[发明专利]一种物体成分均匀性的测定装置和测定方法有效

专利信息
申请号: 202011372129.7 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN112557345B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 郭文平;关淙元;夏珉;李微;杨克成 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41;G01N21/01
代理公司: 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 代理人: 王世芳;曹葆青
地址: 430074 *** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种物体成分均匀性的测定装置,属于光学与晶体学领域,其包括激光源、扩束镜、波片、聚焦物镜、棱镜、载物台组件、位移平台、偏光显微镜、带通滤波片、物镜和滤光镜筒,扩束镜设置在激光光源的出射方向上,聚焦物镜设置在扩束镜出射光方向上,波片设置在扩束镜和聚焦物镜之间,棱镜设置在聚焦物镜出射光方向上,棱镜的底面用于设置待测样品,棱镜的顶面上悬置有偏光显微镜,聚焦物镜出射光对准棱镜的一个侧面,物镜镜头对准棱镜的另一个侧面,滤光镜筒设置在物镜的出射光方向上,滤光镜筒内设置有可调针孔和偏振片,在滤光镜筒和物镜之间设置有带通滤波片,待测样品设置在载物台组件上。本发明装置能够精确、简单地判定样品的成分。
搜索关键词: 一种 物体 成分 均匀 测定 装置 方法
【主权项】:
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