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[实用新型]一种光回损测量装置-CN201220168406.7有效
发明人：夏震宇;王栋 -专利权人：誉锦通信(上海)有限公司
申请日： 2012-04-19 - 公布日： 2012-11-07 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：一种光回损测量装置，它涉及测定光器件装置领域。它包含激光光源(1)、分光器(2)、测反射功率的光功率计(3)、回损仪(4)和回损仪输出接口(5)，激光光源(1)、分光器(2)和测反射功率的光功率计(3)分别固定安装在回损仪(4)上，激光光源(1)的输出端和测反射功率的光功率计(3)的输出端均分别与分光器(2)的两个输入端连接，分光器(2)的一个输出端与回损仪输出接口(5)连接。它不仅可以测量回损的入射光功率还可以测量插损，即可以把插损回损集合在一台设备上，方便使用。
一种光回损测量装置

[实用新型]一种具备回损监测功能的单纤双向保护光模块-CN200620172686.3无效
发明人：喻杰奎;施伟;谭曼;张克强;常超;袁鸿震;罗清 -专利权人：武汉光迅科技股份有限公司
申请日： 2006-12-28 - 公布日： 2008-01-16 - 主分类号： H04B10/08 文献下载
摘要：一种具备回损监测功能的单纤双向保护光模块，它包括光开关单元、光功率监测单元、内部光收发模块单元，其特征在于：还有两个回损监测单元A和B；每个回损监测单元均包含一只耦合器、两只探测器、两只滤波器；所述光开关单元有4个光端口，分别与主用光缆，备用光缆，光端机和内部光收发模块单元相连接，光功率监测单元M和N分别接入主用光缆和备用光缆，回损监测单元A接入连接光开关单元与内部光收发模块单元的光路中，回损监测单元B接入连接光开关单元与光端机的光路中
一种具备监测功能双向保护模块

[实用新型]光纤免缠绕插损回损测试仪-CN201420159584.2有效
发明人：周永军 -专利权人：镇江奥菲特光电科技有限公司
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2014-10-15 - 主分类号： H04B10/071 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光纤免缠绕插损回损测试仪。它包括中央处理器，中央处理器通过光发射模块连接波分复用器，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的时钟芯片，时钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。采用上述的结构后，可以通过时钟芯片提供时间基准，回损测试模块记录返回的菲涅尔反射，回损测试模块通过与时钟芯片的同步，可以将不同端面的反射值区分开，就达到了免于光纤缠绕的目的，测试方便可靠，避免了光纤在测试时受伤
光纤缠绕插损回损测试仪

[发明专利]一种应用于改善回损指标的光路装置及光器件-CN201811372525.2在审
发明人：李明洋;杨标 -专利权人：成都优博创通信技术股份有限公司
申请日： 2018-11-15 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： G02B6/32 文献下载
摘要：本发明提供了一种应用于改善回损指标的光路装置及光器件，涉及光器件的技术领域，应用于改善回损指标的光路装置包括：光纤插入组件，以及与光纤插入组件分离设置的透镜组件；光纤插入组件设置有光纤通道；光纤通道的出口朝向透镜组件本发明提供的应用于改善回损指标的光路装置及光器件，通过光纤的纤芯轴与透镜组件的光轴离轴设置，可以使透镜组件接收的反射光经过透镜再次汇聚后，与纤芯耦合角失配，使得大部分反射光无法耦合进入光纤，因此提高了光纤的回损数值，改善了回损指标，进而保证了光纤的传输性能。
透镜组件光路装置光纤通道光器件光纤光纤插入组件离轴纤芯反射光应用光轴透镜传输性能分离设置光纤插入光轴平行耦合耦合角失配汇聚出口保证

[实用新型]一种测量光器件回损的装置-CN201921155950.6有效
发明人：高国祥;谢艺力;何伟强;肖爱长 -专利权人：广东瑞谷光网通信股份有限公司
申请日： 2019-07-22 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测量光器件回损的装置，包括光源、环形器和光功率测量仪器，该环形器设有三个端口，环形器的第一端口与所述光源连接，环形器的第二端口与待测光器件连接，环形器的第三端口与所述光功率测量仪器连接本实用新型通过采用环形器替代传统回损仪使用的分光器，利用环形器相邻端口之间的高隔离度的特性，解决常规回损仪由于分光器同侧入光端口间隔离度较低所带来的测量高回损器件时测量误差较大的问题，使测量结果更加准确
一种测量器件装置

[发明专利]插损测量设备及方法-CN202010983516.8在审
发明人：耿佳宁;李盛 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2020-09-17 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明实施方式涉及通信技术领域，公开了一种插损测量设备，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上；控制器用于控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块用于将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；接收模块用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器还用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果本发明实施方式还公开了一种插损测量方法。本发明实施方式提供的插损测量设备及方法，可以提高光交叉矩阵设备插损测量的重复使用性，正常业务中也能对光交叉矩阵设备插损进行实时测量。
测量设备方法

[实用新型]一种光模块参数测试装置-CN201520842979.7有效
发明人：高学严 -专利权人：江苏奥雷光电有限公司
申请日： 2015-10-28 - 公布日： 2016-03-09 - 主分类号： H04B10/07 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光模块参数测试装置，包括光信号生成单元、第一光分路模块、第二光分路模块、回损光功率检测模块、灵敏度光功率检测模块和控制模块，通过控制模块启动控制所述光信号生成单元生成所述入射光，并协调控制所述灵敏度光功率检测模块对入射光功率以及回损光功率检测模块对反射光功率的读取，该装置可用于检测光模块的灵敏度、端面反射光回损、高告警和低告警等参数，解决了现有技术中对这些参数独立测试所带来的成本高、操作复杂的问题，到达了降低成本、简单化调试操作、减少测试时间以及提高测试效率的效果
一种模块参数测试装置

[发明专利]一种光电子器件的光学参数检测装置与方法-CN201310302142.9有效
发明人：阳波;李彦文;唐文胜;王胜春;尹丹;杨林 -专利权人：湖南师范大学
申请日： 2013-07-18 - 公布日： 2013-10-23 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光电子器件的光学参数检测装置和方法，该检测装置的两台2×N光开关布置在试验箱旁，并通过光纤与放置在试验箱中的光电子器件样品相联，另外一侧光路通过2×2光开关与偏振控制器相联和光功率计相联；1×N光开关通波分复用器与宽带光源，再通过光耦合器与偏振控制器、回损仪相联。本发明采用多波长光源，提高了该装置多波长光学参数测试的能力，降低了测试设备的成本；采用2×N光开关和光纤终止器构造回损测试光路，实现样品回损的在线测量；实现光电子器件双向光学参数的自动化检测，提高了光学参数测试效率和一致性；计算机实时记录试验箱、光功率计、回损仪的数据，实现光学参数测量的自动化。
一种光电子器件光学参数检测装置方法

[实用新型]一种回损标定系统-CN201821418387.2有效
发明人：洪亮;沈乾 -专利权人：上海中科创欣通讯设备有限公司;上海中科股份有限公司;上海中科光纤通讯器件有限公司
申请日： 2018-08-31 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及光回损仪校验领域，具体为一种回损标定系统，其特征是，包括光分支单元，光衰减单元，光监测单元。其中，光分支单元的作用是对输入光做合束或分束；光衰减单元的作用是对光功率做可调衰减；光监测单元的作用是对光功率做监视测量，生成反馈数据。本实用新型光路对称，标定范围大，波长覆盖宽，重复性好。
本实用新型光分支单元光监测单元光衰减单元标定系统反馈数据光路对称监视测量校验输入光标定波长分束合束可调衰减覆盖

[发明专利]基于光纤光栅的新型光回损校准件-CN201911397753.X在审
发明人：胡婉君;李文兴;张辉;李建征;吕东瑞;王卓念 -专利权人：广电计量检测（北京）有限公司;广州广电计量检测股份有限公司
申请日： 2019-12-30 - 公布日： 2020-05-05 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及光纤光栅的技术领域，更具体地，涉及基于光纤光栅的新型光回损校准件。基于光纤光栅的新型光回损校准件，其中，包括依次连接的FC/APC接头、光反射装置和光端接装置。本发明适用于校准一般光回损测试仪以及基于光时域反射仪原理的免缠绕光回损测试仪。本发明结构紧凑，使用轻便。光栅长度在10mm以下，为避免涉效应，光栅距离两端面的距离应在10mm或以上。
基于光纤光栅新型光回损校准

[实用新型]双波长同步测试的插损回损测试仪-CN201420158837.4有效
发明人：周永军 -专利权人：镇江奥菲特光电科技有限公司
申请日： 2014-04-03 - 公布日： 2014-10-15 - 主分类号： H04B10/075 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双波长同步测试的插损回损测试仪。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接到波分复用器上，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块直接与中央处理器进行信息传输。采用上述的结构后，光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输到光分路器，然后经过接头和测试线到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，由此可通过与CPU联动的方式，轮流发射1310nm、1550nm脉冲信号
波长同步测试插损回损测试仪

[实用新型]一种光器件测试系统-CN202221780358.7有效
发明人：尹根;李林科;吴天书;杨现文;张健 -专利权人：武汉联特科技股份有限公司
申请日： 2022-07-11 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： H04B10/07 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光器件测试系统，该系统包括光分路器、回损测试仪和PIV测试仪，所述光分路器的合路端口通过合路光纤与待测光器件连接，所述光分路器的第一个分路端口通过第二光纤与回损测试仪连接，所述光分路器的第二个分路端口通过第三光纤与本实用新型采用光分路器将光器件的光电性能测试和回损测试进行整合并进行测试系统合并，使得两个测试合并到一个台位，可以缩短生产流程，节约台位和生产人员，不仅减小了多次测试带来的光器件端面损伤风险，且大大提高了测试效率
一种器件测试系统

[实用新型]一种光路检测系统-CN201921091892.5有效
发明人：易旭良 -专利权人：广东长实通信科技有限公司
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2020-02-14 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光路检测系统，其包括微处理器部分、稳定光源部分、光插损/光功率计测试模块、光回损测试/光故障点检测模块和供电模块。能够实现成本低廉以及检测结果准确的效果。
光路检测系统本实用新型故障点检测微处理器测试模块供电模块光功率计检测结果稳定光源插损测试

[发明专利]一种基于OTDR的网络终端状态识别方法及装置-CN202211233015.3在审
发明人：王雅;王善忠;陈文浩 -专利权人：浙江光维通信技术有限公司;上海光维通信技术股份有限公司
申请日： 2020-05-30 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： H04B10/071 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于OTDR的网络终端状态识别方法及装置，所述方法包括以下步骤：1)对基准参数进行初始化校准，所述基准参数包括光猫判定阈值TH和不同波长的回损差值DF；2)以第一波长光源对待测终端进行测试，获得第一末端回损真实值B1；3)判断是否存在B1TH，若是，则判定终端状态为空气，结束；若否则执行步骤4)；4)以第二波长光源对待测终端进行测试，获得第二末端回损真实值B2；5)判断是否存在B2‑B1TL2+DF，若是，则判定终端状态为光猫；若否，则判定为光纤断纤，其中，TL2表示断纤回损容差。与现有技术相比，本发明具有测试准确度高、能有效区分空气、光猫和断纤状态等优点。
一种基于 otdr 网络终端状态识别方法装置

[发明专利]一种基于OTDR的网络终端状态识别方法及装置-CN202010480630.9有效
发明人：王猛;王善忠;王雅;王涛;陈文浩;汤峥宇 -专利权人：浙江光维通信技术有限公司;上海光维通信技术股份有限公司
申请日： 2020-05-30 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： H04B10/071 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于OTDR的网络终端状态识别方法及装置，所述方法包括以下步骤：1)对基准参数进行初始化校准，所述基准参数包括光猫判定阈值TH和不同波长的回损差值DF；2)以第一波长光源对待测终端进行测试，获得第一末端回损真实值B1；3)判断是否存在B1TH，若是，则判定终端状态为空气，结束；若否则执行步骤4)；4)以第二波长光源对待测终端进行测试，获得第二末端回损真实值B2；5)判断是否存在B2‑B1TL2+DF，若是，则判定终端状态为光猫；若否，则判定为光纤断纤，其中，TL2表示断纤回损容差。与现有技术相比，本发明具有测试准确度高、能有效区分空气、光猫和断纤状态等优点。
一种基于 otdr 网络终端状态识别方法装置

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