[发明专利]芯片失效点定位方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202011163560.0 | 申请日： | 2020-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN112379242B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 曹竟元;符超;张佳佳;邓梦;万今明 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 谭承世 |
| 地址： | 519000*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种芯片失效点定位方法、装置及系统，芯片失效点定位方法包括获取芯片通电后发射的光信号；对光信号进行分离，输出多个特定波段的光辐射图像；将多个特定波段的光辐射图像与预置良品芯片结构形貌图比较以确定芯片失效点的波长信息。本申请可以实现对半导体芯片失效点波长的探测分析，在分析过程不会对芯片引入新的失效，提高了对半导体芯片失效分析的效率及准确性，可广泛适用于芯片设计、生产的测试环节，售后问题反馈等环节。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 失效 定位 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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