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[发明专利]光电器件光照射的起始时间点、响应延时标定方法和系统-CN202310519126.9在审
发明人：费广涛;夏凯;许少辉 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2023-05-10 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01D18/00 文献下载
摘要：本发明涉及光电探测技术领域，尤其是一种光电器件光照射的起始时间点、响应延时标定方法和系统。所述光电器件光照射的起始时间点标定系统，包括光源、分光片和光电探测器；分光片设置在光源的光出射方向上，分光片有两路出光，两路出光分别为透射光和反射光；光电探测器设置在分光片的第一路出光方向上，第二路出光方向上设有用于放置待测试器件的测试位置；分光片出光到达光电探测器和测试位置上待测试器件的光程相同。本发明可精确标定待测试器件的受光时间，即光照的起始时间点；本发明更加适用于对待测试器件的光电特性要求高精度分析的场景。
光电器件照射起始时间响应延时标定方法系统

[实用新型]高效光器件工业温度测试装置-CN202020551867.7有效
发明人：李帆;李克朋;郑睿;龚佳健 -专利权人：易锐光电科技（安徽）有限公司;苏州易锐光电科技有限公司
申请日： 2020-04-15 - 公布日： 2020-09-11 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种高效光器件工业温度测试装置，其包括：具有容置空间的隔热罩；与所述隔热罩连通的热流仪；设置在所述隔热罩内的光器件测试夹具，所述光器件测试夹具上设有隔热部，所述隔热部内设有用于对产品进行固定的夹持部该高效光器件工业温度测试装置采用热流仪进行温度控制，并通过设置两个隔热区域，使光器件能在工业温度范围(‑45C～95C)的温度条件下进行测试，解决了传统TEC控温测试方法的不足。
高效器件工业温度测试装置

[发明专利]5G／6G用光器件全温自动测试系统和方法-CN202010543176.7在审
发明人：詹敦平 -专利权人：江苏飞格光电有限公司
申请日： 2020-06-15 - 公布日： 2020-08-28 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供5G/6G用光器件全温自动测试系统和方法，包括：光器件驱动板，用于对待测5G/6G光器件进行驱动，满足高速信号的测试条件；高低温循环箱，用于放置待测5G/6G光器件，使得待测5G/6G光器件在全温环境进行相应测试；LIV测试仪、光谱仪和高速网络分析仪，对待测5G/6G光器件在全温环境下的LIV特性、光谱特性、高速网络分析各项参数进行测试；电脑，分别连接并驱动所述LIV测试仪、光谱仪和高速网络分析仪进行测试动作；电源，为待测5G/6G光器件、LIV测试仪、光谱仪、高速网络分析仪和电脑提供工作电流。本发明可以方便、有效、迅速地进行检测，提高生产全温测试的效率，降低生产测试成本，同时对生产过程进行有效的管控。
用光器件自动测试系统方法

[发明专利]一种光路耦合测试设备-CN202110768681.6在审
发明人：彭寒勤;黄君彬;杨勇;付全飞;陈纪辉 -专利权人：深圳市埃尔法光电科技有限公司
申请日： 2021-07-07 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： H04N7/18 文献下载
摘要：本发明提供了一种光路耦合测试设备，用于对待测光模块的光路耦合进行测试，其包括底座、影像捕捉器件以及位置调节机构，其中，底座用于放置待测光模块，位置调节机构设置在底座上且与底座滑动配合，位置调节机构连接于影像捕捉器件，位置调节机构用于带动影像捕捉器件在三维空间中移动，影像捕捉器件用于捕捉待测光模块的光纤接口的图像。本发明能够自动完成对待测光模块的光纤接口的对焦定位和影像捕捉，从而能够有效地提升光路耦合测试设备的测试效率，并缩短光路耦合测试设备的测试时间。
一种耦合测试设备

[实用新型]一种光路耦合测试设备-CN202121542013.3有效
发明人：彭寒勤;黄君彬;杨勇;付全飞;陈纪辉 -专利权人：深圳市埃尔法光电科技有限公司
申请日： 2021-07-07 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： H04N7/18 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种光路耦合测试设备，用于对待测光模块的光路耦合进行测试，其包括底座、影像捕捉器件以及位置调节机构，其中，底座用于放置待测光模块，位置调节机构设置在底座上且与底座滑动配合，位置调节机构连接于影像捕捉器件，位置调节机构用于带动影像捕捉器件在三维空间中移动，影像捕捉器件用于捕捉待测光模块的光纤接口的图像。本实用新型能够自动完成对待测光模块的光纤接口的对焦定位和影像捕捉，从而能够有效地提升光路耦合测试设备的测试效率，并缩短光路耦合测试设备的测试时间。
一种耦合测试设备

[实用新型]光器件拉力测试夹具-CN201720086883.1有效
发明人：马小立;司马卫武;黄文伟;朱大利;刘钦来 -专利权人：东莞光智通讯科技有限公司
申请日： 2017-01-20 - 公布日： 2017-09-29 - 主分类号： G01N3/04 文献下载
摘要：本实用新型公开一种光器件拉力测试夹具，包括柱体及抱紧件，当光器件组合装设在所述光器件拉力测试夹具时，所述光器件组合的光器件的若干管脚围设在所述柱体外侧，所述抱紧件被配置为当所述若干管脚围设在所述柱体外侧时抱紧所述若干管脚使其平滑夹持在所述抱紧件与所述柱体之间与现有技术相比，所述光器件拉力测试夹具通过将所述光器件的若干管脚设在所述柱体外侧，而后通过调节所述抱紧件使所述若干管脚平滑夹持在所述抱紧件与所述柱体之间，因此，在进行拉力测试时，所述若干管脚能够有效避免变形的情况发生
器件拉力测试夹具

[发明专利]光器件静态性能的测试装置和测试方法-CN202310103871.5在审
发明人：刘伟;姚娜;田熙 -专利权人：成都光创联科技有限公司
申请日： 2023-02-13 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本申请公开了光器件静态性能的测试装置和测试方法，属于光器件测试技术领域，一种光器件静态性能的测试装置，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。
器件静态性能测试装置方法

[发明专利]一种光器件老化测试装置和方法-CN202110351937.3有效
发明人：林楠;高繁荣;付永安 -专利权人：武汉光迅科技股份有限公司
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及通信技术领域，提供了一种光器件老化测试装置和方法，装置包括温控系统、检测光路选择器和与所述检测光路选择器相连的光器件及检测光功率计；所述温控系统自动控制所述检测光路选择器、所述光器件和所述检测光功率计的工作温度；所述检测光路选择器用于控制将所述光器件发出的光接入到所述检测光功率计；所述检测光功率计用于实时记录和传输检测到的出光功率值。本发明通过温控系统保证光器件的出光功率值不受温度因素的影响，通过将光器件与检测光功率计连为一体，在线监控光器件的出光功率值变化，仅需一次插拔即可完成光器件的老化测试，无需多次插拔测量光器件老化前后的出光功率值，避免了多次插拔对光功率值变化的影响，提高了老化测试效率。
一种器件老化测试装置方法

[实用新型]光器件智能测试系统及装置-CN202320071777.1有效
发明人：王苗庆;徐华良;罗声静;陈志超;俞国平 -专利权人：绍兴中科通信设备有限公司
申请日： 2023-01-09 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H04B10/07 文献下载
摘要：本实用新型涉及光器件测试领域，尤其涉及一种光器件智能测试系统及装置，包括主控制器、第一分控制器、第二分控制器、光功率探测模块、发射性能测试电路、光衰减器、光衰减器控制电路、误码测试电路、光模块、晶振电路、接收性能测试电路；优点为：通过设置一个主MCU控制器和两个分MCU控制器，两个分MCU控制器分别用于控制光器件的接收性能测试和发射性能测试，主MCU控制器用于与两个分MCU控制器、上位机通信，来实现光器件的收发一体同步测试，缩短了测试时间，同时将计算精度从原来的10位提高到了现在的14位，提升了测试良率。
器件智能测试系统装置

[实用新型]一种高速光器件丝焊的虚焊筛选系统-CN202021640780.3有效
发明人：严伟;柯健 -专利权人：武汉昱升光电股份有限公司
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： B23K37/00 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种高速光器件丝焊的虚焊筛选系统，包括光学耦合装置、高低温温循装置、直流测试装置、第一暂存装置，第一传送装置、第二传送装置、第三传送装置、控制装置，光学耦合装置将耦合测试后耦合参数正常的高速光器件经第一传送装置送至高低温温循装置，高低温温循装置将温度循环测试后的高速光器件经第二传送装置送至第一暂存装置进行暂存，第一暂存装置将高速光器件经第三传送装置逐一送至直流测试装置，直流测试装置将直流性能测试后直流性能正常的高速光器件筛选出来本实用新型提出的高速光器件丝焊的虚焊筛选系统，筛选过程中没有机械冲击或变频振动，对高速光器件没有造成损伤，有利于提高高速光器件在客户侧的长期可靠性。
一种高速器件筛选系统

[实用新型]光器件内部电路性能的测试装置-CN202320193324.6有效
发明人：刘伟;姚娜;田熙 -专利权人：成都光创联科技有限公司
申请日： 2023-02-13 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请公开了光器件内部电路性能的测试装置，属于光器件测试技术领域，一种光器件内部电路性能的测试装置，包括：控制模块、测量仪表以及测试电路板；其中，控制模块分别与测量仪表和测试电路板信号连接，测量仪表与测试电路板信号连接控制模块控制测量仪表对安装在测试电路板上的待测试光器件，依次进行电阻、单向导电性以及结电容的功能测试；其中，测试电路板上设置有多个CR接口，CR接口的数量大于待测试光器件上IO接口的数量，CR接口一端连接至测量仪表，另一端连接至IO接口，且每个CR接口均设置有切换开关，控制模块控制切换开关的闭合以形成测试回路。
器件内部电路性能测试装置

[实用新型]一种发光器件测试系统的光参数测试装置-CN201720801906.2有效
发明人：杨波;刘振辉;韦日文;李景均 -专利权人：深圳市矽电半导体设备有限公司
申请日： 2017-07-04 - 公布日： 2018-02-27 - 主分类号： G01M11/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种发光器件测试系统的光参数测试装置，解决了常见发光器件测试系统中收光组件容易对载片台的活动造成干扰的问题，其技术方案要点是，包括机座；设于所述机座上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的收光组件；以及，用于驱动所述收光组件靠近一载片台中被测发光器件的位置以进行光参数收集或远离所述载片台以便载片台移动至退片位置以取下被测元器件的驱动机构，达到收光组件不易对载片台的活动造成干扰的目的。
一种发光器件测试系统参数装置

[实用新型]电激元器件光信号采集装置、光参数测试装置及设备-CN202021955726.8有效
发明人：韦日文;杨应俊;沈杰;刘振辉 -专利权人：矽电半导体设备（深圳）股份有限公司
申请日： 2020-09-09 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了电激元器件光信号采集装置、光参数测试装置及设备。所述电激元器件光信号采集装置包括，固定连接于机架的测试电极，用于对电激元器件导通电流；支撑部，沿第一方向正对应所述测试电极并沿第一方向运动连接于所述测试电极；采用将电激元器件主动靠近测试电极并导入电荷的方式，便于保证电激元器件相对于测试电极的平整度，从而保证测试的准确度。
元器件信号采集装置参数测试设备

[发明专利]一种TOSA芯片的光学性能测试系统-CN201911215606.6在审
发明人：朱腾飞 -专利权人：昂纳信息技术（深圳）有限公司
申请日： 2019-12-02 - 公布日： 2020-03-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供TOSA芯片技术领域，具体涉及一种TOSA芯片的光学性能测试系统。包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的准直器件、隔离器件和分光器件，以及设置在分光器件两路分光光路的第一聚焦器件和第二聚焦器件，以及且分别与第一聚焦器件和第二聚焦器件聚焦点配合设置的第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器与一功率测试模块连接，所述第二光接收器与一频谱测试模块连接。本发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明通过一种TOSA芯片的光学性能测试系统，成本低，结构简单，便于安装和维护，还能有效解决TOSA芯片功率检测不准确的问题。
一种 tosa 芯片光学性能测试系统

[发明专利]光器件的测试夹具及其测试装置-CN202011580399.7在审
发明人：陈玲玲;曾笔鉴;熊永华;余洁;万枫;陈佳俊;白山大地 -专利权人：武汉光迅科技股份有限公司;株式会社维波塞博
申请日： 2020-12-28 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本申请提供一种光器件的测试夹具及其测试装置，测试夹具包括箱体、夹持组件以及电路板。箱体具有能够密闭保护气体的容纳腔和排线接口，夹持组件设置在箱体上，用于夹持光器件。电路板设置在容纳腔内，光器件的管脚与电路板连接，电路板通过排线接口与外部电连接。本申请提供的光器件的测试夹具及其测试装置，通过将光器件的管帽和电路板设置在容纳腔内，防止其直接暴露在高温高湿的环境中，有效地保护了管帽和电路板。
器件测试夹具及其装置