[发明专利]一种相控阵多焦点测量的方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010941049.2 申请日: 2020-09-09
公开(公告)号: CN112034427B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 杨志明;黄继景;唐大伟;欧歌 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G01S7/02 分类号: G01S7/02;G01S7/41;G01S13/89
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 金俊姬
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种相控阵多焦点测量的方法、装置及存储介质,该方法包括:用最大的焦点间距对选定聚焦线进行多焦点遍历发射聚焦,进而根据检测目标对应的回波数据范围确定检测目标在选定聚焦线上对应的目标区域,再将选定聚焦线划分为多个连续区域,并用不同的焦点间距对不同连续区域同时进行多焦点发射聚焦,且目标区域所在的一个连续区域对应的焦点间距最小,这样能够使相控阵根据实际需要进行自适应调整焦点间距,进而有效的减少检测盲区、甚至去除检测盲区,实现提高纵向分辨率的技术效果、降低发射功率的技术效果、提高动态孔径发射效率。
搜索关键词: 一种 相控阵 焦点 测量 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
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