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[发明专利]导光元件和应用该导光元件的光源装置-CN201510936961.8有效
发明人：陈蔚轩;杨凯钧;钟元振 -专利权人：瑞仪光电股份有限公司
申请日： 2015-12-15 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： F21V8/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种导光元件和应用该导光元件的光源装置。该导光元件包括主体。主体具有上光学表面、下光学表面以及剖面锥状镂空部。下光学表面与上光学表面相对。剖面锥状镂空部位于下光学表面并且用于接收外部光线。上光学表面和下光学表面中的至少一者具有第一微结构图案，第一微结构图案包括多个高密度区域和多个低密度区域，高密度区域和低密度区域交替设置，并且高密度区域的微结构的密度大于低密度区域的微结构的密度。光源装置包括前述的导光元件以及光源。光源用于设置为通过剖面锥状镂空部来将光线发射到导光元件的主体内。
元件应用光源装置

[发明专利]一种非接触光学元件中心厚度测量装置及测量方法-CN201510962259.9在审
发明人：刘钰;苗亮;张文龙;马冬梅;金春水 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种非接触光学元件中心厚度测量装置及测量方法，涉及光学测量领域，解决了现有测量方法存在的误差大、测量过程复杂的问题。该方法为：在被测光学元件上面及下面均放置一块光学平板，将两块光学平板与被测光学元件调平行，利用镜面定位仪测量上光学平板下表面与下光学平板上表面之间的距离d1，然后将需要测量的光学元件放置在上光学平板与下光学平板之间，测量上光学平板下表面与被测光学元件上表面中心的距离d2以及下光学平板上表面与被测光学元件下表面中心的距离d3，被测光学元件的中心厚度d即为d＝d1-d2-d3。本发明可在无需知道被测光学元件材料折射率情况下就能对被测光学元件中心厚度进行非接触测量，具有快速、简单、精度高等优点。
一种接触光学元件中心厚度测量装置测量方法

[发明专利]基于无源光学的数据中心网络-CN201580074467.3有效
发明人：加法尔·埃里米尔加尼;泰西尔·埃尔-戈拉希;阿里·哈马迪 -专利权人：利兹大学
申请日： 2015-11-26 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： H04J14/02 文献下载
摘要：一种数据中心网络，包括：第一光学端口群组，其用于连接到第一服务器群组中的相应服务器；第二光学端口群组，其用于连接到第二服务器群组中的相应服务器；第一下无源光学路由元件，其被配置成在第一光学端口群组与第一下光学通信路径之间路由光学通信信号；第二下无源光学路由元件，其被配置成在第二光学端口群组与第二下光学通信路径之间路由光学通信信号；上无源光学路由元件，其被布置成：(i)在第一下光学通信路径与上光学通信路径之间路由光学通信，以及(ii)在第二下光学通信路径与上光学通信路径之间路由光学通信信号
基于无源光学数据中心网络

[发明专利]提高光学元件在纳秒三倍频激光辐照下损伤阈值的方法-CN201711061321.2在审
发明人：邓洪祥;袁晓东;李晓阳;郑万国;高欢欢 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2017-11-01 - 公布日： 2018-04-03 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明提供了一种提高光学元件在纳秒三倍频激光辐照下损伤阈值的方法，属于激光材料技术领域。本发明提供的方法通过降低光学元件至某一最佳温度，使得在该温度下光学元件的损伤阈值最大，同时结合氢氟酸化学刻蚀技术，最终实现了光学元件损伤阈值的有效提升。该方法有效提高了光学元件在纳秒三倍频激光辐照下光学元件损伤阈值，对于解决如何提高光学元件的抗激光损伤能力这一难题有着重要意义。
提高光学元件纳秒三倍频激光辐照损伤阈值方法

[发明专利]平视显示器以及搭载了平视显示器的移动体-CN201980027272.1有效
发明人：葛原聪;冈山裕昭 -专利权人：松下知识产权经营株式会社
申请日： 2019-02-26 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：显示虚像(I)的平视显示器(100)具有显示设备(110)和投射光学系统(140)，投射光学系统(140)在从图像起的光路上依次配置第1光学元件(123)和第2光学元件(125)，在将相当于虚像的上端的光路设为上光线(Lu)，将相当于下端的光路设为下光线(L1)，并将发散作用设为负，将收敛作用设为正时，第1光学元件和第2光学元件满足P_u1‑P_l1＜0及P_u2‑P_l2＞0的条件式(P_u1为第1光学元件作用于上光线的局部光焦度，P_l1为第1光学元件作用于下光线的局部光焦度，P_u2为第2光学元件作用于上光线的局部光焦度，P_l2为第2光学元件作用于下光线的局部光焦度)。
平视显示器以及搭载移动

[发明专利]屏下光学系统、衍射光学元件的设计方法及电子设备-CN201811081542.0有效
发明人：朱亮;杨鹏;许星 -专利权人：深圳奥比中光科技有限公司
申请日： 2018-09-17 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G02B27/42 文献下载
摘要：本发明适用于电子技术领域，提供了一种屏下光学系统、衍射光学元件的设计方法及电子设备，屏下光学系统包括透明显示屏和光发射模组，透明显示屏包括多个用于显示的周期性排列的像素单元，光发射模组包括光源以及衍射光学元件，用于透过所述透明显示屏向外发射图案化光束，衍射光学元件被配置成以接收来自光源的入射光束后投射出第一衍射光束，第一衍射光束入射到透明显示屏后被再次衍射并向外投射出所述图案化光束。本发明通过对光发射模组的光学衍射元件进行设计，使来自光源的入射光束经衍射光学元件和显示屏的两次衍射后得到预设图案化光束，以较低的成本和简单的方式提高了屏下光学系统的成像质量和效果。
光学系统衍射光学元件设计方法电子设备

[发明专利]光学非球面元件的变形加工方法-CN201510131415.7有效
发明人：代雷;陈华男;闫丰;谷勇强;隋永新;杨怀江 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-03-25 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： B24B13/00 文献下载
摘要：光学非球面元件的变形加工方法，涉及光学加工领域，解决了现有光学非球面元件加工方法存在的加工时间长、成本高的问题。本发明针对所要加工的光学非球面元件设计一种特制的真空工装，使用真空装卡的方式，在真空装卡状态下光学非球面元件表面发生一定的形变，在此状态下采用球面光学元件的加工方式进行加工，具体为铣磨成型、精磨和抛光，加工完毕后取下真空工装，在非装卡状态下光学非球面元件的面形误差满足工艺设计要求。通过变形装卡实现光学非球面元件表面的加工，使用球面光学元件加工方式，针对局部光圈进行修正，有效地提高了光学非球面元件表面的加工效率，极大地缩短了加工时间，降低了加工成本，提高了加工精度。
光学球面元件变形加工方法

[发明专利]高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置和测试方法-CN201510021672.5有效
发明人：齐红基;王虎;崔岩岩;胡国行;王斌;刘有臣;易葵 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2015-01-16 - 公布日： 2017-10-20 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种高温环境下光学元件激光损伤阈值测试装置和测试方法，其特点是，在传统的光学元件抗激光损伤阈值测试光路的测试平台上固定特殊设计的高温箱，被测光学元件样品置于高温箱内部，高温箱通过加热板及温度控制系统为被测试光学样品提供特定的温度环境高温箱外设置另一个测试样品架，用于夹持另一个光学元件，该测试样品架可以根据测试样品的厚度在底板导槽内部前后移动，调节箱体外光斑测试样品架上光学元件样品表面位置与箱体内测试样品支撑架上光学元件样品的表面位置处于同一平面内本发明具有高温环境下测试光学元件损伤阈值的能力，实现了高温条件下箱体内光学元件表面光斑尺寸的准确测试，获得高温环境下光学元件的抗激光损伤阈值。
高温环境光学元件激光损伤阈值测试装置方法

[发明专利]一种用于真空环境下的光学元件水冷装置-CN201510962471.5有效
发明人：周烽;王辉;郭本银;谢耀;王丽萍;金春水 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： H01S3/04 文献下载
摘要：一种用于真空环境下的光学元件水冷装置，属于真空环境下光学元件的热变形控制技术领域，涉及一种用于真空环境下的光学元件水冷装置。本发明能够解决真空环境下光学元件的散热问题，同时能够使光学元件更快的达到热平衡。
一种用于真空环境光学元件水冷装置

[发明专利]具光学指纹防伪感测功能的屏下光学指纹装置及手持装置-CN201880002092.3有效
发明人：王浩任;罗介暐;许志隆;李宗德 -专利权人：深圳市汇顶科技股份有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06V40/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种具光學指纹防伪感测功能的屏下光学指纹装置及手持装置。所述屏下光学指纹装置用以感测一特定对象的指纹并包括一光学输入装置；其中所述光学输入装置包括多个第一光感测元件，用以接收所述特定对象所反射的可见光，以及多个第二光感测元件，用以接收所述特定对象所反射或发出的不可见光，且不接收所述特定对象所反射的可见光；因此，所述光学输入装置通过的第二光感测元件所获得不可见光强弱，作为排除使用正确指纹的假手指来进行全屏手机操作的依据，有效提高光学指纹防伪功能。
光学指纹防伪功能装置手持

[发明专利]真空环境下光学元件损伤阈值的测量装置和测量方法-CN201710011135.1有效
发明人：晋云霞;孔钒宇;李大伟;赵元安;邵建达;张益彬;黄昊鹏;王勇禄;陈鹏;陈俊明;徐姣 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2017-01-06 - 公布日： 2018-10-02 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种真空环境下光学元件损伤阈值的测量装置和测量方法。采用等效光路法实现在真空环境中对光斑面积的准确测量和对测量过程中的光斑质量进行实时监测，确保对光学元件损伤阈值的准确测量。该装置可以在一次真空环境中实现对4片透、反射元件和衍射元件样品采用1‑on‑1、S‑on‑1、R‑on‑1和光栅扫描的方式进行损伤阈值测量，并能够对测试环境中的残余气体进行分析。且该设备能对测量过程进行自动控制并实现数据的自主采集，极大地提高了真空环境下光学元件的损伤测试效率。
真空环境光学元件损伤阈值测量装置测量方法

[发明专利]光学元件模块、电子元件模块及制造方法和电子信息设备-CN201010267728.2有效
发明人：矢野祐司;栗本秀行 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2010-08-27 - 公布日： 2011-04-06 - 主分类号： G02B7/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学元件模块、电子元件模块及制造方法和电子信息设备。提供根据本发明的光学元件模块，其中：多个光学元件被容纳在光屏蔽保持器内；金属光屏蔽板被至少插入在上光学元件的隔离物部和下光学元件的隔离物部的相应平坦表面之间；光屏蔽板包括在与光学元件的光学表面对应的位置处形成的开口
光学元件模块电子元件制造方法电子信息设备

[发明专利]光学元件模块、电子元件模块及其制造方法-CN200910204426.8有效
发明人：矢野祐司;横田浩;安川茂;长谷川正博;末武爱士 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2009-09-25 - 公布日： 2010-03-31 - 主分类号： G02B7/02 文献下载
摘要：本发明涉及光学元件晶片模块、光学元件模块、制造光学元件模块的方法、电子元件晶片模块、制造电子元件模块的方法、电子元件模块以及电子信息设备。根据本发明的光学元件模块包括层叠在其中的多个光学元件，每个光学元件包括：在其中央部分处的光学表面；以及在所述光学表面的外周侧上具有预定厚度的隔离物部，其中粘合剂被定位在所述隔离物部的更外的外周侧上，并且上光学元件和下光学元件彼此粘附使得粘合剂的内部和外部可通过粘合剂的通气部而可通气
光学元件模块电子元件及其制造方法

[发明专利]一种笼式系统定位装置-CN201710721605.3在审
发明人：张蓓;刘雨;闫鹏 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2017-08-22 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：定位系统是由若干个卡位环组成，卡位环能够实现笼式系统中的光学元件的快速定位，同时能够实现对各光学元件原始位置的记忆和快速恢复。本发明的两种设计方案分别能够用于笼式系统搭建前和系统搭建完成后在不拆卸其他的光学元件固定架的两种情况下光学元件的快速定位。
一种系统定位装置

[发明专利]在线测量连续激光作用下光学元件表面温升的装置及方法-CN201810819131.0有效
发明人：赵元安;彭丽萍;刘晓凤;李大伟;李成;彭小聪;贺婷;邵建达 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2018-07-24 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：一种在线测量连续激光作用下光学元件表面温升的装置包括：由连续激光器、可供样品放置的样品台、第一固定安装式红外热像仪和第一计算机构成的测量连续激光作用下光学元件表面精确温升装置，由固体表面热电偶、可供样品放置的高温恒温加热台本发明为连续激光系统中光学元件表面温升的直接测量提供参考，在测量之前先对固定安装式红外热像仪的等效辐射率系数进行标定。
在线测量连续激光作用光学元件表面装置方法

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