[发明专利]一种提高薄膜态材料非线性光学系数测量精度的方法有效
| 申请号： | 202110089386.8 | 申请日： | 2021-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN112903632B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 邵建达;陈美玲;胡国行;朱美萍;张恺馨;王尧;刘永江;左旭超 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高薄膜态材料非线性光学系数测量精度的方法，通过选用厚度超薄、非线性光学系数超低的材料作为薄膜元件的基底，并应用双臂Z扫描技术同时测量包含基底的薄膜器件和裸基底的非线性信号，由于基底的非线性响应很小甚至可以忽略，薄膜态材料的非线性信号在薄膜与基底的总信号中占有主导地位，由此提高Z扫描技术在薄膜态材料非线性光学系数测量过程中的测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 薄膜 材料 非线性 光学 系数 测量 精度 方法 | ||
【主权项】：
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