[发明专利]一种在显微镜中原位变形微纳样品的减震装置及方法在审
申请号: | 202110589564.3 | 申请日: | 2021-05-28 |
公开(公告)号: | CN113324836A | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 王立华;李东伟;马炎;韩晓东;邓青松 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01N3/08 | 分类号: | G01N3/08;G01N3/04;G01N23/04;G01N23/20 |
代理公司: | 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 | 代理人: | 张雪 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开一种在显微镜中原位变形微纳样品的减震装置及方法,属于显微镜配件及微纳米材料力学性能测量研究领域。包括支撑部、动力部、减震部和载网四部分。纳米材料悬置于两片载网之间,通过加热弯曲的双金属片拉伸或压缩载网,使纳米材料达到变形效果。本发明通过减震装置解决了双金属片技术原位拉伸纳米材料过程中力学稳定性差,样品容易在转移过程中断裂的问题,提高了样品制备的成功率。在实现对单根/多根纳米线轴向拉伸、压缩,以及其它微纳尺度样品变形的同时,可同时观察材料在变形过程中的结构演变。 | ||
搜索关键词: | 一种 显微镜 原位 变形 样品 减震 装置 方法 | ||
【主权项】:
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