[发明专利]一种通用型存储器单粒子辐照试验平台及试验方法在审
| 申请号： | 202010614989.0 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN111798916A | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 闫辉;李磊;马琳丽;张晓敏;魏晓彤 | 申请（专利权）人： | 西安微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/50 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 朱海临 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种通用型存储器单粒子辐照试验平台及试验方法，试验平台包括存储器单粒子辐照试验板、控制计算机、供电电源和终端计算机；所述控制计算机通过串口与存储器单粒子辐照试验板相连，用以控制存储器单粒子辐照试验板在试验中的相关操作，并接收实时的试验信息数据；控制计算机与供电电源连接用于控制其开断，并实时监测电流情况；所述存储器单粒子辐照试验板包括母板和存储器子板，存储器子板上承载被测存储器，母板与存储器子板连接。多种类型的存储器单粒子辐照试验可在同一个试验平台上进行，操作简单快捷，与传统试验方式相比，极大的节省了试验成本，提高了试验效率，节约试验机时。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 通用型 存储器 粒子 辐照 试验 平台 方法 | ||
【主权项】：
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