[发明专利]一种三维结构的NAND铁电存储单元及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011027562.7 申请日: 2020-09-25
公开(公告)号: CN112164699B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 廖敏;戴思维;郇延伟;杨棋钧;刘兆通;周益春 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L27/1159 分类号: H01L27/1159;H01L27/11597
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 郑久兴
地址: 411100 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 一种三维结构的NAND铁电存储单元及其制备方法,其中,铁电存储单元包括:由内至外依次设置的氧化物绝缘层、沟道层、沟道缓冲层、铁电层和栅极缓冲层和栅极;沟道层和铁电层之间设置有沟道缓冲层;和/或,铁电层和栅极之间设置有栅极缓冲层。本发明的存储单元,缓冲层具有以下作用:1.可诱导铁电薄膜结晶生成铁电相;2.可减小统一退火结晶时沟道层和铁电层不同结晶特性造成的不利影响,提高沉积薄膜的质量和均一性;3.缓冲层可以提高沟道层的界面性能,并减小漏电流,提高器件抗疲劳性能。故,缓冲层可整体提高三维结构中存储单元的存储性能和均一性,增大存储单元的存储窗口、提高存储单元的疲劳性能并提升多个晶体管存储性能的均一性。
搜索关键词: 一种 三维 结构 nand 存储 单元 及其 制备 方法
【主权项】:
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