[发明专利]Nand Flash坏块检测方法及装置、存储介质、终端、烧录器有效
| 申请号： | 202011360152.4 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112382330B | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 陈文超 | 申请（专利权）人： | 厦门紫光展锐科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G11C29/32 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军 |
| 地址： | 361015 福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种Nand Flash坏块检测方法及装置、存储介质、终端、烧录器，Nand Flash坏块检测方法包括：在启动对Nand Flash的软件烧录后，接收来自烧录器的扫描命令；响应于所述扫描命令对所述Nand Flash进行扫描，以获得所述Nand Flash的坏块信息；将所述坏块信息返回至所述烧录器，以使所述烧录器根据所述坏块信息确定是否继续烧录。本发明技术方案能够简单快速地获取Nand Flash坏块信息。 | ||
| 搜索关键词： | nand flash 检测 方法 装置 存储 介质 终端 烧录器 | ||
【主权项】：
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