专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种多级碰撞室及具有其的质谱仪-CN202311214232.2在审
  • 张小华;朱敏杰;查卓越 - 安益谱(苏州)医疗科技有限公司
  • 2023-09-20 - 2023-10-27 - H01J49/00
  • 本发明公开了一种多级碰撞室及具有其的质谱仪,碰撞室包括主腔室和次级腔室,次级腔室设置在主腔室的前端,次级腔室的内部压强小于主腔室的内部压强;次级腔室的前端设有第三离子透镜,主腔室前、后两端分别设有第一离子透镜、第二离子透镜,所述第一离子透镜、第二离子透镜、第三离子透镜上的中间位置分别设有第一通孔、第二通孔和第三通孔;主腔室的内部设有多个沿其轴心线方向设置的第一电极杆,第一电极杆设置在第一离子透镜和第二离子透镜之间,次级腔室的内部设有多个沿其轴心线方向设置的第二电极杆,第二电极杆设置在第一离子透镜和第三离子透镜之间。本发明能够提高进入主腔室的离子数量、增强质谱仪检测物质的信号强度。
  • 一种多级碰撞具有质谱仪
  • [发明专利]台式飞行时间质谱仪-CN201980036551.4有效
  • 露丝·瓦姆斯利;迈克尔·威尔逊;彼得·卡尼;理查德·斯雷法尔;马修·亨德森;保罗·麦基弗 - 英国质谱公司
  • 2019-05-31 - 2023-10-27 - H01J49/00
  • 一种质谱仪包含被布置成评估所述质谱仪的操作状态的控制系统。当检测到故障时,所述控制系统将所述故障指派到多个类别中的一个,所述多个类别包含可由所述质谱仪尝试自动矫正的第一故障类别、可由用户尝试矫正的第二故障类别,以及仅可由维修工程师尝试矫正的第三故障类别。当故障指派到所述第一故障类别时,所述控制系统起始自动矫正所述故障的尝试。当故障指派到所述第二故障类别时,所述控制系统致使向所述用户显示关于所述故障的信息,所述信息包含指示所述故障的数据,以及指示待由所述用户采取以尝试矫正所述故障的一个或多个步骤的数据(2000)。当故障指派到所述第三故障类别时,所述控制系统致使向所述用户显示关于所述故障的信息,所述信息包含指示所述故障的数据,以及所述用户应呼叫维修工程师的指示。
  • 台式飞行时间质谱仪
  • [发明专利]飞行时间质谱分析-CN202310310353.0在审
  • B·哈格多恩;D·格林菲尔德;A·迪维维蒂;H·斯图尔特 - 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
  • 2023-03-28 - 2023-10-17 - H01J49/00
  • 一种分析由离子分析仪生成的数据的方法,包括(i)接收由离子分析仪生成的数据片段,其中该数据片段包括与第一到达时间范围相关联的数据,以及(ii)对该数据片段应用滤波器,以产生该数据片段的经滤波版本。与该滤波器相关联的宽度被配置为取决于该离子分析仪针对该第一到达时间范围内的到达时间的预期离子到达时间分布的宽度。该方法还包括(iii)标识该数据片段的该经滤波版本中的一个或多个离子峰;并且然后(iv)确定该一个或多个所标识的离子峰中的每个离子峰的一个或多个特性。
  • 飞行时间谱分析
  • [发明专利]质谱仪校准-CN202280015786.7在审
  • N·布洛姆菲尔德 - DH科技发展私人贸易有限公司
  • 2022-01-18 - 2023-10-17 - H01J49/00
  • 一方面,提供了用于校准混合质谱仪的系统和方法。校准可以包括例如跨应用于每个参考标准的多个传输宽度和扫描速度执行的准确质量校准和标称质量校准,理想地每个参考标准表示不同的m/z,以产生与所评估的参考标准的m/z值处的每个传输宽度和扫描速度对对应的校正因子的矩阵。可以应用多参数插值来识别要用于后续分析传输宽度和扫描速度对的校正因子,该后续分析传输宽度和扫描速度与用于产生校正因子的所述多个传输宽度和扫描速度不同。
  • 质谱仪校准
  • [发明专利]同位素质谱法-CN201980054472.6有效
  • J·M·埃勒;S·C·牛鲍威;M·J·斯威多斯基;J·戈利普-拉明 - 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司;加利福尼亚技术学院
  • 2019-08-13 - 2023-10-03 - H01J49/00
  • 提供了一种用于确定分子的同位素概况的方法。所述同位素概况指示所述分子的同位素含量。所述方法包含在质量窗口中对所述分子的离子进行质量选择,所述质量窗口不包括单同位素分子离子的质量,且包括所述单同位素分子离子的至少一个同位素变体的质量。所述方法包含将质量选择的离子片段化成片段离子,对一个或多个所述片段离子执行质量分析以产生质谱,以及确定所述分子的同位素概况,所述同位素概况包含至少一个数据值。根据所述质谱中多个峰的强度来计算片段离子的每个数据值。提供了一种计算机程序。提供了一种质谱系统。提供了一种用于鉴别样品的方法。
  • 同位素质
  • [发明专利]质谱图采集方法及系统、质谱仪及电子设备-CN202310801601.1在审
  • 吴诗瑶;林志敏;付青波;王子猷;李细花 - 中元汇吉生物技术股份有限公司
  • 2023-06-30 - 2023-09-29 - H01J49/00
  • 本申请公开了一种质谱图采集方法及系统、质谱仪及电子设备。该方法包括:对质谱仪采集参数进行初始化设置,设置采集次数阈值C和累加次数阈值N;质谱仪采集参数包括:采集次数c、累加次数n、激光强度a、激光位点停留次数s;在初始化设置的质谱仪采集参数下,进行质谱图采集;判断采集的质谱图是否符合筛选评估要求:若符合筛选评估要求,则令c增加1,n增加1,再次进行质谱图采集;否则,令c增加1,n不变,再次进行质谱图采集;依次重复执行上述步骤,并根据c与C的大小、和/或,n与N大小,确定是否结束质谱图采集。通过谱图累加逻辑,可以根据实际应用自定义谱图筛选评估要求,筛选出最符合预期的谱图,提高谱图质量。
  • 质谱图采集方法系统质谱仪电子设备
  • [发明专利]时序同步方法、装置、设备及存储介质-CN202310773078.6在审
  • 唐青成;林志敏 - 中元汇吉生物技术股份有限公司
  • 2023-06-27 - 2023-09-29 - H01J49/00
  • 本发明涉及离子质谱技术领域,尤其涉及一种时序同步方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:在接收到开始扫描指令时,获取扫描所需的扫描参数;根据扫描参数获得扫描片段参数表,并根据扫描片段参数表确定各扫描片段对应的扫描时间和采集时间;基于扫描时间对目标离子进行扫描,并同时基于采集时间对目标离子进行采集,以使扫描时序与采集时序同步。由于本发明是以扫描片段为单位,根据各扫描片段对应的扫描时间和采集时间分别进行扫描和采集,相比于现有的扫描时序和采集时序同步性较差,本发明提升了扫描时序与采集时序的同步性,进而提升了系统的稳定性。
  • 时序同步方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种空间质谱计测量及校准装置-CN202211671588.4有效
  • 葛金国;张虎忠;姚鹏;马卓娅;陈会颖 - 兰州空间技术物理研究所
  • 2022-12-25 - 2023-09-29 - H01J49/00
  • 本申请涉及真空计量技术领域,具体而言,涉及一种空间质谱计测量及校准装置,包括高压气瓶、混合腔室以及超高真空腔室,其中:高压气瓶为多个,多个高压气瓶均与混合腔室连接;超高真空腔室包括依次连接的第一超高真空腔室、第二超高真空腔室以及第三超高真空腔室;混合腔室通过微调阀与第二超高真空腔室连通,通过截止阀与第一超高真空腔室连通;第一超高真空腔室的进口设置有脉冲弹簧阀和电离电极;第二超高真空腔室的进口设置有锥形孔,第二超高真空腔室的内部设置有脉冲电极;第三超高真空腔室内部设置有离子检测器。本申请不仅可以实现单一气体平衡态的校准,还可以模拟空间复杂气体的环境,实现分子束流、离子束流的测量与校准。
  • 一种间质测量校准装置
  • [发明专利]一种光反应探测方法-CN201811016566.8有效
  • 吕红萍;索奕双;郭强;请求不公布姓名 - 金华职业技术学院
  • 2018-08-23 - 2023-09-26 - H01J49/00
  • 本发明涉及光化学领域,一种光反应探测方法,光反应探测装置包括电喷雾器、真空腔、分流器、离子向导、离子聚束器、质量过滤器、离子阱、激光器、探测器、光谱仪和真空泵组,采用气液共振方法来雾化并喷出样品溶液,并结合高压电场使得液滴电离,进样速度快,单位时间内能够形成大量体积均匀的离子,能够快速产生大量离子,采用具有多个方向光路的离子阱,采用特殊的离子囚禁方法,在保持离子囚禁效率的基础上增加了多个方向的光路,从而能够从多个方向对离子进行光激发,并能从多方向收集光反应生成的光信息。
  • 一种光反应探测方法
  • [发明专利]串联质量分析器-CN202310796866.7在审
  • 唐飞;赵伟泽;艾嘉文;黄必正 - 清华大学
  • 2023-06-30 - 2023-09-22 - H01J49/00
  • 本发明公开了一种串联质量分析器。其中,串联质量分析器包括腔体、离子漏斗、四极杆组件、离子阱组件和检测组件,所述腔体具有真空腔室,所述腔体沿设定方向的一端设有与所述真空腔室连通的进样口;所述离子漏斗与所述进样口对中设置,所述进样口构造成可将待测离子注入所述离子漏斗,所述离子漏斗、所述四极杆组件、所述离子阱组件沿所述设定方向远离所述进样口依次对中布置在所述真空腔室内;所述检测组件设于所述真空腔室内且用于对从所述离子阱组件出射的离子进行检测。本发明串联质量分析器分析稳定性好,检测灵敏度较高。
  • 串联质量分析器

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