[发明专利]芯片故障诊断方法、装置、可读存储介质及电子设备有效
申请号: | 202011143874.4 | 申请日: | 2020-10-22 |
公开(公告)号: | CN112256507B | 公开(公告)日: | 2023-10-27 |
发明(设计)人: | 张斌 | 申请(专利权)人: | 地平线(上海)人工智能技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/263 |
代理公司: | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 | 代理人: | 陈晓瑜 |
地址: | 200120 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开提供了一种芯片故障诊断方法,包括:基于中断标志寄存器中标识中断状态的第一数据,确定所述中断标志寄存器的中断标志;基于所述中断标志,确定所述中断标志对应的芯片中断的故障状态。采用本公开提供的技术方案,能够及时的诊断出中断的故障,且能够及时对中断进行处理。 | ||
搜索关键词: | 芯片 故障诊断 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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