[发明专利]温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统及方法

权利要求书

1.一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统，其特征在于，包括：

标准温度发生器，产生温度传感器精度测试所需的温度；

PC机，与标准温度发生器和被测温度传感器芯片连接；

上位机软件：控制标准温度发生器，读取温度传感器芯片温度，自动完成温度传感器芯片全温度范围内精度测试。

2.根据权利要求1所说的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试系统，其特征在于：所述标准温度发生器采用RS232、RS485、USB、Ethernet通讯接口中的任意一种与PC机连接。

3.根据权利要求1所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试系统，其特征在于：所述PC机采用USB、RS232、Bluetooth通讯接口中的任意一种与被测温度传感器芯片连接。

4.根据权利要求1所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试系统，其特征在于：所述上位机软件实时检测线缆脱落及读数异常情况，一旦检测到与标准温度发生器的电缆脱落则弹窗告知用户检查线缆，或检测到待测芯片温度读值异常时弹窗告知用户。

5.根据权利要求1所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试系统，其特征在于：所述上位机软件在全部温度点测量测试结束后，生成全温温度曲线图和数据表格。

6.一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试方法，采用权利要求1所述的一种温度传感器芯片全温范围内精度的自动化测试系统，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1：按照用户设定的待测温度点依次设置标准温度发生器的温度，设定后，实时读取标准温度发生器的实际温度；

步骤S2：当标准温度发生器的实际温度与设定温度的误差在1分钟内都满足小于0.1℃时，上位机软件读取待测芯片的温度值并记录；

步骤S3：完成某温度点的测量任务后，上位机软件自动监测是否完成所有温度点的测量任务，若否，则设置标准温度发生器为下一个待测温度点，重复步骤S1～步骤S2；若是，则整理数据，生成全温温度曲线图和数据表格。

7.根据权利要求6所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试方法，其特征在于：所述步骤S3中，在标准温度发生器从某温度点调整至下一温度点过程中，包括快速调温阶段和微调阶段，先进入到快速调温阶段，当靠近下一温度点时再进入微调阶段。

8.根据权利要求7所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试方法，其特征在于：所述微调阶段采用PID算法控制。

9.根据权利要求7所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试方法，其特征在于：所述快速调温阶段中，当温度达到下一温度点±1.5℃范围内时，进入微调阶段。

10.根据权利要求6所述的一种温度传感器芯片全温度范围内精度的自动化测试方法，其特征在于：所述步骤S3中，当全温温度曲线图和数据表格生成后，标准温度发生器自动停止工作。