[发明专利]测试及修复装置以及测试及修复方法在审
| 申请号： | 202011229184.0 | 申请日： | 2020-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN112397135A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 张磊;陈世兴;颜振亮;林于弼;周少东 | 申请（专利权）人： | 润昇系统测试(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/44 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何冲 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区福海街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种测试及修复装置以及测试及修复方法。测试及修复装置包括多个测试板、至少一修复板以及主机。多个测试板分别搭载多个待测内存模块。所述多个待测内存模块分别包括多个待测内存芯片。主机通过所述多个测试板对所述多个待测内存芯片进行测试。将待修复内存模块或待修复内存芯片移动至修复板，并且通过至少一修复板对待修复内存芯片进行修复。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 修复 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于润昇系统测试(深圳)有限公司，未经润昇系统测试(深圳)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011229184.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
