[发明专利]高密度封装内部倒装焊及填充料结构等效模型构建方法在审
申请号: | 202211335784.4 | 申请日: | 2022-10-28 |
公开(公告)号: | CN115688519A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 柯燎亮;崔新雨;沈飞;朱瑞昌;葛一铭 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G06F30/23 | 分类号: | G06F30/23;G06F30/39 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 潘俊达 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开高密度封装内部倒装焊及填充料结构等效模型构建方法,包括:选择合适的电子封装器件,获取器件结构和材料参数;建立电子封装器件的预简化模型;计算模型简化部分等效参数;确定电子器件最终简化模型。本发明通过选取某一电子元器件建立相应有限元模型,对有限元建模中倒装焊及底填胶结构进行简化;建立预简化模型,将部分焊球层和底填胶简化为均匀层,保留外圈几层焊球细致结构;通过建立代表性体积单元,计算得到均匀化层的材料参数;通过仿真计算外层焊球圈数对焊球层危险点应力的影响,确定保留外圈二层焊球细致结构可以获得更加精确的结果,得到高密度封装中倒装焊及底填胶的最终简化模型。 | ||
搜索关键词: | 高密度 封装 内部 倒装 填充 结构 等效 模型 构建 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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