[发明专利]一种集成电路测试数据分析方法及系统在审
| 申请号： | 202011328711.3 | 申请日： | 2020-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN112346920A | 公开（公告）日： | 2021-02-09 |
| 发明（设计）人： | 苏广峰;姜伟伟 | 申请（专利权）人： | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人： | 周会 |
| 地址： | 225000 江苏省扬州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路测试数据分析方法及系统，该方法包括：测试机解析被测试的第一集成电路的第一测试数据，并发送给分析数据库；分析数据库接收、存储第一测试数据；分析设备从分析数据库中抓取第一测试数据，计算第一集成电路的性能参数；分析设备从分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准性能参数，基准测试数据为第一测试数据之前的m批测试数据，m批测试数据依次相邻，且m批测试数据中有一批测试数据与第一测试数据相邻，m为正整数；分析设备根据被测试的第一集成电路的性能参数、基准性能参数确定第一集成电路是否为良品。本申请实现了对关键指标(良率，BIN别等)的动态分析，提高了芯片测试的准确度和效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试数据 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
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