[发明专利]一种基于大样法的松散沉积层密度的测量方法在审
| 申请号： | 202010565400.2 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN111522071A | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 耿涛;冯凡;杜辉;冯治汉;郭培虹 | 申请（专利权）人： | 中国地质调查局西安地质调查中心（西北地质科技创新中心） |
| 主分类号： | G01V7/06 | 分类号： | G01V7/06;G01N9/02 |
| 代理公司： | 北京易捷胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11613 | 代理人： | 齐胜杰;李会娟 |
| 地址： | 710054 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于大样法的松散沉积层密度的测量方法，包括：获取待研究的工作区不同类型松散沉积层的基本信息和分布区域及范围；根据不同类型松散沉积层的分布区域及范围大小，选择每种松散沉积层的采样数量及每个采样点的位置；根据每个采样点的位置信息，进行野外采样工作，获取六面体的采样坑及坑内所有物质；基于采样坑的六面体，测量六面体采样坑中用于进行体积计算时使用的边长信息、采样后得到的所有物质的重量；根据采样坑的边长信息及得到的所有物质的重量，基于预设公式，计算出该采样点处松散沉积层的密度。该方法不需对采样坑的几何形状作严格要求，避免了因采样坑体积计算不准确而引起的误差，使得测量的密度结果更真实和精确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 大样 松散 沉积 密度 测量方法 | ||
【主权项】：
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