专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种大视场高分辨率光谱光学系统-CN201720207419.3有效
  • 钟悦;常亮;屈中权 - 中国科学院云南天文台
  • 2017-03-06 - 2017-09-22 - G01J3/28
  • 本实用新型属于光学设备技术领域,公开了一种大视场高分辨率光谱光学系统,所述大视场高分辨率光谱光学系统装置有多个狭缝及其对应的场镜;狭缝空间下方有多个对应的场镜,准直系统、成像系统与场镜连接。本实用新型采用多个分段狭缝和对应的场镜,不同的场镜将不同狭缝段的像分别反射成像到不同的CCD上,相对传统光谱通常包含一个光栅、一个探测器的结构,利用一块光栅实现了多台光谱色散的功能,实现了一台光谱中多台探测器同时采集数据,增大了视场;降低了研制成本和多个光谱空间布局成本;如果是积分视场光谱,则可有效增加光谱入射端的光纤数量,同时节约光栅等光学元件。
  • 一种视场高分辨率光谱仪光学系统
  • [发明专利]一种星载差分吸收光谱光学系统-CN201110406650.2有效
  • 刘文清;江宇;相连钦;司福祺;江庆五;薛辉;谢品华;刘建国 - 中国科学院合肥物质科学研究院
  • 2011-12-07 - 2012-06-27 - G01J3/42
  • 一种星载差分吸收光谱光学系统,由中继光学系统和Offner成像光谱系统组成,中继光学系统由中继反射镜、中继镜头及分色片构成;Offner成像光谱系统由入射狭缝、凸面光栅和凹面反射镜构成;中继光学系统利用分色片将探测波段分光形成四通道,分别由四组中继镜头聚集到光谱入射狭缝处。各波段光从光谱入射狭缝进入光谱,经凸面光栅分光后,光路转折聚焦到探测器上。本发明利用中继反射镜将光路转折,利用分色片将探测波段分为四个通道,从而提高系统的探测分辨率,保证测量准确性,使得整个光学系统体积紧凑。Offner成像光谱成像光谱性能优异,尤其对畸变的改善,易于整个系统的小型化、轻型化,适合空间技术应用。
  • 一种星载差分吸收光谱仪光学系统
  • [实用新型]一种快速测量光学镜片透过率的测量系统-CN202020878696.9有效
  • 郑璇;刘飞 - 咸阳镭瑟奥普光电科技股份有限公司
  • 2020-05-22 - 2020-12-08 - G01N21/59
  • 本实用新型提供一种快速测量光学镜片透过率的测量系统,包括卤钨灯光源,所述卤钨灯光源上方设置有光源散热风扇,所述卤钨灯光源下方设置有样品承载台,所述样品承载台上设一缺口,所述缺口位于卤钨灯光源正下方,所述缺口下方设置有光纤光谱,所述光纤光谱的光纤光谱接收口位于缺口正下方;所述光纤光谱下方设有光谱数据传输口,该系统将光纤光谱搭载承载样品的平台和稳定的光源等结构,即利用了光纤光谱光谱分析中拥有的速度优势,又能满足各种不同尺寸的镜片透过率的测量,实现了光学镜片透过率的快速测量。
  • 一种快速测量光学镜片透过系统
  • [实用新型]一种光学实验用台式光谱-CN202122178033.3有效
  • 毛洋 - 速若伟(上海)电气工业科技有限公司
  • 2021-09-09 - 2022-01-07 - G01J3/28
  • 本实用新型提供一种光学实验用台式光谱,包括底座,所述底座的上端固定安装有防护壳,所述防护壳的内部活动安装有托架,所述托架的底端固定连接有电动推杆和弹簧,且所述电动推杆和弹簧的底端均固定连接在底座内部,所述托架的内部固定安装有光谱本体,所述光谱本体的上端固定安装有样品台,所述托架的上端活动安装有盖板。一种光学实验用台式光谱,通过将光谱本体安装在托架的内部,且托架的底部设有电动推杆,电动推杆带动托架在防护壳的内部进行上下移动,便于对托架内部的光谱本体进行隐藏和收纳,避免光谱本体在非使用状态时出现污染和老化,保证光谱本体的使用寿命。
  • 一种光学实验台式光谱仪
  • [实用新型]全焦面零像散成像光谱-CN202221698703.2有效
  • 黄冲;王立峰 - 苏州徕谱科技有限公司
  • 2022-07-04 - 2022-12-30 - G01N21/31
  • 本实用新型提供一种全焦面零像散成像光谱,包括:入射板、光学器件、校正板、成像反射镜和探测器;光学器件用于将经过其的光束进行分光,入射板上设有用于信号光射入的入射狭缝;信号光经入射狭缝射入,经过所述光学器件、校正板和成像反射镜后聚焦成像于所述探测器上;其中,所述校正板位于所述入射板与光学器件之间,和/或所述校正板位于所述光学器件与成像反射镜之间;该光谱利用校正板校正其光学系统的球差、慧差和像散,不仅实现全焦面零像散校正,且大大提高了该成像光谱的分辨率及其成像质量;另外,将校正板置于该光谱中的不同的光学器件之间,提高该光谱的灵活性。
  • 全焦面零像散成像光谱仪
  • [发明专利]用于校正光谱像散与彗差的自由曲面光学器件-CN201310054633.6无效
  • 夏果;陈艳婷;刘康;余飞鸿 - 浙江大学
  • 2013-02-20 - 2013-06-26 - G01J3/28
  • 本发明关于光谱器的改进,旨在提供一种用于校正光谱像散与彗差的自由曲面光学器件。光谱包括光源、入射狭缝、凹面准直镜、平面衍射光栅、凹面成像镜和光电探测器,该自由曲面光学器件位于凹面成像镜与光电探测器之间,自由曲面光学器件的上表面是自由曲面,下表面是平面,下表面与光电探测器叠放在一起本发明设置在光谱的光电探测器(线性CCD阵列)上,本发明上表面的自由曲面曲率沿着色散方向和垂直于色散方向分别变化,分别校正光谱的子午彗差和像散,提高了集光效率,增加了光谱的灵敏度。
  • 用于校正光谱仪自由曲面光学器件

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