[发明专利]质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法在审
申请号: | 202310656854.4 | 申请日: | 2012-12-31 |
公开(公告)号: | CN116864367A | 公开(公告)日: | 2023-10-10 |
发明(设计)人: | 安德鲁·J·巴特费伊-萨博;克里斯多佛·D·布朗;迈克尔·乔宾;凯文·J·诺普;叶夫根尼·克雷洛夫;斯科特·米勒 | 申请(专利权)人: | 九零八图案公司 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/24 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 张瑞;杨明钊 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本申请公开了质谱仪和使用质谱仪测量关于样品的信息的方法。质谱仪包括离子源、离子阱、离子检测器和气压调节系统,其中,在运行质谱仪期间,气压调节系统经配置在离子源、离子阱和离子检测器中的至少两个中维持在100mTorr与100Torr之间的气压,并且离子检测器经配置根据由离子源生成的离子的质荷比检测离子。 | ||
搜索关键词: | 质谱仪 使用 测量 关于 样品 信息 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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