[发明专利]一种硅基晶圆的表面处理装置及处理方法在审
申请号: | 202110234628.8 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN112820676A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 黄鹤;杨霞 | 申请(专利权)人: | 昆山赛米瑟泊电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/268 |
代理公司: | 苏州拓源科佳知识产权代理事务所(普通合伙) 32533 | 代理人: | 赵艾亮 |
地址: | 215316 江苏省苏州市昆山*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅基晶圆的表面处理装置及处理方法,包括密闭腔体和连通密闭腔体内部的第一管路以及第二管路,所述密闭腔体还连接有第三管路,所述密闭腔体内设有用于放置硅基晶圆的反应台,所述密闭腔体上设有对应所述反应台的高透光玻璃窗,所述密闭腔体的外部具有能量光源;所述第一管路连通氮气,所述第二管路连通惰性气体,所述第三管路外接真空泵,所述第一管路上设有第一控制阀,所述第二管路上设有第二控制阀,所述第三管路上设有第三控制阀;所述密闭腔体还外接有用于监测所述密闭腔体内部气压的压力计。本发明通过设置密闭腔体并在密闭腔体内充入反应气体,为硅基晶圆表面处理提供反应环境,保证硅基晶圆的表面处理的稳定性,提高硅基晶圆表面处理工艺效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅基晶圆 表面 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造