[发明专利]一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备在审
| 申请号： | 202011221551.2 | 申请日： | 2020-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN114441916A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 贺晓光;芦子哲;洪佳婷;柳春美;严围 | 申请（专利权）人： | 武汉国创科光电装备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 肖遥 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市经济*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请适用于发光二极管技术领域，提供了一种发光器件的寿命测试方法、寿命测试装置及终端设备，所述方法包括：获取驱动信号值和参考亮度，所述参考亮度为所述发光器件在驱动信号下的亮度，所述驱动信号值小于预设的信号阈值；向所述发光器件输出测试信号，并将所述测试信号的大小从所述驱动信号值逐步调高至预设的标准信号值；通过所述采集装置采集所述发光器件发射的光信号，获得与所述光信号对应的实时光电流；根据所述实时光电流和所述参考亮度得到所述发光器件的实时亮度，以确定所述发光器件的寿命。通过上述方法，可以准确测试出发光不均匀的发光器件的寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 器件 寿命 测试 方法 装置 终端设备 | ||
【主权项】：
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