[发明专利]一种硅基晶圆的表面处理装置及处理方法在审

专利信息
申请号: 202110234628.8 申请日: 2021-03-03
公开(公告)号: CN112820676A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 黄鹤;杨霞 申请(专利权)人: 昆山赛米瑟泊电子科技有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/268
代理公司: 苏州拓源科佳知识产权代理事务所(普通合伙) 32533 代理人: 赵艾亮
地址: 215316 江苏省苏州市昆山*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种硅基晶圆的表面处理装置及处理方法,包括密闭腔体和连通密闭腔体内部的第一管路以及第二管路,所述密闭腔体还连接有第三管路,所述密闭腔体内设有用于放置硅基晶圆的反应台,所述密闭腔体上设有对应所述反应台的高透光玻璃窗,所述密闭腔体的外部具有能量光源;所述第一管路连通氮气,所述第二管路连通惰性气体,所述第三管路外接真空泵,所述第一管路上设有第一控制阀,所述第二管路上设有第二控制阀,所述第三管路上设有第三控制阀;所述密闭腔体还外接有用于监测所述密闭腔体内部气压的压力计。本发明通过设置密闭腔体并在密闭腔体内充入反应气体,为硅基晶圆表面处理提供反应环境,保证硅基晶圆的表面处理的稳定性,提高硅基晶圆表面处理工艺效果。
搜索关键词: 一种 硅基晶圆 表面 处理 装置 方法
【主权项】:
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