[发明专利]一种闪存浅擦除的测试方法、系统、设备及介质有效
| 申请号： | 202011264141.6 | 申请日： | 2020-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN112466385B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 李栋 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 刘小峰;李红萧 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种闪存浅擦除的测试方法、系统、设备和存储介质，方法包括：获取一组磨损次数为第一数量的块，对块进行一次普通擦除操作，记录擦除时间和出错的位的数量；按照块数据写入量将块分成多个第一小组，并按照数据保持时间将每个第一小组分成多个第二小组；对每个第二小组进行预定次数的浅擦除操作，并记录擦除时间和出错的位的数量；以及将磨损次数增加为第二数量，继续上述步骤直到磨损次数达到最大值。本发明实施例是一种通用的浅擦除的测试方法，通过本发明实施例可以得到不同条件及整个闪存生命周期中浅擦除对Nand颗粒的影响，并根据测试结果在不同的使用场景中，提前给出应对方法，减少数据出错的可能性，提高系统效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 擦除 测试 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
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