;该指纹检测装置包括光学组件和光学传感器;光学组件用于将指纹检测信号导引或汇聚到光学传感器,指纹检测信号包括在指纹检测区域形成的光斑照射到指纹检测区域上方的手指而形成并穿过该显示屏的指纹检测光;光学传感器设置在光学组件下方,用于根据指纹检测信号检测相应的指纹信息;其中,光斑在指纹检测区域的边缘检测区域的亮度大于指纹检测区域的中心检测区域的亮度,以提升光学传感器获得的来自边缘检测区域的指纹检测光的信号量。
  • 指纹检测装置方法电子设备
  • [发明专利]用于相干检测方案的光学本机振荡器信号的产生-CN201480004663.9有效
  • 金田纪章 - 阿尔卡特朗讯
  • 2014-01-08 - 2018-01-09 - H04B10/63
  • 本发明涉及一种具有光学IQ调制器的光学接收器,所述光学IQ调制器经配置以产生用于对施加到所述光学接收器的光学输入信号进行光学零差检测光学本机振荡器OLO信号。所述光学接收器进一步具有(i)相位检测器,其经配置以产生所述OLO信号与所述光学输入信号的载波之间的相位差的电度量;及(ii)锁相环路,其经配置以使用所述电度量驱动所述光学IQ调制器。在一实施例中,所述相位检测器经配置以使用所述经零差检测信号的I分量及Q分量两者且以使所述光学接收器能够与M‑QAM调制格式兼容的方式产生所述电度量。
  • 用于相干检测方案光学本机振荡器信号产生
  • [发明专利]摄像装置和摄像方法-CN201410532359.3有效
  • 竹内谦司 - 佳能株式会社
  • 2014-10-10 - 2018-09-25 - H04N5/232
  • 该摄像装置包括:抖动检测单元,其检测上述摄像装置的抖动;第一光学校正单元和第二光学校正单元,其在与光轴不同的方向上移动并以光学方式对图像抖动进行校正;第一位置检测单元,其检测上述第一光学校正单元的位置,输出第一位置检测信号;第二位置检测单元,其检测上述第二光学校正单元的位置,输出第二位置检测信号;以及控制单元,其根据从上述抖动检测单元输出的抖动信号和上述第一位置检测信号来控制上述第一光学校正单元,根据从上述抖动检测单元输出的抖动信号和上述第二位置检测信号来控制上述第二光学校正单元,其中,上述第一位置检测单元的位置检测范围与上述第二位置检测单元的位置检测范围不同。
  • 摄像装置方法
  • [发明专利]光学信号检测装置-CN202110104156.4在审
  • 赵鹏;王超;刘聪;皮国娟;尚晓京;李东 - 安图实验仪器(郑州)有限公司
  • 2021-01-26 - 2021-04-16 - G01N21/76
  • 本发明公开了一种光学信号检测装置,包括一安装组件,具有第一安装件和第二安装件;一动力机构,设置在第二安装件上;一快门,传动机构带动快门往返平移;一密封件,插装在第一安装孔内,密封件具有一测光孔;以及一测光元器件本发明优点在于将快门安装在第一安装件和第二安装件之间,且测光元器件安装在第二安装件上,传动机构设置在第二安装件上,整体结构紧凑体积小巧;且检测时可将反应杯卡装在第一安装件上的密封件上,使其与第一安装件、测光元器件围成一个暗室,结构巧妙,且无需将反应杯置于检测仪器内部即可实现反应杯的测光。
  • 光学信号检测装置
  • [实用新型]光学信号检测装置-CN202120212273.8有效
  • 赵鹏;王超;刘聪;皮国娟;尚晓京;李东 - 安图实验仪器(郑州)有限公司
  • 2021-01-26 - 2021-11-02 - G01N21/76
  • 本实用新型公开了一种光学信号检测装置,包括一安装组件,具有第一安装件和第二安装件;一传动机构,设置在第二安装件上;一快门,传动机构带动快门往返平移;一密封件,插装在第一安装孔内,密封件具有一测光孔;以及一测光元器件本实用新型优点在于将快门安装在第一安装件和第二安装件之间,且测光元器件安装在第二安装件上,传动机构设置在第二安装件上,整体结构紧凑体积小巧;且检测时可将反应杯卡装在第一安装件上的密封件上,使其与第一安装件、测光元器件围成一个暗室,结构巧妙,且无需将反应杯置于检测仪器内部即可实现反应杯的测光。
  • 光学信号检测装置
  • [发明专利]半导体光学检测方法及系统-CN202210296167.1在审
  • 孔寒夫;兰艳平 - 上海御微半导体技术有限公司
  • 2022-03-24 - 2022-07-29 - G01N21/95
  • 本发明提供了一种半导体光学检测方法及系统,半导体光学检测方法包括采用光学系统对待测样本进行拍摄以得到初始图片,根据初始图片中不同区域的信号强度的大小将待测样本划分为若干个信号区域;获取反射率信息和系统光学效率信息;调整所述光学系统中的检测光源不同配置的光强,并根据反射率信息和系统光学效率信息计算得到不同光强的光学系统在信号区域中的信号强度;计算信号区域中的信号强度与预设检测强度之间的方差,以获取目标光强配置信息;按照目标光强配置信息对检测光源进行配置后,通过光学系统对待测目标进行拍摄以获取检测结果。本发明能够对具有不同反射率的目标进行表面快速检测,大幅度提高了检测效率。
  • 半导体光学检测方法系统
  • [发明专利]一种便携式脑磁检测装置-CN201610367559.7有效
  • 张广浩;霍小林;向敬 - 中国科学院电工研究所
  • 2016-05-30 - 2019-06-04 - A61B5/04
  • 一种便携式脑磁检测装置,包括脑磁测量头盔(100)、光学原子磁强计(101a~101h)、驱动系统(103)、信号检测系统(104)和信号存储系统(105)。光学原子磁强计(101a~101h)的输入端与驱动系统(103)的输出端连接,输出端与信号检测系统(104)的输入端连接,信号检测系统(104)的第一输出端与信号存储系统(105)连接,信号检测系统(104光学原子磁强计(101a~101h)镶嵌在脑磁测量头盔(100)上,采集脑磁信号。驱动系统(103)维持光学原子磁强计正常工作状态。信号检测系统(104)用于识别光学原子磁强计的输出信号信号存储系统(105)完成对信号的存储。
  • 一种便携式检测装置

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