[发明专利]一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法有效
| 申请号： | 202110912294.5 | 申请日： | 2021-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN113607761B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王志立;陈恒 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01N23/041 | 分类号： | G01N23/041;A61B6/00 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人： | 陆丽莉;何梅生 |
| 地址： | 230009 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光栅干涉仪的X射线多模式成像新方法，是应用于沿Z轴向上依次设置有X射线源、相位光栅、吸收分析光栅、探测器所构成的X射线光栅干涉仪中，且在沿Y轴向上中心对齐；X射线源发射的X射线入射到相位光栅被空间调制，出射X射线穿透被成像物体、吸收分析光栅后入射到探测器。空间调制X射线的强度分布被探测器测量并记录；利用提出的信号计算公式处理探测器记录的光强分布数据，能够获取被成像物体的吸收信号、折射信号和暗场信号。本发明能够解决吸收分析光栅的步进位置不满足等间距要求时，被成像物体的吸收信号、折射信号、暗场信号的定量、准确提取问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光栅 干涉仪 射线 模式 成像 新方法 | ||
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- 基于横向错位光栅的三维锥束计算机层析成像方法及装置-201810550520.8
- 傅健;胡棪君 - 北京航空航天大学
- 2018-05-31 - 2021-07-16 - G01N23/041
- 本发明公开了一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置，该方法包括：以横向错位吸收光栅布置Talbot‑Lau三维锥束层析成像结构；以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像序列；以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像序列；利用吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度图像序列进行图像重建获得物体三种衬度CT切片图像。本发明无需对吸收光栅进行步进，以传统基于X射线衰减的CT扫描方法即可获得三种衬度CT切片图像，大幅减小了成像时间，降低了成像剂量，提高了系统成像效率和稳定性。
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