[实用新型]继电器控制装置和半导体测试设备有效
| 申请号： | 202220465141.0 | 申请日： | 2022-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN217641131U | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | 孙海洋;钟锋浩;耿霄雄;龚飞佳 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01H47/02 | 分类号： | H01H47/02 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 舒淼 |
| 地址： | 310000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种继电器控制装置和半导体测试设备，包括主机箱及与其连接的多个测试单元；测试单元包括开关模块、电源模块和并行连接的多个继电器；多个继电器通过开关模块与电源模块连接；主机箱分别与每个继电器连接。电源模块用于当开关模块接通时向每个继电器供电，当开关模块断开时停止供电；主机箱用于当每个继电器处于供电状态时，向每个继电器输出对应的控制信号，以控制每个继电器接通或断开。该装置通过每个测试单元中的开关模块控制对应的电源模块，实现对该测试单元中多个继电器的使能控制，不需要使用锁存芯片，从而可以避免因电磁干扰导致的锁存芯片误使能，进而避免由此产生的继电器误动作，提升了半导体测试的抗干扰能力。 | ||
| 搜索关键词： | 继电器 控制 装置 半导体 测试 设备 | ||
【主权项】：
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