[发明专利]具有自动化多步参考微调的存储器内建自测试在审
| 申请号： | 202080095944.5 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN115066728A | 公开（公告）日： | 2022-09-16 |
| 发明（设计）人： | 尹钟信;M·凯姆 | 申请（专利权）人： | 西门子工业软件有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02;G11C29/46;G11C29/12;G11C29/44;G11C11/16 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 景怀宇 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 存储设备可以在存储器读取操作期间使用参考微调来感测出所存储的数据，并且存储器内建自测试系统可以执行多步过程来设置用于存储设备的参考微调。存储器内建自测试系统可以设置与可用参考微调值的范围相对应的参考微调范围，然后在参考微调范围中选择其中一个参考微调值作为用于存储设备的参考微调。存储器内建自测试系统可通过提示使用参考微调范围相对于存储设备的读取特性的不同位置执行存储器读取操作，来设置参考微调范围，并且基于存储设备在存储器读取操作期间不能正确地感测出所存储的数据的失败事件而设置参考微调范围相对于存储设备的读取特性的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 自动化 参考 微调 存储器 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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