[发明专利]时变等离子体电子密度抖动频率的测量方法有效
| 申请号： | 202011032667.1 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN112153796B | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 谢曜聪;沈方芳;白博文;李小平;陈旭阳;刘彦明 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人： | 程晓霞;王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种时变等离子体电子密度抖动频率的测量方法，解决了现有测量方法无法单次测量获得电子密度抖动频率的问题。实现包括：发射线性调频信号得到时变等离子体的反射信号；计算回波的一维距离像，确认峰值扩展现象；通过抖动频率计算公式，计算出时变等离子体电子密度抖动频率。本发明还是一种时变等离子体电子密度抖动频率测量方法的用途，可用于计算等离子体电子密度抖动频率在时间及空间上的分布，以及再入航天器通信系统中的等离子体干扰补偿参数。本发明通过测量一维距离像中峰值扩展距离反算出电子密度抖动频率，得到了一种简便有效的抖动频率测量方法，为地面等离子体实验中的等离子体电子密度动态参数提供测量手段。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子体 电子密度 抖动 频率 测量方法 | ||
【主权项】：
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