[发明专利]温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110573695.2 | 申请日： | 2021-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN113340468A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 胡月明 | 申请（专利权）人： | 上海申矽凌微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 201108 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法，包括：标准温度发生器，产生温度传感器精度测试所需的温度；PC机，与标准温度发生器和被测温度传感器芯片连接；上位机软件：控制标准温度发生器，读取温度传感器芯片温度，自动完成温度传感器芯片全温度范围内精度测试。本发明提供的自动化测试的方法可以缩短温度芯片的全温测试时间，减少测试人员投入，避免测试中的人为主观影响和干扰，较大地提高了测试效率和测试结果可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 温度传感器 芯片 范围内 精度 自动化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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