[发明专利]一种测量等离子体离子非广延参数的方法有效

专利信息
申请号: 202110059985.5 申请日: 2021-01-18
公开(公告)号: CN112888128B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 邱慧斌;肖东华;彭行坤;张显阳;朱宇晴;袁尤龙;蔡奇龙;常晋铭;邹雯旭;胡天一;李嘉恒;高玥;明智毅;王章天;刘三秋 申请(专利权)人: 南昌大学
主分类号: H05H1/00 分类号: H05H1/00
代理公司: 南昌青远专利代理事务所(普通合伙) 36123 代理人: 涂志刚
地址: 330000 江西省南*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明涉及一种测量等离子体离子非广延参数的方法,包括如下步骤:用非广延统计力学描述等离子体,求得描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式;收集待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据;利用求得的描述测地声模频率与等离子体离子声速之间关系的公式对收集到的待测等离子体所在装置中的测地声模的频率和等离子体温度的测量数据进行线性拟合得到斜率值;根据求得的公式和得到的斜率值,并结合所测等离子体所在装置的安全因子,数值求解得到离子非广延参数。本发明填补了在非广延参数诊断中,电子非广延参数已可由非广延电单探针测得而对应的离子非广延参数还无法诊断的空白。
搜索关键词: 一种 测量 等离子体 离子 非广延 参数 方法
【主权项】:
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