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- [发明专利]包含信号匹配滤波的分光计-CN02820898.6无效
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布鲁斯·W·亚当斯;彼得·R·H·麦克康耐尔
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焦耳显微系统加拿大公司
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2002-09-19
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2005-02-02
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G01J3/44
- 本发明可提供一种对测试样本执行光谱分析的光学系统。此光学系统包括：一个用于发射电磁辐射的光子能源；一个光学发射处理装置；一个接收光光学处理装置；一个光学检测器；以及数字信号处理装置。光子能源发射电磁辐射，并且是由数字信号处理装置控制的。光学发射处理装置接收光子能源发出的电磁辐射并将一个或多个照射波长传送到测试样本，其中光学发射处理装置是由数字信号处理装置控制的。接收光光学处理装置收集和隔离所接收到的来自测试样本的电磁辐射的一个或多个波长并将所接收到的电磁辐射的隔离的一个或多个波长传送到一个光学检测器，其中所述接收光光学处理装置是由数字信号处理装置控制的。光学检测器感知所接收到的电磁辐射的一个或多个隔离的波长并将其转换成电信号。数字信号处理装置对从光学检测器接收到的电信号进行匹配滤波并且还控制光子能源、光学发射处理装置和接收光光学处理装置的功能。
- 包含信号匹配滤波分光计
- [发明专利]光学器件、投影仪以及光学器件的控制方法-CN202011041610.8有效
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平仓隆雄
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精工爱普生株式会社
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2020-09-28
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2022-04-26
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G03B21/14
- 提供光学器件、投影仪以及光学器件的控制方法，在避免光学器件的电路规模变大以及光学器件的结构变得复杂的同时，检测像素偏移量，并将检测结果反映到可动部的驱动控制中。光学器件具有：可动部，其包含光学部和保持部，该光学部根据影像光相对于入射面的入射角度使影像光弯曲并射出，该保持部支承光学部；致动器(6a)，其使可动部以第1轴为中心旋转；致动器(6b)，其使可动部以第2轴为中心旋转；驱动电路，其向致动器(6a)提供第1驱动信号，向致动器(6b)提供第2驱动信号；传感器，其配置在与第1轴上和第2轴上不同的位置，检测光学部的位置，在驱动电路中，根据由传感器检测的光学部的位置调整第1驱动信号和第2驱动信号。
- 光学器件投影仪以及控制方法
- [发明专利]一种光学检测装置、系统及方法-CN201610238906.6在审
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曾广玺;周琨
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深圳市欢创科技有限公司
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2016-04-18
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2016-09-07
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G01B11/00
- 本发明公开了一种光学检测装置、系统及方法，该光学检测装置包括至少四个光学传感器及一处理器，其中，所述至少四个光学传感器中至少一对沿X轴方向上分布，且另一对或多对沿Y轴方向上分布，所述至少四个光学传感器接收光源发射的光信号，并将光信号转换为电信号，所述处理器与所述至少四个光学传感器连接，用于接收所述至少四个光学传感器发送的电信号，并当所述电信号变化时，根据所述电信号变化值计算X轴方向及Y轴方向上光学传感器之间的电流差值，并根据所述电流差值分别计算光源在X轴方向以及Y轴方向上的偏转角度，确定所述光学检测装置相对于光源的空间指向角度。
- 一种光学检测装置系统方法
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