[发明专利]一种芯片功能的验证系统及方法在审
| 申请号： | 202310310713.7 | 申请日： | 2023-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN116593859A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | 雷黎丽;成刚;李齐 | 申请（专利权）人： | 北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京一品慧诚知识产权代理有限公司 11762 | 代理人： | 杨文 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济技术*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片功能验证技术领域，公开了一种芯片功能的验证系统及方法，包括：被测芯片、可调电路模块、用于监控所述被测芯片功能运行状态的功能监控电路模块及为所述被测芯片、所述可调电路模块供电的电源系统模块，所述电源系统模块分别与所述可调电路模块、所述被测芯片相连，所述被测芯片与可调电路模块相连，所述功能监控电路模块与可调电路模块连接以获取所述被测芯片搭载可调电路模块下的功能运行状态。通过本发明提供的芯片功能验证系统为单个芯片功能验证提供多种负载进行验证，保证芯片功能的验证的充分性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 功能 验证 系统 方法 | ||
【主权项】：
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